Алов, Н. В. Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением: физические основы и аналитическое применение (обзор) [Текст] / Н. В. Алов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 4-14. - Библиогр.: с. 13-14 (79 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентный анализ -- полное внешнее отражение -- методы анализа -- рентгеноспектральный анализ -- эффект полного внешнего отражения -- отражение рентгеновских лучей -- преломление рентгеновских лучей -- стоячие волны -- рентгеновская флуоресценция -- энергодисперсионные спектрометры -- химический анализ -- неразрушающий анализ -- поверхностные слои -- морфология поверхности Аннотация: Дан обзор современного состояния одного из наиболее перспективных методов рентгеноспектрального анализа - рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Лидер, В. В. Рентгенодифракционные методы диагностики поверхности и нанослоев кристаллических структур (обзор) [Текст] / В. В. Лидер // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 8. - С. 24-34. - Библиогр.: с. 32-34 (73 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгенодифракционные методы диагностики -- диагностика поверхности -- диагностика нанослоев -- поверхности кристаллических структур -- кристаллические структуры -- обзоры -- тонкие поверхностные слои -- рентгеновская дифрактометрия -- асимптотическая брэгговская дифракция -- брэгговская дифракция -- отражение рентгеновских лучей -- рассеяние рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- скользящая геометрия Аннотация: Рассмотрены рентгенодифракционные методы исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и характеризации структур, содержащих нанослои: двух- и трехкристальная дифрактометрия, асимптотическая дифракция, дифракция в условиях полного внешнего отражения рентгеновских лучей. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |