Фортинский, Ю. К. Математическое обеспечение проведения конкурсов [Текст] / Ю. К. Фортинский // Инженерная физика. - 2009. - N 8. - С. 31-33
Рубрики: Вычислительная техника Прикладные информационные (компьютерные) технологии в целом Кл.слова (ненормированные): информационные технологии -- микроэлектроника -- микроэлектронные компоненты -- проведение конкурсов Аннотация: Рассматривается математическое обеспечение проведения конкурсов по созданию микроэлектронных компонентов. |
Куцько, П. П. Автоматизация экспертизы эффективности принимаемых решений по формированию программ НИР/ОКР создания микроэлектронных компонентов двойного назначения [Текст] / П. П. Куцько, Б. А. Подъяпольский // Инженерная физика. - 2009. - N 12. - С. 27-30
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): эффективность решений -- экспертиза эффективности -- комплексно-целевые программы -- микроэлектронные компоненты Аннотация: В статье рассмотрены предложенные метод, модель и алгоритм средств оценки эффективности программ НИР/ОКР по государственному оборонному заказу в электронной промышленности. Доп.точки доступа: Подъяпольский, Б. А. |
Жукалин, Д. А. Профессиональная деятельность будущих специалистов для производства наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральных схем: концептуальный подход [Текст] / Д. А. Жукалин, Л. В. Поликарпова, И. В. Кирюшина // Вестник Воронежского государственного университета. Сер.: Проблемы высшего образования. - 2021. - № 2. - С. 45-50 : табл. - Библиогр.: с. 50. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки https://elibrary.ru . - ISSN 1609-0721
Рубрики: Образование. Педагогика Организация образования Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- квалификационные требования -- микроэлектронные компоненты -- наноэлектроника -- наногетероструктурные интегральные схемы -- национальная рамка квалификаций -- НРК -- образовательные организации -- подготовка кадров -- полупроводниковая продукция -- профессиональная деятельность -- профессиональные компетенции -- профессиональные стандарты -- технологические процессы -- трудовые функции -- функциональные карты -- электронная промышленность Аннотация: Представлен анализ современных технологических процессов при производстве микро- и наноэлектроники. Сформулированы квалификационные требования к специалистам в области наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральных схем, включая входные квалификации для выпускников образовательных организаций. Доп.точки доступа: Поликарпова, Л. В.; Кирюшина, И. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |