Полуаналитические методы для анализа концентрации напряжений в толстостенных многослойных композитах [Текст] = Semianalytical methods for analyzing stress concentrations in thick-walled multilayered composites / В. Хуфенбах [и др. ] // Механика композитных материалов. - 2009. - Т. 45, N 4. - С. 525-538 : 9 ил. - Библиогр.: с. 537-538 (12 назв. ) . - ISSN 0203-1272
Рубрики: Техника Сопротивление материалов Материаловедение Кл.слова (ненормированные): многослойные композиты -- текстильно-армированные композиты -- толстостенные многослойные композиты -- теория пластин Миндлина-Рейсснера -- Миндлина-Рейсснера теория пластин -- теория пластин Кирхгофа-Лява -- Кирхгофа-Лява теория пластин -- метод Ритца -- Ритца метод -- слоистые композиты -- полуаналитические методы расчета композитов Аннотация: Для анализа полей напряжений, деформаций и перемещений в толстостенных анизотропных многослойных композитах разработаны полуаналитические методы решения, основанные на теории сдвигового деформирования первого порядка, достоверность которых проверена на большом количестве примеров численного конечно-элементного моделирования и тщательных экспериментальных исследованиях. Сравнение результатов, полученных разными методами для многослойных композитов, изготовленных из одно-, двунаправленно и текстильно-армированных слоев, демонстрирует хорошее согласование. Доп.точки доступа: Хуфенбах, В.; Грюбер, Б.; Готтвальд, Р.; Леппер, М.; Жу, Б. |