Рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением первичного излучения для исследования кинетики напыления тонких пленок [Текст] / В. М. Разномазов [и др. ]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентные спектрометры -- полное внешнее отражение -- отражение излучения -- первичное излучение -- кинетика напыления -- напыление тонких пленок -- предел обнаружения -- элементный состав -- сверхтонкие пленки -- неразрушающий контроль -- рентгенофлуоресцентный анализ -- РФС-001 Аннотация: Разработан рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением и минимальным пределом обнаружения по цинку n*10{-10} г, позволяющий проводить анализ элементов от магния до урана. Доп.точки доступа: Разномазов, В. М.; Пономаренко, В. О.; Новиковский, Н. М.; Величко, Ю. И.; Ковтун, А. П.; Ведринский, Р. В.; Сарычев, Д. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |