Оптимизация конструкции МИС W/Si для определения Al в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 [Текст] / И. А. Копылец [и др. ]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76, N 7. - С. 33-36. - Библиогр.: с. 36 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): определение алюминия -- алюминий -- рентгеновские спектрометры -- спектрометры -- спектрометрические каналы -- многоканальные спектрометры -- многослойные интерференционные структуры -- интерференционные структуры -- рентгенофлуоресцентный анализ Аннотация: Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Доп.точки доступа: Копылец, И. А.; Пономаренко, А. Г.; Дергун, С. М.; Иванов, Н. Н.; Захаров, А. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |