Тодуа, П. Нанотехнологии. Нанометрология и стандартизация [Текст] / П. Тодуа // Наноиндустрия. - 2009. - N 2. - С. 32-38 : ил.: 5 рис. - Библиогр.: с. 38 (16 назв. )
Рубрики: Техника Организация промышленного производства Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- нанометрология -- стандартизация -- оптоэлектроника -- нанообъекты Аннотация: Все страны, вступившие в нанотехнологический прорыв, прекрасно представляют необходимость опережающего развития метрологии в этой области, ибо уровень точности и достоверности измерений способен либо стимулировать ее развитие, либо быть сдерживающим фактором. |
Российские стандарты для измерений линейных размеров в нанотехнологиях [Текст] / А. Кузин [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 3. - С. 30-35 : ил.: 7 рис. - Библиогр.: с. 35 (12 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): метрология -- нанометрология -- нанотехнологии -- линейные измерения -- стандарты Аннотация: Переход к нанотехнологии привел к появлению и развитию нового направления - нанометрологии, с которым связаны теоретические и практические аспекты обеспечения единства измерений в наношкале. Доп.точки доступа: Кузин, А.; Лахов, В.; Новиков, Ю.; Раков, А.; Тодуа, П.; Филиппов, М. |
Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии [Текст] / А. В. Заблоцкий [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 8. - С. 2-6. - Библиогр.: с. 6 (6 назв. ) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): нанометрология -- нанотехнологии -- зондовые микроскопы -- компьютерное моделирование Аннотация: Для преодоления проблемы применения зондовых микроскопов в качестве измерительного средства в нанометровом диапазоне, где размеры зонда сопоставимы с размером исследуемого объекта, представлена новая концепция проведения измерений. Доп.точки доступа: Заблоцкий, А. В.; Батурин, А. С.; Шешин, Е. П.; Бормашов, В. С.; Нагирный В. П.; Коростылев, Е. В. |
Реализация наношкалы в России [Текст] / В. Гавриленко [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 36-42 : ил.: 10 рис. - Библиогр.: с. 42 (6 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): метрология -- нанометрология линейных измерений -- наношкала -- РЭМ -- растровые электронные микроскопы Аннотация: Развитие нанотехнологии требует решения проблемы обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапозоне. Доп.точки доступа: Гавриленко, В.; Новиков, Ю.; Раков, А.; Тодуа, П. |
Яминский, Д. Эталон нанометра [Текст] / Д. Яминский, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 44-45 : ил.: 2 рис. - Библиогр.: с. 45 (4 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): нанометрология -- метрология -- нанометр -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы Аннотация: Развитие современной наноиндустрии не может происходить без существования прочного нанометрологического фундамента. Доп.точки доступа: Яминский, И. |
Раткин, Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники [Текст] / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2011. - N 5. - С. 2-6. . - Библиогр.: с. 6 (18 назв. )
Рубрики: Радиоэлектроника Радиоэлектроника в целом Кл.слова (ненормированные): метрология -- нанотехнологии -- микроэлектроника -- стандартизация -- нанометрология -- калибровка -- наносистемы -- наноматериалы -- микроскопы -- сессии Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) РАН, проведенная в Москве в 2010 г. была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. Обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растворовых электронных микроскопов и атомно-силовых микроскопов. Доп.точки доступа: Отделение нанотехнологий и информационных технологий Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Воинов, А. И. Важнейшие этапы становления мировой нанонауки [Текст] / А. И. Воинов // Финансовый бизнес. - 2014. - № 6. - С. 59-62. - Библиогр.: с. 62 (5 назв.) . - ISSN 0869-8589
Рубрики: Наука. Науковедение История науки Кл.слова (ненормированные): нанонаука -- нанотехнологии -- история развития -- изобретения -- электронные микроскопы -- атомносиловые микроскопы -- сканирующие туннельные микроскопы -- нанометрология -- национальные программы Аннотация: Сегодня нанонаука – один из приоритетных векторов развития экономики знаний в постиндустриальном обществе. В статье освещены основные этапы становления и развития мировой нанонауки. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Воинов, А. И. Важнейшие этапы становления мировой нанонауки [Текст] / А. И. Воинов // Финансовый бизнес. - 2015. - № 2. - С. 70-73. - Библиогр.: с. 73 (6 назв.) . - ISSN 0869-8589
Рубрики: Наука. Науковедение История науки Кл.слова (ненормированные): атомарный уровень -- изобретения -- история развития -- нанометрология -- нанонаука -- нанотехнологии -- сканирующие туннельные микроскопы -- электронные микроскопы Аннотация: Сегодня нанонаука - один из приоритетных векторов развития экономики знаний в постиндустриальном обществе. В статье прослежены основные этапы развития мировой нанонауки. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Юрин, Александр Игоревич (кандидат технических наук; доцент). Проблемы подготовки специалистов в области метрологии наноиндустрии [Текст] = The Problems of Training for Metrology of Nanoindustry / А. И. Юрин, М. И. Красивская, А. В. Дмитриев // Качество. Инновации. Образование. - 2015. - № 3. - С. 19-22. - Библиогр.: с. 21 (4 назв.)
Рубрики: Образование. Педагогика Высшее профессиональное образование Кл.слова (ненормированные): вузы -- инженерное образование -- кадровое обеспечение -- метрологическое обеспечение -- метрология -- нанометрология -- нанотехнологии -- образовательные стандарты -- образовательные технологии -- подготовка кадров -- предприятия -- сотрудничество Аннотация: В статье обоснована необходимость повышения качества подготовки высококвалифицированных кадров в области метрологии и метрологического обеспечения наноиндустрии. Рассмотрены общие проблемы метрологического образования и проблемы, связанные с принятием профессионального стандарта инженера-метролога, в области нанотехнологий. Предложены пути решения существующих проблем. Приведен пример успешной реализации сотрудничества вуза и предприятия в области подготовки метрологических кадров наноиндустрии. Доп.точки доступа: Красивская, Мария Игоревна (старший преподаватель); Дмитриев, Алексей Викторович (кандидат технических наук; доцент) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |