Ефимова, Д. И. (соискатель). Испытания изделий микроэлектроники для использования в космических аппаратах [Текст] / Ефимова Д. И., Святская Л. О. // Аспирант и соискатель. - 2015. - № 3. - С. 110-112. - Библиогр.: с. 112 (3 назв. ) . - ISSN 1608-9014
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): алгоритмы -- испытания техники -- качество изделий -- конструкторская документация -- конструкторское проектирование -- космические аппараты -- микроэлектроника -- надежность техники -- техническая документация -- экспертиза проектов Аннотация: Описан алгоритм создания микроэлектронных изделий от разработки технических требований и экспертизы конструкторской документации до испытаний на качество и надежность. Доп.точки доступа: Святская, Л. О. (соискатель) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Соглашения о взаимном признании результатов оценки соответствия: обзор практики применения [Текст]. Часть 2 / И. Аронов [и др.] // Стандарты и качество. - 2019. - № 4. - С. 38-41. - Библиогр.: с. 41 (5 назв.). - Начало: № 3 . - ISSN 0038-9692
Рубрики: Право Организация межотраслевого управления--Европа Кл.слова (ненормированные): соглашения о взаимном признании -- оценка соответствия -- сертификация -- испытания техники -- гармонизация законодательств Аннотация: Авторы проводят анализ практики Евросоюза по формированию соглашений о взаимном признании результатов оценки соответствия с третьими странами. Доп.точки доступа: Аронов, Иосиф Зиновьевич; Галкина, Наталья Михайловна; Николаева, Татьяна Александровна; Рыбакова, Анна Михайловна; Саламатов, Владимир Юрьевич; Европейский союз; Евросоюз; ЕС Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |