Рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением первичного излучения для исследования кинетики напыления тонких пленок [Текст] / В. М. Разномазов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентные спектрометры -- полное внешнее отражение -- отражение излучения -- первичное излучение -- кинетика напыления -- напыление тонких пленок -- предел обнаружения -- элементный состав -- сверхтонкие пленки -- неразрушающий контроль -- рентгенофлуоресцентный анализ -- РФС-001 Аннотация: Разработан рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением и минимальным пределом обнаружения по цинку n*10{-10} г, позволяющий проводить анализ элементов от магния до урана. Доп.точки доступа: Разномазов, В. М.; Пономаренко, В. О.; Новиковский, Н. М.; Величко, Ю. И.; Ковтун, А. П.; Ведринский, Р. В.; Сарычев, Д. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Алов, Н. В. Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением: физические основы и аналитическое применение (обзор) [Текст] / Н. В. Алов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 4-14. - Библиогр.: с. 13-14 (79 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентный анализ -- полное внешнее отражение -- методы анализа -- рентгеноспектральный анализ -- эффект полного внешнего отражения -- отражение рентгеновских лучей -- преломление рентгеновских лучей -- стоячие волны -- рентгеновская флуоресценция -- энергодисперсионные спектрометры -- химический анализ -- неразрушающий анализ -- поверхностные слои -- морфология поверхности Аннотация: Дан обзор современного состояния одного из наиболее перспективных методов рентгеноспектрального анализа - рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Егоров, В. К. Повышение эффективности РФА ПВО спектроскопии в результате применения рентгеновских волноводов-резонаторов [Текст] / В. К. Егоров, Е. В. Егоров, М. С. Афанасьев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 2. - С. 23-35. . - Библиогр.: с. 34-35 (35 назв. )
Рубрики: Физика Рентгеновские лучи. Гамма-лучи Электричество и магнетизм в целом Кл.слова (ненормированные): РФА ПВО спектроскопия -- рентгенофлуоресцентный анализ -- полное внешнее отражение -- рентгеновские волноводы-резонаторы -- рентгеновское излучение -- поверхностные слои Аннотация: Кратко обсуждены вопросы рентгенофлуоресцентного анализа в условиях полного внешнего отражения пучка возбуждения от анализируемой поверхности. Доп.точки доступа: Егоров, Е. В.; Афанасьев, М. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Рентгенофлуоресцентный сперктрометр с полным внешним отражением для элементного анализа водорослей-макрофитов [Текст] = Total x-reflected spectrometer for elemental composition analysis of seaweeds / В. М. Разномазов [и др. ] // Экология промышленного производства. - 2011. - N 1. - С. 80-84. : 4 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 83 (10 назв. )
Рубрики: Охрана природы Экология Кл.слова (ненормированные): монохроматизация спектра первичного излучения -- морские водоросли -- полное внешнее отражение -- рентгенофлуоресцентный анализ -- рентгенофлуоресцентный спектрометр -- элементный состав -- РФС Аннотация: Представленый спектрометр РФС-002 испытан на образцах сухих остатков морских водорослей-макрофитов, растворенных в азотной кислоте. Доп.точки доступа: Разномазов, Валерий Михайлович (кандидат физико-математических наук); Алешина, Елена Геннадиевна; Новиковский, Николай Михайлович; Полуянова, Галина Ивановна; Пономаренко, Валерий Олегович; Громов, Валентин Валентинович; Величко, Юрий Иванович (кандидат технических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Лидер, В. В. Метод стоячих рентгеновских волн для диагностики поверхности и нанослоев конденсированных сред (обзор) [Текст] / В. В. Лидер // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 9. - С. 26-35. - Библиогр.: с. 33-35 (81 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): метод стоячих рентгеновских волн -- стоячие волны -- рентгеновские волны -- диагностика поверхности -- диагностика нанослоев -- конденсированные среды -- обзоры -- структурно-чувствительная спектроскопия -- тонкие пленки -- наноструктуры -- вторичное излучение -- флуоресцентное излучение -- дифракция -- кривая дифракционного отражения -- полное внешнее отражение -- интерференция -- пленка Ленгмюра - Блождетт -- Ленгмюра - Блождетт пленка Аннотация: Описан метод стоячей рентгеновской волны - структурно-чувствительная спектроскопия поверхности конденсированных сред и тонких пленок. Рассмотрены основы теории метода и возможности его использования для исследования кристаллических и органических наноструктур. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |