Лапенас, Андрей. Знакомьтесь: четыре микроскопа в одной упаковке [Текст] / А. Лапенас, О. Шаповалюк // Инновации. - 2007. - N 12. - С. 118-120 : Рис. - Библиогр.: с. 120 (7 назв. )
Рубрики: Техника Изобретательство и рационализация. Патентное дело--Чехия Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- настольные микроскопы -- электронные микроскопы -- просвечивающие микроскопы -- сканирующие микроскопы -- изобретения -- зарубежные страны Аннотация: Чешские ученые изобрели настольный низковольтный электронный просвечивающий и сканирующий микроскоп LVEM5. Доп.точки доступа: Шаповалюк, Олег |
Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений. Доп.точки доступа: Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В. |
Особенности морфологии радиационных модификаций композитных материалов на основе политетрафторэтилена [Текст] / Н. В. Садовская [и др. ] // Наукоемкие технологии. - 2011. - Т. 12, N 3. - С. 11-16. : ил. - Библиогр.: с. 16 (7 назв. )
Рубрики: Химия Радиационная химия--Япония Кл.слова (ненормированные): радиационная модификация -- композитные материалы -- политетрафторэтилен -- нанокомпозиты -- ПТФЭ -- растровая микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- электронные микроскопы -- автоэмиссионные катоды -- JSM-7500 F -- физико-механические свойства -- тонкие структуры -- молекулярные образования -- поликристаллические структуры -- лентообразные структуры -- ламелярные структуры -- сферолитные структуры -- нанофибрилл -- морфология материалов Аннотация: Исследована морфология композиционных материалов на основе ПТФЭ до и после радиационного модифицирования методом растровой электронной микроскопии высокого разрешения (использовался сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с автоэмиссионным катодом JSM-750 фирмы JEOL (Япония), а также установление связи морфологии с физико-механическими свойствами. На основе полученных данных проведен анализ пористости, тонкой структуры надмолекулярных образований (поликристаллических лентообразных, ламелярных и сферолитных структур, нанофибрилл), поверхностей раздела, особенностей упаковки элементов. Доп.точки доступа: Садовская, Н. В.; Козлова, Е. Е.; Конова, Е. М.; Серов, С. А.; Томашпольский, Ю. Я.; Хатипов, С. А.; JEOL, фирма Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Цыбикова, Г. Ц. Электронная микроскопия для анализа влияния способа производства на микроструктуру мучных изделий [Текст] / Г. Ц. Цыбикова, Д. Н. Хамханова, Е. А. Жамбалова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - С. 42-44. . - Библиогр.: с. 44 (3 назв. )
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Пищевые производства Хлебопекарное производство Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия -- способы производства мучных изделий -- мучные изделия -- микроструктура мучных изделий -- пищевые системы -- растровые электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- микроскопы -- молочная сыворотка -- ржаная мука -- наночастицы Аннотация: Описаны исследования взаимодействия и структурирования компонентов пищевых систем при производстве мучных изделий с использованием растрового электронного микроскопа. Доп.точки доступа: Хамханова, Д. Н.; Жамбалова, Е. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Хамшо, С. М. Основы цифровых изображений нанотехнологии для решения графических задач [Текст] / Хамшо С. М. // Вестник Университета Российской Академии Образования. - 2012. - № 2. - С. 119-120. - Библиогр.: с. 120 (10 назв. ) . - ISSN 2072-5833
Рубрики: Изобразительное искусство и архитектура Виды художественной фотографии Кл.слова (ненормированные): нано-арт -- Нано Арт -- художественные течения -- художники -- цифровые изображения -- фотографии -- молекулы -- атомы -- нанотехнологии -- электронные микроскопы -- микроскопы -- Нано Альфа-бит -- компьютерная графика Аннотация: Рассматриваются вопросы нового художественного течения в мировом искусстве, которое получило название Нано Арт. Нано Альфа-бит - это изображения молекул и атомов, полученных при помощи электронных микроскопов и обработанных с использованием графических компьютерных программ. Доп.точки доступа: Орфеску, К. (румынский ученый); Державин, А. (российский художник) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Федоренко, Владимир Александрович (кандидат физико-математических наук; доцент). Повышение эффективности работы баллистических идентификационных систем за счет применения растровой электронной микроскопии и цифровых технологий [Текст] / В. А. Федоренко, М. В. Корнилов , Е. В. Сидак // Судебная экспертиза. - 2012. - № 3 (31). - С. 70-79. - Библиогр.: с. 79 (3 назв.)
Рубрики: Право Судебная экспертиза Кл.слова (ненормированные): след бойка -- следы на пулях -- баллистическая экспертиза -- автоматические баллистические идентификационные системы -- растровый электронный микроскоп -- электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- цифровые технологии -- оружие Аннотация: Исследуются достоинства использования в автоматизированных баллистических идентификационных системах цифровых изображений, полученных с помощью растровой электронной микроскопии. Определены основные морфологические типы индивидуальных признаков оружия, отобразившихся на изображениях следов бойков. Доп.точки доступа: Корнилов, Максим Вячеславович; Сидак, Елена Владимировна Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Сравнение методов магнетронного и термического напыления защитного покрытия для ленточных высокотемпературных сверхпроводников второго поколения [Текст] = The comparison of magnetron sputter deposition and thermal deposition of protective coating for the HTSC 2nd generation tape / С. А. Першиков [и др.] // Альтернативная энергетика и экология. - 2012. - № 10 (114). - С. 69-71 : фот. - Библиогр.: с. 71 (3 назв.) . - ISSN 1608-8298
Рубрики: Энергетика Проводниковые материалы и изделия Техника Обработка материалов Кл.слова (ненормированные): сверхпроводники -- ВТСП-2 -- методы покрытия сверхпроводников -- серебро -- метод магнетронного распыления -- метод термического распыления -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- программы Аннотация: Применение методов напыления серебра для защиты сверхпроводящего слоя в ленточных высокотемпературных сверхпроводниках второго поколения. Доп.точки доступа: Першиков, С. А.; Акимов, И. И.; Краснобаев, Н. Н.; Титов, А. О.; Крюков, Д. А.; Смирницкий, В. Б. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; доцент). Компьютерное моделирование методом Монте-Карло электронных траекторий в полярных диэлектриках при воздействии электронными пучками средних энергий [Текст] / А. Г. Масловская, А. В. Сивунов // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2012. - № 65. - С. 53-59 : ил. - Библиогр.: с. 59 (10 назв.) . - ISSN 1999-8341
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Вычислительная техника Имитационное компьютерное моделирование Кл.слова (ненормированные): метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- диэлектрики -- полярные диэлектрики -- электронные траектории -- электронные пучки -- электронные микроскопы -- 3D-модели -- компьютерные модели -- Matlab -- твердые тела Аннотация: Представлено имитационное моделирование транспорта электронов в полярных диэлектриках, облученных в растровом электронном микроскопе. Программная реализация компьютерной 3D-модели проведена методом Монте-Карло в ППП Matlab с учетом упругих и неупругих процессов взаимодействия электронов средних энергий с твердым телом.The article presents the simulation of electron transport in polar dielectrics un-der the electron irradiation in the scanning electron microscope. The 3D animation is based on random walk of electrons according to elastic and inelastic energy losses by the Monte-Carlo method. The simulation model is designed by means of Matlab program-ming. Доп.точки доступа: Сивунов, Антон Валерьевич (аспирант) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; доцент). Компьютерное моделирование методом Монте-Карло электронных траекторий в полярных диэлектриках при воздействии электронными пучками средних энергий [Текст] / А. Г. Масловская, А. В. Сивунов // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2012. - № 64. - С. 87-92 : ил. - Библиогр.: с. 92 (10 назв.) . - ISSN 1999-8341
Рубрики: Приборостроение Испытание и контроль приборов Вычислительная техника Имитационное компьютерное моделирование Кл.слова (ненормированные): метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- электронные траектории -- полярные диэлектрики -- электронные пучки -- средние энергии -- транспорт электронов -- облучение -- растры -- электронные микроскопы Аннотация: Представлено имитационное моделирование транспорта электронов в полярных диэлектриках, облученных в растровом электронном микроскопе.The article presents the simulation of electron transport in polar dielectrics under the electron irradiation in the scanning electron microscope. Доп.точки доступа: Сивунов, Антон Валерьевич (аспирант) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Сравнительный анализ перспектив применения в судебно-баллистической идентификации микроскопов различных систем [Текст] / П. В. Гиверц [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2014. - Вып. 1, Ч. 2. - С. 191-196 : рис. - Библиогр.: с. 195 (7 назв.). - Рез. и библиогр. на англ. в конце ст. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки elibrary.ru . - ISSN 1814-733X
Рубрики: Право Криминалистика Кл.слова (ненормированные): судебно-баллистическая идентификация -- микроскопы -- сравнительные микроскопы -- электронные микроскопы -- сканирующие микроскопы -- растровые микроскопы -- конфокальные микроскопы -- виртуальные микроскопы -- эксперты-баллисты -- баллистические экспертизы Аннотация: В настоящее время в судебно-баллистической идентификации находят применение новые образцы научного оборудования, предназначенного для микроскопических исследований. В связи с этим актуальным является прогнозирование дальнейшего применения в данной научной отрасли новой техники и положения оптических микроскопов сравнения, на применение которых ориентированы криминалистические методики. В статье рассматриваются три различных системы микроскопов: оптический, электронный сканирующий и конфокальный, их устройство и принципы работы. Для объективности оценки перспектив применения в экспертной практике нового оборудования и корректного его сравнения с традиционными оптическими системами авторы использовали рассматриваемую технику при производстве реальных экспертиз. Результаты применения трех различных систем микроскопов при проведении сложных идентификационных экспертиз по уголовным делам были проанализированы с целью определения их потенциала, достоинств и недостатков. В статье делаются выводы о целесообразности использования оптических микроскопов в большинстве случаев и о необходимых доработках виртуальных микроскопов, которые могут занять свое место в работе эксперта-баллиста. Доп.точки доступа: Гиверц, П. В. (инженер-механик); Охерман, Г. (заведующий лабораторией); Бокобза, Л. (эксперт); Шехтер, Б. (консультант) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Исследование взаимопереходящих микроследов на стреляных гильзах и объектах окружающей обстановки с помощью растрового электронного микроскопа [Текст] / С. Б. Вениг [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2014. - Вып. 1, Ч. 2. - С. 210-213 : рис., табл. - Библиогр.: с. 212 (1 назв.). - Рез. и библиогр. на англ. в конце ст. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки elibrary.ru . - ISSN 1814-733X
Рубрики: Право Криминалистика Кл.слова (ненормированные): микроследы -- взаимопереходящие микроследы -- гильзы -- стреляные гильзы -- микроскопы -- растровые микроскопы -- электронные микроскопы -- судебно-баллистические экспертизы -- выстрелы -- микрочастицы выстрелов -- электронная микроскопия Аннотация: Для судебно-баллистической экспертизы важно правильно реконструировать места применения огнестрельного оружия. Один из способов реконструкции основан на исследовании расположения стреляных гильз относительно окружающих предметов. Часто требуется установить факт вторичного отражения гильз от предметов окружающей обстановки, для чего необходимо найти место их соударения по оставшимся после этого микроследам. Целью является качественное исследование взаимопереходящих микроследов, возникающих как на стреляных гильзах, так и на жесткой преграде, о которую происходит вторичное отражение гильз. Исследования микроследов выстрела проводились методами электронной микроскопии с использованием сканирующего электронного микроскопа, снабженного приставкой химического элементного энергодисперсионного микроанализа. Следы повторного отражения на преградах и гильзе были получены экспериментальным путем. Предполагалось, что в результате взаимодействия продукты выстрела могли быть перенесены на преграду, а частицы преграды - на гильзу. Исследовались микроследы продуктов выстрела на жестких преградах и частицы покрытия преград на гильзе. Исследование преград в месте соударения с ними гильз позволило обнаружить химические элементы, характерные для продуктов выстрела и не входящие в химический состав преграды. Когда характерные химические элементы преграды обнаруживались на гильзе, считалось, что произошел массоперенос частиц с преграды на гильзу. Когда характерные химические элементы выстрела обнаруживались на преграде, считалось, что произошел массоперенос частиц с гильзы на преграду. Были выявлены характерный вид и размеры частиц продуктов выстрела, которые чаще всего можно обнаружить на преграде в месте соударения с нею гильзы. Выявлено различие между ними и частицами покрытия преграды. Исследования показали следующее: на стреляной гильзе обнаружить микрочастицы жесткой преграды сложнее, чем на самой преграде следы от гильзы; в месте соударения гильзы с преградой относительно легко выявить присутствие частиц, характерных для продуктов выстрела из огнестрельного оружия. Доп.точки доступа: Вениг, С. Б. (доктор физико-математических наук; профессор; декан); Захаревич, А. М. (кандидат физико-математических наук; заведующий лабораторией); Стальмахов, А. В. (доктор физико-математических наук; профессор; проректор); Гвоздкова, Л. С. (эксперт) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Воинов, А. И. Важнейшие этапы становления мировой нанонауки [Текст] / А. И. Воинов // Финансовый бизнес. - 2014. - № 6. - С. 59-62. - Библиогр.: с. 62 (5 назв.) . - ISSN 0869-8589
Рубрики: Наука. Науковедение История науки Кл.слова (ненормированные): нанонаука -- нанотехнологии -- история развития -- изобретения -- электронные микроскопы -- атомносиловые микроскопы -- сканирующие туннельные микроскопы -- нанометрология -- национальные программы Аннотация: Сегодня нанонаука – один из приоритетных векторов развития экономики знаний в постиндустриальном обществе. В статье освещены основные этапы становления и развития мировой нанонауки. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Воинов, А. И. Важнейшие этапы становления мировой нанонауки [Текст] / А. И. Воинов // Финансовый бизнес. - 2015. - № 2. - С. 70-73. - Библиогр.: с. 73 (6 назв.) . - ISSN 0869-8589
Рубрики: Наука. Науковедение История науки Кл.слова (ненормированные): атомарный уровень -- изобретения -- история развития -- нанометрология -- нанонаука -- нанотехнологии -- сканирующие туннельные микроскопы -- электронные микроскопы Аннотация: Сегодня нанонаука - один из приоритетных векторов развития экономики знаний в постиндустриальном обществе. В статье прослежены основные этапы развития мировой нанонауки. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Лукашова, Мария Валерьевна (руководитель направления). Опыт применения сканирующего электронного микроскопа TESCAN для автоматического поиска специфических частиц в образцах фетра [Текст] / М. В. Лукашова, А. А. Мокроусов // Вестник Московского университета МВД России. - 2018. - № 4. - С. 74-75. - Библиогр. в конце ст. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки https://elibrary.ru . - ISSN 2073-0454
Рубрики: Право Судебная экспертиза Кл.слова (ненормированные): металлическая стружка -- электронная микроскопия -- судебно-химическая экспертиза -- криминалистические исследования -- эксперты -- образцы фетра -- электронные микроскопы Аннотация: Анализируются аспекты применения современного метода электронной микроскопии в электронном варианте для судебно-экспертного исследования части металлической стружки в образцах лежалого фетра. Доп.точки доступа: Мокроусов, Алексей Алексеевич (старший эксперт) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |