Магнитоэлектрическое управление доменными границами в пленке феррита-граната [Текст] / А. С. Логгинов [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 86, вып: вып. 2. - С. 124-127
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): ферриты-гранаты -- эпитаксиальные пленки -- электрическое поле -- доменные границы -- магнитные домены Аннотация: Обнаружен эффект смещения границ магнитных доменов под действием электрического поля в эпитаксиальных пленках ферритов-гранатов (кристаллографическая ориентация подложки (210) ). Смещение доменных границ изменялось на противоположное при смене полярности электрического напряжения и не зависело от направления намагниченности в домене. В качестве механизма наблюдаемого явления предложен неоднородный магнитоэлектрический эффект. Доп.точки доступа: Логгинов, А. С.; Мешков, Г. А.; Николаев, А. В.; Пятаков, А. П. |
Мешков, Г. Новые разработки в области зондовой литографии углеродных материалов [Текст] / Г. Мешков, О. Синицына, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 2. - С. 28-30 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 30 (6 назв. )
Рубрики: Техника Организация промышленного производства Кл.слова (ненормированные): углеродные наноструктуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовая литография -- локальное анодное окисление -- ЛАО Аннотация: Для успешного развития углеродной наноэлектроники требуется разработка прецизионных методов формирования углеродных наноструктур. Доп.точки доступа: Синицына, О.; Яминский, И. |
Дистанционное управление нанотехнологическим оборудование [Текст] / Г. Мешков [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 46-49. : ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 49 (3 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): СТМ -- сканирующие туннельные микроскопы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- зондовая интернет-микроскопия Аннотация: Сканирующий туннельный микроскоп стал родоначальником большого семейства сканирующих зондовых микроскопов. Доп.точки доступа: Мешков, Г.; Рахимова, А.; Филонов, А.; Яминский, Д.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Молекулярный экспресс-анализ для диагностики и биомедицины [Текст] / Д. Багров [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 1. - С. 32-36. : ил.: 7 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 36 (7 назв. )
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Общая диагностика Кл.слова (ненормированные): биомакромолекулы -- вирусные частицы -- клетки бактерий -- высшие организмы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- атомные весы -- кишечные палочки -- векторные вакцины -- дизентерия Аннотация: Современные методы наноаналитики открывают новые возможности в медицинской диагностики на уровне отдельных биомакромолекул, вирусных частиц, клеток бактерий и высших организмов. Доп.точки доступа: Багров, Д.; Мешков, Г.; Синицына, О.; Смирнов, С.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Синицына, О. Визуализация атомной решетки графита: идеи для практикума [Текст] / О. Синицына, Г. Мешков, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2011. - N 1. - С. 52-54. : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 54 (7 назв. )
Рубрики: Образование. Педагогика Высшее профессиональное образование Приборостроение Технология приборостроения Кл.слова (ненормированные): атомная решетка графита -- визуализация -- СЗМ -- сканирующая зондовая микроскопия -- СТМ -- сканирующая туннельная микроскопия Аннотация: Для освоения фундаментальных основ строения материи обучение естественно-научным специальностям обязательно включало практикум по сканирующей туннельной микроскопии. Доп.точки доступа: Мешков, Г.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |