Сканирующий безапертурный микроскоп ближнего оптического поля - прибор для исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением [Текст] / Д. В. Казанцев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2017. - Т. 81, № 12. - С. 1709-1714 : рис. - Библиогр.: c. 1714 (18 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Приборостроение Испытание и контроль приборов Кл.слова (ненормированные): атмосферная экспериментальная установка -- квантовая криптография -- квантовые ключи -- оптическое волокно -- оптоволоконная экспериментальная установка -- сканирующий безапертурный микроскоп Аннотация: Описаны принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Зондом в приборе служит металлизированная игла атомно-силового микроскопа, и оптическое взаимодействие с объектами на поверхности локализовано вблизи ее острия размером в несколько нанометров. Тело иглы имеет длину в несколько микрон, и это обеспечивает высокую эффективность ее электромагнитного взаимодействия с падающими на нее извне и излучаемыми ей в пространство световыми волнами. Таким образом, образованная иглой наноантенна повышает эффективность оптического взаимодействия нанообъектов с "электромагнитным эфиром" на 4-5 порядков. Представлены результаты сканирования полупроводниковых и полимерных структур, демонстрирующие способность ASNOM давать контрастные изображения оптических свойств объектов (поглощения, отражения и термического расширения) с разрешающей способностью в 10-50 нм независимо от длины волны. Доп.точки доступа: Казанцев, Д. В.; Казанцева, Е. А.; Кузнецов, Е. В.; Поляков, В. В.; Тимофеев, С. В.; Шелаев, А. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |