Сиенгчин, С. Сравнение длительной и кратковременной ползучести трехкомпонентных композитов полиоксиметилен/полиуретан/окись алюминия [Текст] / С. Сиенгчин // Механика композитных материалов. - 2009. - Т. 45, N 4. - С. 605-614 : 8 ил.; табл. - Библиогр.: с. 614 (13 назв. ) . - ISSN 0203-1272
Рубрики: Техника Сопротивление материалов Химическая технология Гетероцепные полимеры и пластмассы на их основе Кл.слова (ненормированные): трехкомпонентные композиты -- полиоксиметилен -- полиуретан -- композиты -- бемитная окись алюминия -- ползучесть трехкомпонентных композитов -- длительная ползучесть трехкомпонентных композитов -- кратковременная ползучесть трехкомпонентных композитов -- уравнение Вильяма-Ландела-Ферри -- Вильяма-Ландела-Ферри уравнение -- модель степенного закона Финли -- Финли модель степенного закона -- латекс -- подмешивание латекса -- нанокомпозиты -- способ маточной смеси -- полиуретановый латекс -- нанокомпозиты ПОМ/ПУ/БА -- вязкоупругое поведение трехкомпонентных композитов -- метод растровой электронной микроскопии -- метод подмешивания латекса Аннотация: Рассматривается возможность метода подмешивания латекса для дисперсии в наномасштабе бемитной окиси алюминия при изготовлении трехкомпонентных композитов и изучение их длительного и кратковременного вязкоупругого поведения. Трехкомпонентные композиты, состоящие из полиоксиметилена, полиуретана и бемитной окиси алюминия, изготовлены смешиванием расплавов с предварительным подмешиванием латекса и без него. |
Молекулярно-пучковая эпитаксия термодинамически метастабильных твердых растворов GaInAsSb для фотодетекторов среднего ИК-диапазона [Текст] / А. Н. Семенов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - С. 699-705 : ил. - Библиогр.: с. 704 (21 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): молекулярно-пучковая эпитаксия -- МПЭ -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- твердые растворы -- GaInAsSb -- кристаллические решетки -- фотодетекторы -- жидкофазная эпитаксия -- ЖФЭ -- метод жидкофазной эпитаксии -- инфракрасный диапазон -- ИК-диапазон -- рентгеновская дифрактометрия -- РД -- метод рентгеновской дифрактометрии -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- метод растровой электронной микроскопии -- фотолюминесценция -- ФЛ -- кривая дифракционного отражения -- КДО -- дифракция быстрых электронов -- ДБЭ -- оптические свойства -- спинодальный распад -- термодинамические расчеты Аннотация: Изучены особенности роста методом молекулярно-пучковой эпитаксии твердых растворов GaInAsSb с содержанием индия до 25 мол%, согласованных по периоду кристаллической решетки с GaSb. Данные растворы являются перспективными для использования в качестве активной области фотодетекторных структур среднего инфракрасного диапазона. Представлены результаты исследования этих твердых растворов методами двухкристальной рентгеновской дифрактометрии, растровой электронной микроскопии и фотолюминесценции. Показано, что твердые растворы Ga[x]In[1-x]As[y]Sb[1-y] с x<0. 8, выращенные при температуре 500{o}C, демонстрируют деградацию структурных и оптических свойств по мере увеличения толщины слоя. В слоях с толщинами выше критической наблюдается спинодальный распад в полном соответствии с термодинамическими расчетами положения границ областей несмешиваемости. Обсуждаются возможности оптимизации молекулярно-пучкового роста твердых растворов Ga[x]In[1-x]As[y]Sb[1-y] (x<0. 75) с высоким оптическим и структурным совершенством, а также характеристики фотодетекторов на основе гетероструктур GaInAsSb/AlGaAsSb. Доп.точки доступа: Семенов, А. Н.; Терентьев, Я. В.; Мельцер, Б. Я.; Соловьев, В. А.; Попова, Т. В.; Нащекин, А. В.; Андреев, И. А.; Куницына, Е. В.; Усикова, А. А.; Яковлев, Ю. П.; Иванов, С. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Реакционное спекание пористых сплавов на основе никелида титана [Текст] / Н. В. Артюхова [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2014. - Т. 57, № 10. - С. 15-21 : рис., табл. - Библиогр.: c. 15-21 (15 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Механика твердых тел Механика Технология металлов Порошковая металлургия Кл.слова (ненормированные): метод микрорентгеноспектрального анализа -- метод растровой электронной микроскопии -- никелид титана -- память формы -- пористые сплавы никелида титана -- реакционное спекание -- сверхэластичность -- система Ti-Ni -- спекание пористых сплавов -- твердофазное спекание -- фаза TiNi Аннотация: Работа посвящена вопросам реакционного спекания пористых сплавов никелида титана, проявляющих эффект памяти формы. Проведен анализ структуры и параметров эффекта памяти формы для сплавов, полученных при различных режимах реакционного спекания. Определены температурные и временные интервалы появления очагов жидкофазного спекания, ответственных за качественное изменение фазы TiNi в спекаемой реакционной системе Ti-Ni. Исследованы морфология структуры и свойства пористого сплава. Предложены модели взаимодействия фаз и фазовых превращений в спекаемом сплаве. Установлено, что изменение параметров формоизменения пористого никелида титана коррелирует с увеличением объемной доли фазы TiNi и ее связанностью при увеличении времени спекания. Доп.точки доступа: Артюхова, Н. В.; Ясенчук, Ю. Ф.; Kim, J. S.; Гюнтер, В. Э. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |