Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для исследования наноструктур [Текст] / А. Турьянский [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 40-45 : ил.: 14 рис. - Библиогр.: с. 45 (8 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеновские рефлектометры -- наноструктуры -- исследование наноструктур -- рентгеновские спектры -- рентгенооптическая схема Аннотация: На базе рентгеновского рефлектометра разработан экспериментальный образец измерительного комплекса для исследования наноструктур. Доп.точки доступа: Турьянский, А.; Герасименко, Н.; Пиршин, И.; Сенков, В. |