Ермолаева, Алевтина Ивановна.
    Исследование кинетики процесса испарения водных растворов, используемых в технологиях КНИ и микросистемотехники [Текст] / А. И. Ермолаева, С. Н. Новиков // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 3 (77). - С. 12-17 : рис. - Библиогр.: с. 17 (4 назв. ) . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 24.58
Рубрики: Химия
   Физическая химия поверхностных явлений

Кл.слова (ненормированные):
водные растворы -- чистая вода -- испарение -- температуры -- скорости испарения -- гравиметрический метод -- кремний на изоляторе -- кремниевые пластины -- химические технологии
Аннотация: Цель настоящей работы - исследование процесса испарения воды и водных растворов хлоридов K, Na, Ba и Zn различной консистенции, а также попытка выяснения структуры частиц испаряемой воды.


Доп.точки доступа:
Новиков, Сергей Николаевич




    Овчинников, Вячеслав Алексеевич.
    Разработка технологии ретуширования прозрачных дефектов фотошаблонов на лазерной установке ЭМ-5001Б [Текст] / В. А. Овчинников // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 4. - С. 25-28 : рис. - Библиогр.: с. 28 (4 назв. )
УДК
ББК 32.84
Рубрики: Радиоэлектроника
   Общая радиотехника

Кл.слова (ненормированные):
режим осаждения -- фотолитография -- литографические процессы -- интегральные микросхемы -- кремниевые пластины
Аннотация: Установлена зависимость высоты осажденного материала от режимов осаждения, кратности проходов и длины осажденной линии. Определены технологические режимы процесса устранения прозрачных дефектов на фотошаблоне.





   
    Структурные и электрические свойства подложек SiGe-на-изоляторе, сформированных методом прямого сращивания [Текст] / И. В. Грехов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 8. - С. 1135-1139. : ил. - Библиогр.: с. 1139 (23 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
структурные свойства -- электрические свойства -- прямое сращивание -- метод прямого сращивания -- подложки SiGe-на-изоляторе -- термически окисленные пластины -- кристаллы -- метод Чохральского -- Чохральского метод -- химико-техническая полировка -- термическое окисление -- кремниевые пластины
Аннотация: Предложен новый способ изготовления подложек SiGe-на-изоляторе- прямое сращивание термически окисленных пластин Si с пластинами Si[1-x]Ge[x] из кристаллов, выращенных методом Чохральского. Формирование слоев Si[1-x]Ge[x] толщиной не более 10 мкм в композициях SiGe/SiO[2]/Si осуществлялось химико-механической полировкой. Для увеличения содержания Ge в слое Si[1-x]Ge[x] использовалось термическое окисление. Показано, что увеличение концентрации Ge и процедура термообработок при 1250{o}C не сопровождаются ухудшением структурных и электрических характеристик слоев Si[1-x]Ge[x].


Доп.точки доступа:
Грехов, И. В.; Костина, Л. С.; Аргунова, Т. С.; Белякова, Е. И.; Рожков, А. В.; Шмидт, Н. М.; Юсупова, Ш. А.; Je, J. H.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Коробко, Евгения (доктор технических наук).
    Финишная обработка высокоточных изделий [Текст] / Е. Коробко, Г. Городкин // Наука и инновации. - 2011. - N 1. - С. 11-12. : 2 фот.
УДК
ББК 22.342
Рубрики: Физика
   Геометрическая оптика. Оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
оптоэлектронные приборы -- нанорельеф поверхности оптоприборов -- оптоэлектронные системы -- лазерные гороскопы -- магнитореологическое полирование -- кремниевые пластины -- поверхности -- полировальные жидкости -- полирование
Аннотация: Развитие современных оптических и оптоэлектронных приборов.


Доп.точки доступа:
Городкин, Геннадий
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Антонова, И. В.
    Современные тенденции развития технологий выращивания графена методом химического осаждения паров на медных подложках [Текст] / И. В. Антонова // Успехи физических наук. - 2013. - Т. 183, № 10. - С. 1115-1122 : 6 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 1122 (44 назв.) . - ISSN 0042-1294
ГРНТИ
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
выращивание графена -- графен -- кремниевые пластины -- медные подложки -- монокристаллические домены -- осаждение паров
Аннотация: Обсуждаются способы получения крупных монокристаллических доменов графена и их свойства, а также технологии, не требующие переноса пленки графена на диэлектрическую подложку.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    "Искусственный лист" выделяет водород [Текст] // Электроэнергетика: сегодня и завтра. - 2016. - № 3. - С. 61-62
УДК
ББК 31.63
Рубрики: Энергетика
   Гелиоэнергетика

Кл.слова (ненормированные):
солнечная энергия -- преобразование энергии -- кремниевые пластины -- сверхпроводники -- графен -- наноматериалы -- солнечный свет -- электроэнергия -- водород
Аннотация: Разработка нового устройства, способного преобразовывать энергию солнечного света в электрическую энергию, выделяя водород.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Пилипенко, В. А.
    Влияние быстрой термической обработки на электрофизические свойства двуокиси кремния [Текст] / В. А. Пилипенко, В. А. Солодуха, В. А. Горушко // Инженерно-физический журнал. - 2018. - Т. 91, № 5. - С. 1408-1412 : 2 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 1412 (9 назв. ) . - ISSN 0021-0285
УДК
ББК 32.852 + 32.847
Рубрики: Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы

   Импульсные устройства

Кл.слова (ненормированные):
быстрая термическая обработка -- электрофизические свойства -- двуокись кремния -- нарушенный слой -- кремниевые пластины -- твердофазная рекристаллизация -- коэффициент преломления -- коэффициент поглощения
Аннотация: Исследована возможность улучшения электрофизических параметров подзатворного диэлектрика, полученного в результате пирогенного окисления кремния, путем его быстрой термической обработки. Показано, что такая обработка подзатворного диэлектрика позволяет уменьшить напряжение плоских зон, заряд на границе раздела кремний-двуокись кремния и поверхностный потенциал, увеличить пробивное напряжение диэлектрика и уменьшить ток утечки в нем.


Доп.точки доступа:
Солодуха, В. А.; Горушко, В. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)