Строшков, В. П. Изучение методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изменения химического состава поверхностных слоев титанового сплава до и после электрохимической размерной обработки [Текст] / В. П. Строшков, М. В. Кузнецов> // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 6. - С. 57-61 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Машиностроение Обработка металлов резанием Технология металлов Общая технология металлов Кл.слова (ненормированные): электрохимическая размерная обработка -- титановые сплавы -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- поверхностные слои -- поверхностные слои титановых сплавов Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучено изменение элементного состава поверхностных слоев титанового сплава ВТ18у после механической и электрохимической обработки. Доп.точки доступа: Кузнецов, М. В. |
Супрун, С. П. Формирование гетерограницы GaAs-Ge в присутствии окисла [Текст] / С. П. Супрун, Е. В. Федосенко> // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 2. - С. 94-97
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): GaAs-Ge -- Ge -- Ga[2]O -- гетерограница -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- дифракция быстрых электронов Аннотация: Приведены результаты исследования методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и дифракции быстрых электронов на отражение процесса формирования гетерограницы GaAs-Ge при условии неполного удаления всех окисных фаз с поверхности подложки GaAs. Показано, что совмещение процессов окончательной десорбции окисла Ga[2]O и осаждения Ge позволяет предотвратить испарение мышьяка и нарушение стехиометрии в области границы раздела. Доп.точки доступа: Федосенко, Е. В. |
Шафоростов, А. K-Alpha: РФЭС-система нового поколения [Текст] / А. Шафоростов> // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 60-64 : ил.: 11 рис.
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): K-Alpha -- РФЭС -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- лаборатории поверхностного анализа -- Avantage Аннотация: Система РФЭС создана для обеспечения максимальной пропускной способности и эффективности лабораторий поверхностного анализа. |
Формирование и "белая" фотолюминесценция нанокластеров в пленках SiO[x], имплантированных ионами углерода [Текст] / А. И. Белов [и др. ]> // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 46, вып. 11. - С. 1498-1503. : ил. - Библиогр.: с. 1503 (31 назв. )
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): фотолюминесценция -- ФЛ -- нанокластеры -- ионы углерода -- кластеры -- нанокристаллы -- высокотемпературный отжиг -- отжиг -- оксид кремния -- SiOx -- имплантация ионов -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- РФЭС -- метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Аннотация: Приведены экспериментальные данные по ионному синтезу нанокомпозитных слоев с углеродсодержащими кластерами и нанокристаллами Si при облучении пленок нестехиометрического оксида кремния SiO[x] ионами углерода с последующим высокотемпературным отжигом. Показано, что при достаточно больших дозах C{+} пленки обладают фотолюминесценцией в области спектра, охватывающей весь видимый диапазон и ближнюю инфракрасную область. Формирование указанных кластеров и нанокристаллов подтверждается методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, причем распределение углерода практически воспроизводит расчетный профиль пробегов ионов, т. е. отсутствует заметное диффузионное перераспределение этого элемента. Предложена качественная модель слоистого строения ионно-синтезированных структур. Доп.точки доступа: Белов, А. И.; Михайлов, А. Н.; Николичев, Д. Е.; Боряков, А. В.; Сидорин, А. П.; Грачев, А. П.; Ершов, А. В.; Тетельбаум, Д. И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Диффузия нерастворимого углерода в оксидах циркония [Текст] / В. Б. Выходец [и др. ]> // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2011. - Т. 93, вып. 1. - С. 8-12.
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): оксиды циркония -- нерастворимый углерод -- диффузия -- нерастворимые примеси -- ионная имплантация -- ядерный микроанализ -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия Аннотация: Для интервала температур 900-1000 градусов С получены значения коэффициентов диффузии нерастворимого углерода в оксидах циркония. Данные по диффузии нерастворимых примесей отсутствуют в литературе, они актуальны для теории диффузии и ядерных технологий. Меченые атомы \{13\}С вводились в оксиды с помощью ионной имплантации, и исследовалась кинетика их выхода из образцов при отжиге на воздухе. Измерения выполнены с помощью методик ядерного микроанализа и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Энергия активации диффузии составила 2. 7 эВ, а значения коэффициентов диффузии углерода оказались примерно на шесть порядков ниже, чем для самодиффузии кислорода в этих же системах. Полученный результат является показателем сильной аномалии диффузионных свойств углерода в оксидах. Как следствие, оксиды циркония противопоказаны для их использования в некоторых ядерных технологиях, в частности, в качестве материала источников для ускорителей короткоживущих изотопов углерода. Доп.точки доступа: Выходец, В. Б.; Куренных, T. E.; Кесарев, A. Г.; Кузнецов, M. В.; Кондратьев, В. В.; Хулсен, К.; Кестер, У. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Подлесная, Ольга Андреевна. Модифицирование поверхности хитозана методами ионно-плазменной технологии [Текст] / О. А. Подлесная, Р. А. Нежметдинова> // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2011. - N 53. - С. 78-84. : ил. - Библиогр.: с. 84 (5 назв. )
Рубрики: Машиностроение Машиностроительные материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): модифицирование поверхности -- хитозан -- ионно-плазменная технология -- геометрические свойства поверхности -- химические свойства поверхности -- антимикробные свойства поверхности -- метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- спектроскопия Аннотация: Рассматривается возможность управления геометрическими, химическими и антимикробными свойствами поверхности хитозана путем модификациии различными методами ионно-плазменной технологии. Приводятся результаты исследования химического состава поверхности хитозана, который определялся методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Доп.точки доступа: Нежметдинова, Рамиля Амировна Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Троян, Виктор Иванович (доктор физико-математических наук ; профессор кафедры 78). Система удаленного доступа к комплексу по формированию нанокластеров и исследованию их электронных свойств [Текст] = The Remote Access to the System for the Formation of Nanoclusters and the Investigation of Their Electronic Properties / В. И. Троян, М. А. Пушкин, П. В. Борисюк> // Качество. Инновации. Образование. - 2011. - N 7. - С. 55-57. : 4 рис. - Библиогр.: с. 57 (2 назв. )
Рубрики: Вычислительная техника Прикладные информационные (компьютерные) технологии в целом Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): нанокластеры -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия Аннотация: Дано описание системы удаленного доступа студентов, исследователей, разработчиков к научным установкам и оборудованию. Система включает мультимедийный учебно-научный комплекс с симулятором и набором методических материалов и может быть использована для обеспечения процесса дистанционного обучения и работы на уникальном оборудовании. Доп.точки доступа: Пушкин, Михаил Александрович (кандидат физико-математических наук ; доцент кафедры 78); Борисюк, Петр Викторович (кандидат физико-математических наук ; ассистент кафедры 78) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
От атомных к ядерным оптическим стандартам частоты [Текст] = From Atomic to NuclearOptical Frequency Standards / В. И. Троян [и др.]> // Качество. Инновации. Образование. - 2013. - № 9. - С. 74-77 : 2 рис. - Библиогр.: с. 76 (6 назв.)
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): оптические стандарты частоты -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- спектрохимия -- стандарты частоты -- торий-229 -- фотоэлектронная спектроскопия -- электромагнитные ловушки -- ядерные оптические стандарты -- ядерные стандарты -- ядерный переход Аннотация: О перспективах повышения точности стандартов времени и частоты путем разработки "ядерных часов" - стандарта частоты нового поколения на основе ядерного перехода в долгоживущее изомерное состояние ядра изотопа тория-229. Использование ядерного перехода, согласно теоретическим оценкам, позволит достичь относительной точности, что откроет широкие возможности использования нового стандарта частоты, начиная от спутниковых систем навигации и заканчивая проверкой основ теории относительности. Доп.точки доступа: Троян, Виктор Иванович (доктор физико-математических наук; профессор); Борисюк, Петр Викторович (кандидат физико-математических наук; доцент); Красавин, Андрей Валерьевич (кандидат физико-математических наук; доцент); Пальчиков, Виталий Геннадьевич (доктор физико-математических наук; профессор; заместитель начальника); Потешин, Сергей Станиславович (кандидат технических наук; доцент); Сысоев, Алексей Александрович (кандидат физико-математических наук; доцент); Яковлев, Валерий Петрович (доктор физико-математических наук; профессор) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Влияние температуры спекания на химическое состояние ионов в системе Ba[1-x]Sr[x]TiO[3] (x = 0.2) по данным рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] / А. Т. Козаков [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 8. - С. 909-913. - Библиогр.: c. 913 (14 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): керамика -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгеноэлектронные спектры -- температура спекания -- химические связи Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии исследовано химическое состояние ионов в образцах керамик системы Ba[1-x]Sr[x]TiO[3] (x = 0. 2), при изготовлении которых изменяли лишь один технологический параметр - температуру спекания Т[СП]. Рентгеноэлектронные спектры Ba4d, Sr3d, O1s и Ti2p обнаруживают заметную тонкую структуру уровней; энергетическое положение и интенсивность особенностей тонкой структуры закономерным образом меняются в зависимости от Т[СП]. Доп.точки доступа: Козаков, А. Т.; Гуглев, К. А.; Никольский, А. В.; Садыков, Х. А.; Вербенко, И. А.; Павленко, А. В.; Резниченко, Л. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
РФЭС-исследование Ni-, Cu-содержащих оксидных покрытий на алюминии [Текст] / Е. А. Коблова [и др.]> // Вестник Дальневосточного отделения РАН. - 2015. - № 4. - С. 39-44 : 1 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 44 (9 назв.). - Примеч. в сносках. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки http://elibrary.ru
Рубрики: Химия Катализ Кл.слова (ненормированные): никель -- медь -- плазменное электролитическое оксидирование -- ПЭО -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- РФЭС -- металлооксидные катализаторы -- атомный состав -- химическое состояние -- строение поверхности Аннотация: С использованием метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучены металлооксидные покрытия, сформированные методом плазменно-электролитического оксидирования на алюминии марки А7. Доп.точки доступа: Коблова, Елена Александровна (аспирант); Устинов, Александр Юрьевич (доктор физико-математических наук); Руднев, Владимир Сергеевич (доктор химических наук); Черных, Ирина Валерьевна (младший научный сотрудник); Лукиянчук, Ирина Викторовна (кандидат химических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Определение валентного состояния ионов марганца в сложных оксидах La[1 - x]Ca[x]MnO[3] (x = 0.5, 0.7, 0.85, 0.9) по Mn2p и Mn3s рентгеновским фотоэлектронным спектрам [Текст] / К. А. Гуглев [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 6. - С. 705-707. - Библиогр.: c. 707 (11 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): ионы марганца -- метод твердотельной реакции -- редкоземельные манганиты -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сложные оксиды Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии исследовано валентное состояние ионов марганца по Mn2p, Mn3s-спектрам в сложных оксидах La[1 - x]Ca[x]MnO[3] (x = 0. 5, 0. 7, 0. 85, 0. 9). Показано, что ионы марганца имеют в исследованных соединениях валентности Mn{3+} и Mn{4+}. Определено относительное содержание Mn{3+}/Mn{4+}-ионов. Доп.точки доступа: Гуглев, К. А.; Козаков, А. Т.; Кочур, А. Г.; Никольский, А. В.; Торгашев, В. И.; Зволенская, А. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Ковалев, А. И. Зернограничные сегрегации Al в легированном интерметаллиде NiAl и их влияние на хрупкость при комнатной температуре [Текст] / А. И. Ковалев, Д. Л. Вайнштейн, А. Ю. Рашковский> // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 10. - С. 1402-1409 : рис. - Библиогр.: c. 1408-1409 (18 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Машиностроение Обработка металлов резанием Кл.слова (ненормированные): зернограничные сегрегации Al -- интерметаллид NiAl -- межзеренная хрупкость -- оже-спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия Аннотация: Природа межзеренной хрупкости NiAl интерметаллида была исследована методами оже-спектроскопии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и с применением анализа протяженной тонкой структуры спектров потери энергии рассеянных электронов. Доп.точки доступа: Вайнштейн, Д. Л.; Рашковский, А. Ю. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов моносилицида железа [Текст] / А. С. Паршин [и др.]> // Известия вузов. Физика. - 2016. - Т. 59, № 10. - С. 82-86 : рис. - Библиогр.: c. 86 (15 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): магнитные полупроводники -- моносилицид железа -- полупроводниковый моносилицид железа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- силициды железа -- спектроскопия потерь энергии электронов -- спектроскопия сечения рассеяния электронов -- фотоэлектронные спектры -- электроны моносилицида железа -- энергия электронов Аннотация: Исследованы рентгеновские фотоэлектронные спектры, спектры характеристических потерь и сечения неупругого рассеяния электронов моносилицида железа FeSi. Показано, что спектры сечения неупругого рассеяния электронов имеют преимущества в изучении процессов потерь энергии электронов по сравнению со спектрами потерь энергии отраженных электронов. Анализ тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов позволил выявить неразрешенные пики, определить их энергии, интенсивность и природу. Различия между энергиями подгоночных пиков потерь в спектрах сечения неупругого рассеяния электронов для FeSi и чистого Fe существеннее, чем химические сдвиги в рентгеновских фотоэлектронных спектрах, что отражает возможность применения тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов для элементного анализа. Доп.точки доступа: Паршин, А. С.; Игуменов, А. Ю.; Михлин, Ю. Л.; Пчеляков, О. П.; Жигалов, В. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Валентное состояние и рентгеновские фотоэлектронные 2p-спектры ионов хрома в системе La[1-x]Sr[x]CrO[3] (x = 0, 0.1, 0.3, 0.5) [Текст] / А. Т. Козаков [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2017. - Т. 81, № 3. - С. 360-362. - Библиогр.: c. 362 (11 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): ионы хрома -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- РФЭС-анализ -- хромит лантана -- электронное строение Аннотация: При комнатной температуре получены Cr2p рентгеновские фотоэлектронные спектры образцов системы La[1-x]Sr[x]CrO[3] для x = 0, 0. 1, 0. 3, 0. 5. Эти спектры существенно меняют свою форму с ростом х. РФЭС-анализ показал, что ионы хрома находятся в смешанном валентном состоянии. Доп.точки доступа: Козаков, А. Т.; Кочур, А. Г.; Никольский, А. В.; Раевский, И. П. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |