Васильев, В. А. Золь-гель метод формирования мезапористых силикатов для систем многоуровневой разводки СБИС и МЭМС-технологии [Текст] / В. А. Васильев, Д. С. Серегин, К. А. Воротилов // Наукоемкие технологии. - 2009. - Т. 10, N 11. - С. 37-43 : ил. - Библиогр.: с. 43 (19 назв. ) . - ISSN 1999-8465
Рубрики: Энергетика Электроизолирующие материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): золь-гель метод -- мезапористые силикаты -- системы многоуровневой разводки СБИС -- многоуровневая разводка СБИС -- СБИС -- технология МЭМС -- МЭМС-технология -- алкильные группы -- диэлектрическая проницаемость -- пористые пленки -- электрофизические характеристики -- режимы термообработки -- термообработка -- многоуровневая металлизация -- термодеструкция Аннотация: Исследованы процессы формирования мезопористых силикатных пленок с низким значением диэлектрической проницаемости для систем многоуровневой металлизации СБИС и технологии МЭМС. Показано, что термодеструкция мицелл поверхностно-активных веществ в силикатном полимере является эффективным способом получения пористых пленок с ультра низкой диэлектрической проницаемостью, высокой пористостью и равномерным распределением пор по объему пленки. Установлено, что введение алкильных групп в силикатные слои приводит к дополнительному снижению плотности и стабилизации микроструктуры и электрофизических характеристик пленок в широком интервале режимов термообработки. Доп.точки доступа: Серегин, Д. С.; Воротилов, К. А. |
Электрофизические характеристики и процессы переключения сегнетокерамики ЦТС-46 [Текст] / Н. Н. Большакова [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2009. - N 44 (Физика). - С. 41-47. - Библиогр.: с. 47 (5 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрическая керамика -- электрофизические характеристики -- процессы переключения Аннотация: Результаты исследований электрофизических характеристик и процессов переключения сегнетоэлектрической керамики ЦТС-46. Доп.точки доступа: Большакова, Н. Н.; Быховец, А. А.; Иванов, В. В.; Каменщиков, М. В.; Черешнева, Н. Н. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Гефле, Ольга Семеновна. Влияние модифицирующей добавки нанопорошка никеля на основные электрофизические характеристики поливинилиденфторида [Текст] / О. С. Гефле, С. М. Лебедев, С. Н. Ткаченко // Известия Томского политехнического университета. - 2007. - Т. 310, N 3. - С. 52-56. : ил. - Библиогр.: с. 56 (10 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): нанопорошки никеля -- никель -- модифицирующие добавки -- электрофизические характеристики -- поливинилиденфторид -- результаты исследований -- температурно-частотные зависимости -- диэлектрическая проницаемость -- диэлектрические потери -- электрическая прочность -- надмолекулярные структуры -- модифицированные нанопорошки -- тангенсы -- тангенс угла -- наночастицы никеля -- сферолиты -- полимеры -- температура стеклования -- энергия активации проводимости -- проводимость -- диэлектрическая проводимость Аннотация: Приведены результаты исследования температурно-частотных зависимостей диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, электрической прочности и надмолекулярной структуры поливинилиденфторида, модифицированного нанопорошком никеля. Установлено, что введение наночастиц никеля в поливинилиденфторид приводит к уменьшению сферолитов, упорядочиванию надмолекулярной структуры полимера, изменению температуры стеклования, энергии активации проводимости, значений комплексной диэлектрической проводимости. Доп.точки доступа: Лебедев, С. М.; Ткаченко, С. Н. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Радиационные эффекты и межфазные взаимодействия в омических и барьерных контактах к фосфиду индия, стимулированные быстрыми термическими обработками и облучением gamma-квантами {60}Co [Текст] / А. Е. Беляев [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 12. - С. 1607-1614. : ил. - Библиогр.: с. 1613-1614 (16 назв. )
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): радиационные эффекты -- межфазные взаимодействия -- омические контакты -- барьерные контакты -- фосфид индия -- термическая обработка -- облучение gamma-квантами -- gamma-кванты -- радиационная стойкость -- внешние воздействия -- электрофизические характеристики -- распределение компонентов -- фазовые составы -- слои металлизации -- металлизация -- термическое облучение -- слоевые структуры -- радиационно-стимулированный массоперенос -- поликристаллические пленки -- контактообразующие слои -- электрофизические свойства Аннотация: Исследована радиационная стойкость исходных и прошедших быструю термическую обработку омических контактов Au-Pd-Ti-Pd-n{++}-InP и барьерных Au-TiB[x]-n-n{+}-n{++}-InP при облучении gamma-квантами {60}Co до доз 10{9} P. До и после внешних воздействий измерялись электрофизические характеристики барьерных и омических контактов, профили распределения компонентов и фазовый состав в слоях металлизации. В омических контактах Pd-Ti-Pd-Au, прошедших быструю термическую обработку и облучение, происходит заметное нарушение слоевой структуры металлизации, обусловленное термическим и радиационно-стимулированным массопереносом Pd по границам зерен в поликристаллических пленках Ti и Au, но величина удельного контактного сопротивления rhoc существенно не изменяется, что связано со сравнительно постоянным фазовым составом контактообразующего слоя на границе раздела Pd-n{+}-InP. В исходном и прошедшем быструю термическую обработку при T=400{o}C образце с барьерными контактами Au-TiBx-n-n{+}-n{++}InP, облученном до дозы 2·10{8} P, сохраняется слоевая структура металлизации. После облучения до дозы 10{9} P в образцах, подвергнутых быстрой термической обработке при T=400{o}C слоевая структура металлизации полностью нарушается, однако она сохраняется в исходном образце. Электрофизические свойства контактной структуры значительно деградируют лишь после облучения образца, предварительно прошедшего быструю термическую обработку при T=400{o}C. Доп.точки доступа: Беляев, А. Е.; Болтовец, Н. С.; Бобыль, А. В.; Иванов, В. Н.; Капитанчук, Л. М.; Кладько, В. П.; Конакова, Р. В.; Кудрик, Я. Я.; Корчевой, А. А.; Литвин, О. С.; Миленин, В. В.; Новицкий, С. В.; Шеремет, В. Н. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Макшаков, Е. Д. (аспирант). Система экспресс-анализа качества моторных масел [Текст] / Е. Д. Макшаков // Вестник Ижевского государственного технического университета имени М. Т. Калашникова. - 2012. - № 2. - С. 125-127 : ил. - Библиогр.: с. 127 (5 назв. ) . - ISSN 1813-7903
Рубрики: Транспорт Автодорожный транспорт Кл.слова (ненормированные): масла -- моторные масла -- качество моторных масел -- экспресс-анализ -- системы экспресс-анализа -- тестирование моторных масел -- диэлектрические характеристики -- электрофизические характеристики Аннотация: Рассматривается разработка комплекса средств тестирования моторных масел по диэлектрическим характеристикам. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |