Исследование эволюции структурных дефектов в монокристаллах ZnGeP[2], выращенных методом Бриджмена [Текст] / Г. А. Верхозубова [и др.]> // Известия Томского политехнического университета. - 2012. - Т. 321, № 2 : Математика и механика : Физика. - С. 121-128 : ил. - Библиогр.: с. 127-128 (22 назв.) . - ISSN 1684-8519
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): структурные дефекты -- монокристаллы -- метод Бриджмена -- Бриджмена метод -- результаты исследований -- рентгеновская топография -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- продольные срезы -- поперечные срезы -- численные оценки -- кристаллизация -- кристаллы -- выращивание кристаллов -- топографические исследования Аннотация: Представлены результаты исследований структурных дефектов в монокристалле ZnGeP[2], выращенном методом Бриджмена в вертикальном варианте. Методом рентгеновской просвечивающей топографии на основе эффекта Бормана исследованы продольный срез и три поперечных среза монокристалла. Обнаружено различие структур дефектов в начальной, срединной и концевой частях кристалла. Приведены численные оценки поведения фронта кристаллизации в процессе выращивания кристалла. Получено хорошее соответствие численных оценок и результатов топографических исследований. Доп.точки доступа: Верхозубова, Галина Александровна; Филиппов, Максим Михайлович; Грибенюков, Александр Иванович; Трофимов, Андрей Юрьевич; Окунев, Алексей Олегович; Стащенко, Владимир Александрович Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |