Беспалова, Н. В. Моделирование оптического поля в ближней зоне [Текст] / Н. В. Беспалова> // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2009. - N 43. - С. 20-24 : ил. - Библиогр.: с. 24 (4 назв. ) . - ISSN 1999-8341
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- оптическая микроскопия -- численное моделирование -- оптические поля -- синусоидальные дифракционные решетки -- моделирование рассеяния света Аннотация: Представлен полуаналитический метод расчета оптического поля рассеяния в ближней зоне. Приведены результаты моделирования для диэлектрической и проводящей поверхностей. |
Паращук, В. В. Оптимизация предельных режимов стримерного полупроводникового лазера [Текст] / В. В. Паращук, К. И. Русаков, Р. Б. Джаббаров> // Известия Томского политехнического университета. - 2007. - Т. 310, N 1. - С. 82-86 : ил. - Библиогр.: с. 86 (11 назв. ). . - ISSN 1684-8519
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые лазеры -- стримерные лазеры -- предельные режимы -- оптимизация режимов -- электрические поля -- оптические поля -- стримерные разряды -- широкозонные полупроводники -- спектроскопические свойства -- активные среды -- люминесцентные характеристики -- повышение эффективности лазеров -- стримерное свечение Аннотация: Исследовано влияние интенсивных электрического и оптического полей, создаваемых стримерным разрядом в широкозонных полупроводниках, на их спектроскопические свойства. Данный эффект проявляется в возникновении обратимой перестройки люминесцентных характеристик активной среды. Предложены методы существенного повышения срока службы и эффективности стримерного лазера при предельных режимах, основанные на использовании полупроводниковых защитных слоев определенной кристаллографической ориентации и кристаллического микрорельефа с размером элементов порядка длины волны света. Обнаружено и изучено стримерное свечение в новых перспективных соединениях CaGa[2]S[4]: Eu, Ca[4]Ga[2]S[7]: Eu. Доп.точки доступа: Русаков, К. И.; Джаббаров, Р. Б. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Макаров, Вячеслав Петрович. Основы современной электродинамики материальных сред [Текст]. Ч. 2. Уравнения Максвелла / В. П. Макаров, А. А. Рухадзе> // Инженерная физика. - 2013. - № 4. - С. 28-47. - Библиогр.: с. 46-47 (18 назв.) . - ISSN 2072-9995
Рубрики: Физика Классическая электродинамика. Теория относительности Кл.слова (ненормированные): материальные среды -- уравнения Максвелла -- Максвелла уравнения -- принцип относительности -- преобразования Лоренца -- Лоренца преобразования -- современная электродинамика -- оптические поля -- радиофизические поля -- статические поля Аннотация: Показана применимость уравнений Максвелла для описания как оптических, так и радиофизических и даже статических полей. Изложен принцип относительности и получены преобразования Лоренца. Доп.точки доступа: Рухадзе, Анри Амвросьевич Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Стукачев, С. Е. Экспериментальное исследование дифракционного метода регистрации оптических волновых полей [Текст] / С. Е. Стукачев, И. Е. Кожеватов> // Известия вузов. Радиофизика. - 2015. - Т. 58, № 4. - С. 311-318 : 8 рис. - Библиогр.: с. 317-318 (9 назв. ) . - ISSN 0021-3462
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): волновые поля -- дифракционный метод -- оптические поля -- экспериментальные исследования Аннотация: Разработан и экспериментально проверен метод регистрации оптических волновых полей, основанный на дифракции оптического волнового поля на двух дополнительных друг другу экранах. Разработана оптическая схема экспериментальной установки, реализующей данный метод, и порядок эксперимента по измерению фазы оптического волнового поля. Экспериментально исследованы основные характеристики метода, такие как точность и пространственное разрешение. Проведена калибровка разработанной оптической схемы, что позволило устранить систематическую ошибку фазовых измерений, вносимую элементами схемы. Доп.точки доступа: Кожеватов, И. Е. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |