Яминский, Д. Эталон нанометра [Текст] / Д. Яминский, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 44-45 : ил.: 2 рис. - Библиогр.: с. 45 (4 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): нанометрология -- метрология -- нанометр -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы Аннотация: Развитие современной наноиндустрии не может происходить без существования прочного нанометрологического фундамента. Доп.точки доступа: Яминский, И. |
Быков, В. Существует ли цвет в наномире? О возможностях оптических методов за пределом дифракции [Текст] / В. Быков // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 50-52 : ил.: 8 рис.
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- оптические явления -- нанометры -- цветоведение Аннотация: Оптические свойства вещества в видимом диапазоне длин волн можно изучать с пространственным разрешением в десятки нанометров. |
Быков, В. Российские приборы побеждают в престижном американском конкурсе [Текст] / В. Быков // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 30-32 : ил.: 5 рис.
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- СОЛВЕР -- зондовые нанолаборатории -- ИНТЕГРА Аннотация: Процесс возрождения отечественной высокотехнологичной индустрии набирает обороты. |
Дистанционное управление нанотехнологическим оборудование [Текст] / Г. Мешков [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 46-49. : ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 49 (3 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): СТМ -- сканирующие туннельные микроскопы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- зондовая интернет-микроскопия Аннотация: Сканирующий туннельный микроскоп стал родоначальником большого семейства сканирующих зондовых микроскопов. Доп.точки доступа: Мешков, Г.; Рахимова, А.; Филонов, А.; Яминский, Д.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Газарова, Е. Платформа наноэдьюкатор [Текст] / Е. Газарова // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 58-61. : ил.: 5 рис.
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Образование. Педагогика Высшее профессиональное образование Применение вычислительной техники в педагогике Кл.слова (ненормированные): нанотехнология -- наноэдьюкаторы -- научные исследования -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы Аннотация: Наноэдьюкатор - учебно-научный измерительный комплекс на основе сканирующего зондового микроскопа, направленный на формирование полноценного класса для обучения основам нанотехнологий, а также подходящий для научных исследований. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Молекулярный экспресс-анализ для диагностики и биомедицины [Текст] / Д. Багров [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 1. - С. 32-36. : ил.: 7 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 36 (7 назв. )
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Общая диагностика Кл.слова (ненормированные): биомакромолекулы -- вирусные частицы -- клетки бактерий -- высшие организмы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- атомные весы -- кишечные палочки -- векторные вакцины -- дизентерия Аннотация: Современные методы наноаналитики открывают новые возможности в медицинской диагностики на уровне отдельных биомакромолекул, вирусных частиц, клеток бактерий и высших организмов. Доп.точки доступа: Багров, Д.; Мешков, Г.; Синицына, О.; Смирнов, С.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |