Давыдов, Д. А.
    Моноклинный упорядоченный субоксид ванадия V[14]O[6] [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 1. - С. 147-154. - Библиогр.: с. 154 (22 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
моноклинный субоксид ванадия -- рентгеновская дифракция -- субоксид ванадия -- симметрийный анализ -- подрешетки
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и симметрийного анализа изучена моноклинная (пр. гр. C2/m) сверхструктура V[14]O[6], образующаяся при атомно-вакансионном упорядочении тетрагонального твердого раствора кислорода в ванадии. Моноклинный субоксид V[14]O[6] наблюдается в синтезированных при 1770К образцах оксида ванадия VO[0. 57], VO[0. 81] и VO[0. 86] и в образцах VO[y] (y больше или равно 0. 87, y меньше или равно 0. 98), после синтеза дополнительно отожженных при температуре 1470 К. Установлено, что канал фазового перехода беспорядок-порядок, связанный с образованием моноклинного субоксида V[14]O[6], включает шесть сверструктурных векторов, принадлежащих трем нелифшицевским звездам одного типа {k[i]}. Рассчитана функция распределения атомов кислорода в моноклинной сверхструктуре V[14]O[6]. Показано, что смещения атомов V искажают объемно центрированную тетрагональную металлическую подрешетку, подготавливая формирование гранецентрированной кубической подрешетки и преход от субоксида V[14]O[6] к кубическому монооксиду ванадия со структурой B1.


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.




    Давыдов, Д. А.
    Нейтронография дефектного монооксида ванадия, близкого к эквиатомному составу VO [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев, А. А. Ремпель // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 4. - С. 218-223
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
монооксид ванадия -- VO[y] -- структурные вакансии -- нейтронография -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Методами структурной нейтронографии и рентгеновской дифракции изучена дефектная структура закаленных от температуры синтеза и отожженных при низкой температуре монооксидов ванадия VO[y] (0. 90 меньше равно y меньше равно 0. 97), по составу близких к эквиатомному монооксиду VO[1. 0].


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.; Ремпель, А. А.




   
    Кластеры палладия в образцах нанопористого углерода: структурные свойства [Текст] / А. М. Данишевский [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 604-608. - Библиогр.: с. 607-608 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
кластеры палладия -- нанопористый углерод -- рентгеновская дифракция -- электронная дифракция -- просвечивающий электронный микроскоп -- метод электронного спинового резонанса -- электронный спиновой резонанс
Аннотация: Проведены структурные исследования образцов нанопористого углерода, приготовленных из карбидов кремния и бора, с кластерами палладия, введенными в них. Рентгеновская и электронная дифракция показывает, что основная масса кластеров Pd имеет кубическую гранецентрированную решетку. Проведены измерения малоуглового рентгеновского рассеяния. При определенных допущениях анализ их позволил определить размеры кластеров металла. Размеры кластеров, полученных на снимках в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ), оказались не слишком близки к ним и находились в диапазоне 4-14 nm. По-видимому, различие связано с локальным характером измерений в ПЭМ. Помимо относительно крупных кластеров приведенного диапазона в образцах наблюдаются очень мелкие кластеры, меньшие размера одной микропоры. Их особенно много в C (SiC) B : Pd, где их размеры оказались в пределах 0. 5-0. 7 nm. В C (B[4]C) B : Pd малых кластеров существенно меньше, и их размеры несколько больше: 1. 2-1. 6 nm. Обсуждаются возможные причины ферромагнетизма, наблюдавшегося в указанных образцах. Высказано предположение, что магнетизм может быть связан с малыми кластерами, которые к тому же не имеют кубической симметрии.


Доп.точки доступа:
Данишевский, А. М.; Кютт, Р. Н.; Ситникова, А. А.; Шанина, Б. Д.; Курдюков, Д. А.; Гордеев, С. К.




   
    Фазовые соотношения и форма кривых рентгеновской дифракции от гетероструктур с квантовыми ямами [Текст] / М. А. Чуев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 3. - С. 204-209
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- гетероструктуры с квантовыми ямами -- дифракционное рассеяние -- фазовые соотношения
Аннотация: Проведен качественный анализ формирования интерференционной картины на кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от гетероструктур с квантовыми ямами. Показано, что помимо хорошо известного эффекта, связанного с дополнительным сдвигом фазы в амплитудах дифракционного рассеяния покрывающего слоя и подложки за счет небольшого смещения атомных слоев в квантовой яме, форма кривой отражения существенным образом зависит от толщины квантовой ямы, отражая специфические фазовые соотношения в интегральной амплитуде отражения. В рамках анализа были получены простые аналитические выражения, которые позволяют не только описать тонкие детали интерференционной картины на кривой отражения, но и приближенно оценить значения наиболее значимых параметров реально выращенной гетероструктуры, которые определяют наиболее адекватную стартовую модель для дальнейшего анализа на основе общих формул динамической дифракции.


Доп.точки доступа:
Чуев, М. А.; Пашаев, Э. М.; Ковальчук, М. В.; Квардаков, В. В.




   
    Получение слоев нанокристаллического кремния плазмохимическим осаждением из газовой фазы тетрафторида кремния [Текст] / П. Г. Сенников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 7. - С. 1002-1006 : ил. - Библиогр.: с. 1006 (32 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
кремний -- нанокристаллический кремний (nc-Si) -- морфология поверхности -- рентгеновская дифракция -- масс-спектрометрия -- ионная масс-спектроскопия -- плазмохимическое осаждение -- тетрафторид кремния -- фотолюминесценция
Аннотация: Сообщается о результатах получения слоев кремния на различных подложках методом плазмохимического осаждения в системе тетрафторид кремния-водород. Сняты спектры излучения плазмы в этой системе. Образцы исследованы методами рентгеновской дифракции и вторичной ионной масс-спектрометрии. Проведено морфологическое изучение поверхности, получены спектры комбинационного рассеяния, спектры пропускания в инфракрасном диапазоне и спектры фотолюминесценции. По фазовому составу слои представляют собой нанокристаллический кремний с размером блоков когерентного рассеяния от 3 до 9 нм в зависимости от условий проведения процесса и обладают интенсивной фотолюминесценцией при комнатной температуре.


Доп.точки доступа:
Сенников, П. Г.; Голубев, С. В.; Шашкин, В. И.; Пряхин, Д. А.; Дроздов, М. Н.; Андреев, Б. А.; Дроздов, Ю. Н.; Кузнецов, А. С.; Поль, Х. - Й.




   
    Влияние присоединения биомолекул на фотолюминесцентные и структурные характеристики квантовых точек CdSe-ZnS [Текст] / Л. В. Борковская [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 6. - С. 804-810 : ил. - Библиогр.: с. 809-810 (21 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
квантовые точки -- КТ -- фотолюминесценция -- ФЛ -- спектры фотолюминесценции -- фотолюминесцентные характеристики -- структурные характеристики -- биомолекулы -- биосопряжение -- экситоны -- рекомбинация экситонов -- рентгеновская дифракция -- дефекты -- спектры возбуждения -- СВ -- CdSe-ZnS
Аннотация: Исследовались спектры фотолюминесценции и ее возбуждения, а также кривые рентгеновской дифракции силанизированных квантовых точек CdSe-ZnS и влияние на них соединения с биомолекулами. В спектрах люминесценции помимо полосы, обусловленной рекомбинацией экситонов в квантовых точках, присутствовало излучение, связанное с дефектами. Установлено, что спектр излучения дефектов содержит, как минимум, две компоненты. Показано, что дефекты расположены преимущественно на точках малого размера, причем дефекты, ответственные за длинноволновую компоненту, расположены преимущественно на точках большего размера, чем дефекты ответственные за коротковолновую компоненту. Обнаружено, что соединение с биомолекулами приводит не только к голубому смещению экситонной полосы, но и к трансформации спектра излучения дефектов, а также к увеличению его вклада в спектр люминесценции. Наблюдающиеся изменения в спектре излучения дефектов объясняются образованием соответствующих центров свечения. Показано, что при присоединении биомолекул в квантовых точках возрастают механические напряжения сжатия. Этим объясняется голубое смещение полосы квантовых точек.


Доп.точки доступа:
Борковская, Л. В.; Корсунская, Н. Е.; Крыштаб, Т. Г.; Гермаш, Л. П.; Печерская, Е. Ю.; Остапенко, С.; Чернокур, А.




   
    Полиэдральные наноразмерные частицы углерода при высоких давлениях [Текст] / В. А. Давыдов [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 12. - С. 861-865
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- рентгеновское рассеяние -- полиэдральные наночастицы -- углеродные наночастицы -- трансформация графеновых слоев -- онионоподобные структуры -- онионоподобная сердцевина
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, малоуглового рентгеновского рассеяния и просвечивающей электронной микроскопии изучены твердофазные превращения полиэдральных наночастиц углерода при давлении 8. 0 ГПа и различных температурах. Обнаружено, что при температурах выше ~1000 градусов C в системе наблюдается трансформация графеновых слоев внутренних полостей полиэдральных частиц в онионоподобные структуры, приводящая к образованию гибридного типа sp\{2\}-углеродных наночастиц, сочетающих внешнюю полиэдральную форму с квазисферической онионоподобной сердцевиной. При 1600 градусах С полиэдральные наночастицы с размерами менее ~40 нм полностью превращаются в онионоподобные частицы.


Доп.точки доступа:
Давыдов, В. А.; Ширяев, А. А.; Рахманина, А. В.; Филоненко, В. П.; Васильев, А. Л.; Отре, C.; Агафонов, В. Н.; Хабашеску, В. Н.




   
    Фазообразование под воздействием спинодального распада в эпитаксиальных твердых растворах гетероструктур Ga[x]In[1-x]P/GaAs (100) [Текст] / П. В. Середин [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 9. - С. 1261-1266 : ил. - Библиогр.: с. 1265 (8 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
гетероструктуры -- Ga[x]In[1-x]P/GaAs (100) -- спинодальный распад -- твердые растворы -- эпитаксиальные твердые растворы -- фазообразование -- рентгеновская дифракция -- электронная микроскопия -- сателлиты -- рентгеновские рефлексы -- рентгеноструктурные исследования
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии изучено явление неустойчивости твердых растворов полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур Ga[x]In[1-x]P/GaAs (100) в области составов x ~ 0. 50. Показана возможность появления модулированных релаксационных структур на поверхности твердого раствора Ga[x]In[1-x]P, вследствие чего появляются сателлиты основных рентгеновских рефлексов, соответствующих однофазной структуре.


Доп.точки доступа:
Середин, П. В.; Домашевская, Э. П.; Руднева, Вал. Е.; Руднева, В. Е.; Гордиенко, Н. Н.; Глотов, А. В.; Арсентьев, И. Н.; Винокуров, Д. А.; Станкевич, А. Л.; Тарасов, И. С.




   
    Комплексная диагностика гетероструктур с квантово-размерными слоями [Текст] / С. Г. Конников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 9. - С. 1280-1287 : ил. - Библиогр.: с. 1287 (9 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
кванто-размерные слои -- гетероструктуры -- катодолюминесценция -- КЛ -- катодолюминесцентные исследования -- просвечивающая электронная микроскопия -- ПЭМ -- рентгеновская дифракция -- РД -- рентгеноспектральный микроанализ -- РСМА -- квантовые ямы -- КЯ -- рентгенодифракционные исследования -- комплексная диагностика
Аннотация: Возможности комплексной диагностики сложных квантово-размерных гетероструктур на основе соеди­нений A{III}B{V}, используемых для создания мощных лазеров, продемонстрированы на примере структур с квантовой ямой GalnP/GaAs/AlGaAs, выращенных эпитаксией из металлорганической газовой фазы. Исследования спектров катололюминесценции позволили оценить состав барьерных слоев, подтвердить существование квантовой ямы и обнаружить аномалии в их излучении, связанные с изменением состава. При изучении структур в просвечивающем электронном микроскопе были определены толщина барьерных слоев, ширина и состав квантовой ямы, а также обнаружены переходные слои вблизи интерфейсов. Точное определение состава барьерных слоев было выполнено методом рентгеноспектрального микроанализа. Полученные величины параметров использовались при интерпретации данных рентгеновской дифракции, которые подтвердили существование переходных областей и обнаружили градиенты состава и частичную релаксацию в основной части слоев. Результатом проведенных комплексных исследований явились взаимосогласованные и обоснованные данные о составе и толщине слоев, а также данные о качестве интерфейсов, частичной релаксации слоев, существовании переходных слоев и градиентов состава.


Доп.точки доступа:
Конников, С. Г.; Гуткин, А. А.; Заморянская, М. В.; Попова, Т. Б.; Ситникова, А. А.; Шахмин, А. А.; Яговкина, М. А.




   
    Структурные и оптические свойства низкотемпературных МОС-гидридных гетероструктур AlGaAs/GaAs (100) на основе твердых растворов вычитания [Текст] / П. В. Середин [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 12. - С. 1654-1661 : ил. - Библиогр.: с. 1660 (15 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
гетероструктуры -- МОС-гидридные гетероструктуры -- низкотемпературные МОС-гидридные гетероструктуры -- AlGaAs/GaAs (100) -- твердые растворы вычитания -- структурные свойства -- оптические свойства -- рентгеновская дифракция -- метод рентгеновской дифракции -- сканирующая электронная микроскопия -- метод сканирующей электронной микроскопии -- ИК-спектроскопия -- метод ИК-спектроскопии -- эпитаксиальные гетероструктуры -- кристаллические решетки -- твердые растворы -- температура -- закон Вегарда -- Вегарда закон
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, сканирующей электронной микроскопии и ИК-спектроскопии на отражение изучены свойства эпитаксиальных МОС-гидридных гетероструктур AlGaAs/GaAs (100), выращенных при пониженных температурах. Установлено, что изменение параметра кристаллической решетки твердых растворов AlGaAs от концентрации Al не подчиняется классическому закону Вегарда, а значения параметров меньше, чем у GaAs.


Доп.точки доступа:
Середин, П. В.; Глотов, А. В.; Домашевская, Э. П.; Арсентьев, И. Н.; Винокуров, Д. А.; Станкевич, А. Л.; Тарасов, И. С.




    Давыдов, Д. А.
    Кубическая структура типа DO[3] нестехиометрического монооксида ванадия [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2010. - Т. 91. N 6. - С. 306-311
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
ванадий -- монооксид ванадия -- нестехиометрический монооксид ванадия -- рентгеновская дифракция -- тетраэдрические позиции -- тетраэдрические междоузлия -- металлические подрешетки -- структурные вакансии
Аннотация: Методом рентгеновской дифракции установлено, что нестехиометрический монооксид ванадия VO[y] тождественно равно V[x]O[y] (y = z/x) имеет кубическую (пр. гр. Fm3m) структуру типа DO[3] с размещением атомов V не только на позициях 4 (a) гцк металлической подрешетки, но и на тетраэдрических позициях 8 (c). Это принципиально отличает монооксид VO[y] от сильно нестехиометрических соединений MX[y] со структурой B1 и той же пространственной группой, в которых атомы M, X и структурные вакансии металлической и неметаллической подрешеток распределены только по позициям 4 (a) и 4 (b).


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Ильющенко, А. Ф.
    Исследование влияния отрицательных температур на деградацию структуры и свойств регенератора жидкого азота [Текст] / А. Ф. Ильющенко, И. В. Фомихина, Ю. О. Лисовская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76. N 3. - С. 52-55. - Библиогр.: с. 55 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 30.3 + 35
Рубрики: Техника
   Материаловедение

   Химическая технология

   Общие вопросы химической технологии

Кл.слова (ненормированные):
влияние температур -- отрицательные температуры -- деградация структур -- регенераторы азота -- жидкий азот -- металлографический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеновская дифракция -- гармонический анализ -- старение металла -- предел текучести -- ударная вязкость
Аннотация: Исследовано влияние отрицательных температур эксплуатации в условиях длительного нагружения на структуру, фазовый состав, параметры тонкой структуры, прочностные характеристики металлических конструкций методами металлографического, рентгеноструктурного анализов, а также механических испытаний.


Доп.точки доступа:
Фомихина, И. В.; Лисовская, Ю. О.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Люминесцентные и структурные свойства пленок ZnO-Ag [Текст] / В. С. Хомченко [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - С. 713-718 : ил. - Библиогр.: с. 718 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
пленки -- ZnO-Ag -- окись цинка -- серебро -- легирование -- подложки -- сублимация -- рентгеновская дифракция -- атомно-силовая микроскопия -- АСМ -- фотолюминесценция -- ФЛ -- кадотолюминесценция -- КЛ -- структурные свойства -- люминесцентные свойства -- излучательные свойства
Аннотация: Пленки ZnO-Ag получены двухступенчатым методом на стеклянных и сапфировых подложках. Легирование серебром осуществлялось методом сублимации с близкого расстояния при атмосферном давлении. Толщина пленок варьировалась от 0. 6 до 7 мкм. Для исследования структурных и излучательных свойств были использованы методы рентгеновской дифракции, атомно-силовой микроскопии, фотолюминесценции и кадотолюминесценции. Изучено влияние условий получения на свойства пленок. Найдено, что легирование серебром модифицирует кристаллическую структуру пленок - способствует ориентированному росту в направлении [0002] монокристаллических блоков размером 500-2000 нм. Улучшение кристаллического качества коррелирует с изменением излучательных характеристик пленок. Обсуждается природа центров свечения.


Доп.точки доступа:
Хомченко, В. С.; Кушниренко, В. И.; Папуша, В. П.; Савин, А. К.; Литвин, О. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Релаксация параметров кристаллической решетки и структурное упорядочение в эпитаксиальных твердых растворах In[x]Ga[1-x]As [Текст] / П. В. Середин [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 8. - С. 1140-1146. : ил. - Библиогр.: с. 1146 (14 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
релаксация (физика) -- кристаллические решетки -- эпитаксиальные пленки -- твердые растворы -- In[x]Ga[1-x]As -- рентгеновская дифракция -- метод рентгеновской дифракции -- сканирующая электронная микроскопия -- метод сканирующей электронной микроскопии -- гетероструктуры -- МОС-гидридная эпитаксия -- металлические подрешетки
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии исследованы эпитаксиальные гетероструктуры In[x]Ga[1-x]As/GaAs (100), выращенные МОС-гидридным методом, со значительно рассогласованными параметрами решетки. Рассчитан коэффициент релаксации кристаллической решетки эпитаксиального твердого раствора, и оценена энергия деформации. Показано, что при концентрациях атомов In в металлической подрешетке, близких к x=0. 5, сверхструктурная фаза, образовавшаяся на поверхности эпитаксиального твердого раствора In[x]Ga[1-x]As, представляет собой соединение InGaAs[2] со слоисто-тетрагональной (layered thetragonal) кристаллической решеткой и упорядоченным расположением атомов металлической подрешетки в плоскости роста эпитаксиальной пленки.


Доп.точки доступа:
Середин, П. В.; Глотов, А. В.; Домашевская, Э. П.; Арсентьев, И. Н.; Винокуров, Д. А.; Станкевич, А. Л.; Тарасов, И. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Магнетизм манганита LiMn[2]O[4] в структурно упорядоченном и разупорядоченном состояниях [Текст] / Ю. Г. Чукалкин [и др. ] // Физика твердого тела. - 2010. - Т. 52, вып. 12. - С. 2382-2388. . - Библиогр.: с. 2391 (3 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
магнетизм манганита -- методы -- нейтронная дифракция -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Методами нейтронной и рентгеновской дифракций, а также магнитными методами изучены особенности кристаллической структуры и магнитное состояние стехиометрического литиевого манганита в структурно упорядоченном Li[Mn[2]]O[4] и разупорядоченном Li[1]-дельтаMnдельта[Mn[2]-дельтаLiдельта]O[4] (дельта=1/6) состояниях. Структурно разупорядоченное состояние манганита получено облучением флюенсом быстрых (E[eff]>=1 MeV) нейтронов 2 10{20} cm{-2} при температуре 340 K. Показано, что в исходном образце вблизи комнатной температуры возникает зярядовое упорядочение разновалентных ионов марганца, сопровождающееся орторомбическими искажениями кубической структуры шпинели, а при низких температурах реализуется дальний антиферромагнитный порядок с волновым вектором k=2пи/c (0, 0, 0. 44). Установлено, что структурное разупорядочение приводит к радикальным изменениям структурного и магнитного состояний LiMn[2]O[4]. Разрушается зарядовое упорядочение, и структура остается кубической даже при 5 K. Антиферромагнитный тип порядка трансформируется в ферримагнитный с локальными спиновыми отклонениями в октаэдрической подрешетке из-за возникновения межподрешеточных обменных связей.


Доп.точки доступа:
Чукалкин, Ю. Г.; Теплых, А. Е.; Пирогов, А. Н.; Келлерман, Д. Г.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Шошин, Евгений Александрович (кандидат технических наук; доцент).
    Структурообразование цементного камня в присутствии изомерных углеводов [Текст] / Е. А. Шошин, Н. Н. Былинкина // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2012. - № 67. - С. 230-236 : ил. - Библиогр.: с. 236 (15 назв.) . - ISSN 1999-8341
УДК
ББК 38.3
Рубрики: Строительство
   Строительные материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
структурообразование -- цементный камень -- изомерные углеводы -- рентгеновская дифракция -- углеводы -- гелевые фазы -- кристаллические фазы
Аннотация: Исследования структуры модифицированного цементного камня методом рентгеновской дифракции показали, что в присутствии небольших количеств углеводов изомерного строения наблюдается изменение не только структуры гелевой фазы цементного камня, но и состава его кристаллических фаз.The study of the modified cement gel structure by the XRD-method has shown that a small amount of carbohydrates changes both the structure of cement gel and ce ment crystal phases configuration. The structure and configuration of crystal phases differs for every type of the carbohydrate.


Доп.точки доступа:
Былинкина, Нина Николаевна (научный сотрудник)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Востров, Владимир Николаевич (1944-).
    Исследование остаточных напряжений в раскатанных деталях методом дифракции рентгеновских лучей [Текст] / В. Н. Востров, Н. А. Яблокова, П. В. Кононов // Научно-технические ведомости СПбГПУ. - 2013. - № 1 (166). - С. 223-230 : граф., ил., диагр., табл. - Библиогр.: с. 230 (11 назв.) . - ISSN 1994-2354
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские лучи -- дифракция рентгеновских лучей -- раскатанные детали -- остаточное напряжение -- неразрушающие методы контроля -- алюминиевые детали -- трубчатые заготовки -- детали с фланцами -- кузнечная обработка -- металлические структуры -- дифрактометры -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Исследованы неразрушающим методом дифракции рентгеновских лучей остаточные напряжения и структура поверхностей детали из алюминиевого сплава АК7 с фланцем, изготовленным раскаткой на трубчатой заготовке.Residual pressure (voltage) and structure of surfaces of a detail with a flange from the aluminium alloy АК7, made by plastic processing on tubular preparation are investigated by not destroying method of diffraction of X-rays.


Доп.точки доступа:
Яблокова, Наталья Александровна; Кононов, Павел Васильевич
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Создание новых дисперсных композиционных материалов на основе порошковых систем Аl – 3d-металлы с использованием электрофизической обработки [Текст] / И. Ш. Абдуллин [и др.] // Перспективные материалы. - 2013. - № 5. - С. 79-83 : 4 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 82-83 (10 назв. ) . - ISSN 1028-978Х
УДК
ББК 34.39
Рубрики: Технология металлов
   Порошковая металлургия

Кл.слова (ненормированные):
плазма -- порошковые материалы -- алюминий -- железо -- кристаллическая модификация -- интерметаллиды -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Получены интерметаллиды на основе порошковых систем Аl – 3d-металлы методом ВЧ-плазменного воздействия на композиционные материалы.


Доп.точки доступа:
Абдуллин, И. Ш.; Сурков, В. А.; Дресвянников, А. Ф.; Лыгина, Т. З.; Наумкина, Н. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Влияние комплексного гетеровалентного легирования на температурные и полевые фазовые превращения в твердых растворах Pb[1-p]La[p][Zr[0.9]Mg[(0.1+p)/3]Nb[(0.2-p)/3]]O[3] [Текст] / Э. А. Бикяшев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 8. - С. 929-932. - Библиогр.: c. 932 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 22.331
Рубрики: Физика
   Электростатика

Кл.слова (ненормированные):
гетеровалентное легирование -- дипольное упорядочение -- диэлектрическая проницаемость -- керамика -- рентгеновская дифракция -- сканирующая электронная микроскопия -- твердые растворы
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, сканирующей электронной микроскопии, а также на основе результатов исследования диэлектрической проницаемости, относительной деформации и поляризации керамических образцов показано, что характер и степень дипольного упорядочения в твердых растворах системы Pb[1-p]La[p][Zr[0. 9]Mg[ (0. 1+p) /3]Nb[ (0. 2-p) /3]]O[3] (0<или равно р<или равно 0. 03) зависят от состава, температуры и микроструктуры керамики.


Доп.точки доступа:
Бикяшев, Э. А.; Толстунов, М. И.; Рюш, И. О.; Решетникова, Е. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Влияние примесей кислорода и азота на состав фаз, образующихся при наносплавлении в системе Fe-C [Текст] / В. А. Волков [и др.] // Материаловедение. - 2014. - № 11. - С. 17-23 . - ISSN 1684-579Х
УДК
ББК 34.1
Рубрики: Технология металлов
   Общая технология металлов

Кл.слова (ненормированные):
фазовые превращения -- механоактивация -- аморфные сплавы -- сплавы -- металлические сплавы -- карбиды железа -- примеси -- кислород -- азот -- наносплавление -- система Fe-C -- Fe-C -- рентгеновская дифракция -- мессбауэровская спектроскопия -- фазообразование -- механосплавление
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и мессбауэровской спектроскопии исследовались процессы фазообразования в сплавах на основе Fe75C25 и Fe90C10, легированных примесями кислорода и азота, при механосплавлении в шаровой планетарной мельнице. Введение примесей O и N в сплавы на основе Fe75C25 способствует образованию карбидов Fe5C2 и Fe7C3, совместно с карбидом Fe3C, образующимся в сплаве без примесей.


Доп.точки доступа:
Волков, В. А.; Елькин, И. А.; Протасов, А. В.; Елсуков, Е. П.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)