Никитина, А. Г.
    Выявление особенностей локализации электронов на U{-}-центрах в полупроводниках методом термостимулированных токов [Текст] / А. Г. Никитина, В. В. Зуев // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 7. - С. 869-872 : ил. - Библиогр.: с. 872 (13 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
электроны -- локализация электронов -- термостимулированные токи -- ТСТ -- энергии -- корреляционная энергия -- положительная корреляционная энергия -- одноуровневые центры -- дефекты -- распознавание дефектов -- экспериментальные данные
Аннотация: Теоретически исследованы особенности термостимулированных токов в полупроводнике в присутствии U{-}-центров в сравнении с ситуациями, когда имеются дефекты с положительной корреляционной энергией или одноуровневые центры. Показано, что анализ нормированной на максимальное значение кривой термостимулированных токов по форме и по наличию или отсутствию смещения ее температурного максимума в зависимости от начального заполнения дает дополнительный необходимый признак для распознавания дефектов с различными характеристиками связи электронов на них. Полученные результаты могут быть использованы при анализе экспериментальных данных по термостимулированным токам, имеющих особенности, которые не получают объяснения в рамках часто эксплуатируемой модели одноуровневых центров.


Доп.точки доступа:
Зуев, В. В.