Методы многоуровневого анализа быстродействия цифровых КМОП СБИС [Текст] / А. Л. Стемпковский [и др. ] // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 4. - С. 28-36 : ил. - Библиогр.: с. 36 (12 назв. )
УДК
ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
   Электротехника

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- СБИС -- сверхбольшие интегральные схемы -- временной анализ -- КМОП-схемы
Аннотация: Рассмотрены современные стандарты описания быстродействия библиотечных ячеек - NLDM и ECSM. Описано использование этих моделей для временного анализа КМОП-схем. Предложен новый метод построения логико-электрических макромоделей КМОП-ячеек на основе ECSM.


Доп.точки доступа:
Стемпковский, Александр Леонидович; Гаврилов, Сергей Витальевич; Глебов, Алексей Львович; Егоров, Юрий Борисович




    Горлов, Митрофан Иванович.
    Диагностика надежности ИС по НЧ-шуму с использованием термоциклирования [Текст] / М. И. Горлов, Н. Н. Козьяков, Д. Ю. Смирнов // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 4. - С. 89-91 : граф. - Библиогр.: с. 91 (5 назв. )
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые изделия -- термоциклирование -- интегральные схемы -- шумы -- уровни
Аннотация: Предложена методика, направленная на повышение достоверности результатов отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем с использованием термоциклирования.


Доп.точки доступа:
Козьяков, Николай Николаевич; Смирнов, Дмитрий Юрьевич




    Антонов, Юрий Николаевич.
    Применение нечетких моделй данных для регулирования технологического процесса изготовления плат гибридных интегральных схем [Текст] / Ю. Н. Антонов // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 2. - С. 29-34. - Библиогр.: с. 34 (8 назв. )
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Общие вопросы радиоэлектроники

Кл.слова (ненормированные):
гибридные схемы -- лазерная подгонка -- платы -- нечеткие модели -- технологические прогнозы -- регулирование -- технологические процессы -- интегральные схемы -- резиспевные элементы -- гибридная микроэлектроника
Аннотация: Рессмотрен метод регулирования технологического процесса производства плат гибридных интегралльных схем, основанный на применении нечетких моделей данных.





    Мосин, Сергей Геннадьевич.
    Анализ методов встроенного самотестирования аналоговых и смешанных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Известия вузов. Электроника. - 2007. - N 2. - С. 85-90. - Библиогр.: с. 90 (12 назв. )
УДК
ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
   Электротехника

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- компьютерные шины -- диагностирование -- тесты -- цифровые схемы -- аналоговые схемы -- смешанные схемы -- bist-технологии -- самотестирование -- методы
Аннотация: Проведен анализ подхода встроенного самотестирования аналоговых и смешанных интегральных схем.





    Подвигалкин, Виталий Яковлевич.
    Оптоэлектронные объемные интегральные схемы как базовые элементы для быстродействующих электронных систем управления [Текст] / В. Я. Подвигалкин, Н. М. Ушаков // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 26. - С. 100-106. - Библиогр.: с. 106 (8 назв. )
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- оптоэлектронные интегральные схемы -- ООИС -- радиоэлектронные системы управления -- фотонные системы управления -- электронная микросборка -- пленочные технологии (электроника)
Аннотация: Предложены оптоэлектронные объемные интегральные схемы (ООИС) в виде микросборок и микроблоков в качестве новых базовых элементов фотонных и радиоэлектронных систем управления. Проведено сравнение технических и экономических показателей известных пленочных технологий для создания ООИС.


Доп.точки доступа:
Ушаков, Н. М. (д-р физ.-мат. наук, проф.)




    Горлов, Митрофан Иванович.
    Достоверность диагностических методов исследования на основе анализа низкочастотных шумов [Текст] / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Н. Н. Козьяков // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 1 (75). - С. 79-86 : рис. . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 22.331 + 32.85
Рубрики: Физика
   Электростатика

   Радиоэлектроника

   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
диагностические методы -- шумы -- низкочастотные шумы -- исследования -- интегральные схемы
Аннотация: Рассмотрены различные методы разделения партии интегральных схем с использованием шумовых параметров с целью определения их достоверности.


Доп.точки доступа:
Смирнов, Дмитрий Юрьевич; Козьяков, Николай Николаевич




    Трубочкина, Надежда Константиновна (д-р техн. наук ; проф.).
    Переходная 3D наносхемотехника - новая концепция и новое качество в создании трехмерных интегральных схем [Текст] = 3D Junction Circuit Engineering as a new Conceptand new Quality in Creation of the Three-Dimensional Intergrated Circuits / Н. К. Трубочкина // Качество. Инновации. Образование. - 2009. - N 5. - С. 31-41 : 5 табл., 10 рис. - Библиогр.: с. 40 (19 назв. ) . - ISSN хххх-хххх
УДК
ББК 32.85 + 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

   Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
микросхемы -- интегральные схемы -- трехмерные интегральные схемы -- наносхемотехника -- схемотехника -- интегральная схемотехника -- переходная схемотехника -- программное обеспечение
Аннотация: Автор предлагает концепцию и новый подход к пониманию и освоению свойств трехмерных интегральных схем. Разработан математический аппарат для синтеза математических моделей переходной схемотехники и их визуализации.





    Овчинников, Вячеслав Алексеевич.
    Технологические режимы поиска дефектов фотошаблонов на установке контроля топологии ЭМ-6029М [Текст] / В. А. Овчинников // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 3 (77). - С. 85-87 : табл. - Библиогр.: с. 87 (2 назв. ) . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
тестовые фотошаблоны -- интегральные схемы -- микросхемы -- дефекты фотошаблонов -- автоматический контроль -- тестовые технологии -- технологические режимы
Аннотация: Разработан технологический процесс и режимы оборудования автоматического контроля топологического рисунка фотошаблонов на соответствие проектным данным. Дефектная ведомость позволяет определить тип дефекта, его местоположение, что необходимо для принятия решения его устранения на последующих технологических операциях.





   
    Моделирование напряженно-деформированного состояния материалов бескорпусных многовыводных интегральных схем с шариковыми выводами [Текст] / А. М. Грушевский [и др. ] // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 78. - С. 3-8. - Библиогр.: с. 8 (4 назв. ) . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- напряженно-деформированные состояния -- коммутационные платы -- моделирование -- разнородные материалы
Аннотация: Разработана технология бескорпусных многовыводных ИС с шариковыми выводами, смонтированных непосредственно на прецизионную коммутационную плату. Методами моделирования исследовано напряженно-деформированное состояние материалов бескорпусных многовыводных интегральных схем с шариковыми выводами для высокоинтегрированных микроминиатюрных приборов при температурном воздействии. Разработаны конструктивно-технологические рекомендации по минимизации напряженно-деформированнного состояния соединения разнородных материалов путем их физической совместимости.


Доп.точки доступа:
Грушевский, Александр Михайлович; Погалов, Анатолий Иванович; Блинов, Геннадий Андреевич; Долговых, Юрий Геннадьевич




    Конарев, М. В.
    Методология модификации параметров логических элементов на функционально-логическом уровне для учета радиационного воздействия в САПР [Текст] / М. В. Конарев // Инженерная физика. - 2009. - N 10. - С. 33-35
УДК
ББК 34.92
Рубрики: Приборостроение
   Проектирование приборов

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- САПР -- библиотеки -- функционально-логический уровонь -- моделирования -- неисправности
Аннотация: В статье рассматривается методология моделирования неисправностей радиационного воздействия в САПР. Приведена процедура модификации параметров функционально-логического уровня для создания неисправного элемента на примере логических элементов И-НЕ и ИЛИ-НЕ.





    Горлов, Митрофан Иванович.
    Оценка надежности аналоговых интегральных схем с использованием измерений электрических параметров при внешних воздействиях [Текст] / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 79. - С. 21-27. - Библиогр.: с. 20 (7 назв. ) . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- достоверность -- надежность -- параметры -- оценки -- низкочастотные шумы
Аннотация: Рассмотрены различные методики оценки надежности аналоговых интегральных схем с использованием измерений электрических параметров при внешних воздействиях.


Доп.точки доступа:
Смирнов, Дмитрий Юрьевич




    Сергеев, Вячеслав Андреевич.
    Контроль качества сборки цифровых интегральных схем с использованием матрицы тепловых импедансов [Текст] / В. А. Сергеев, В. В. Юдин // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 80. - С. 72-78. - Библиогр.: с. 78 (10 назв. ) . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- цифровые интегральные схемы -- импедансы -- тепловые импедансы -- измерения -- матрицы
Аннотация: Описаны способ и устройство косвенного измерения параметров матрицы тепловых импедансов (МТИ) логических элементов цифровых интегральных схем (ЦИС). Приведен пример измерения указанных параметров для серийных отечественных ЦИС. Показана возможность выявления дефектных ЦИС по параметрам МТИ.


Доп.точки доступа:
Юдин, Виктор Васильевич




    Александров, Олег Викторович.
    Модель термического окисления кремния с релаксацией коэффициента диффузии [Текст] / О. В. Александров, А. И. Дусь // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 4. - С. 9-18 : рис. - Библиогр.: с. 17-18 (22 назв. )
УДК
ББК 31.232
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
диэлектрики -- кремний -- интегральные схемы -- термическое окисление -- эффект памяти
Аннотация: На основе объемной модели окисления с учетом влияния внутренних механических напряжений и временной релаксации коэффициента диффузии окислителя в диоксиде проведен количественный анализ эффектов, наблюдающихся при обычном, быстром и многостадийном термическом окислении кремния.


Доп.точки доступа:
Дусь, Андрей Игоревич




    Кларк, Уэсли (старший научный сотрудник Центра международных отношений Рона Беркла).
    Обеспечение безопасности информационной магистрали [Текст] : как усовершенствовать системы электронной защиты США / У. Кларк, П. Левин // Россия в глобальной политике. - 2010. - N 2. - С. 174-185
УДК
ББК 73 + 66.4(0),3
Рубрики: Информатика
   Информатизация общества. Информационная политика--США, 21 в. нач.

   Политика. Политология

   Международные проблемы

Кл.слова (ненормированные):
кибератаки -- кибербезопасность -- кибернетические угрозы -- киберпространство -- киберсети -- киберугрозы -- электронные сети -- информационные инфраструктуры -- информационные технологии -- информация -- компьютеры -- интегральные схемы -- компьютерная безопасность -- безопасность -- цифровая инфраструктура
Аннотация: Новая тема, которая получит развитие в XXI веке, - кибербезопасность. Электронная защита США уязвима. Авторы предупреждают о том, что Соединенные Штаты не готовы к угрозам в адрес своей компьютерной инфраструктуры. Вашингтону следует действовать быстро, чтобы гарантировать безопасность компьютерных сетей, программного и аппаратного обеспечения.


Доп.точки доступа:
Левин, Питер (главный технолог и старший советник руководителя)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Заболотский, А. А. (кандидат экономических наук).
    Новые возможности ускоренной, неоиндустриальной фаблесс-схемы развития отраслей цифровой микроэлектроники [Текст] / А. А. Заболотский // Инновации. - 2010. - N 3. - С. 50-53. : табл. - Библиогр.: с. 57 (9 назв. )
УДК
ББК 32.844
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоаппаратура

Кл.слова (ненормированные):
фаблесс-схемы -- фаблесс-компании -- микроэлектроника -- цифровая инфраструктура -- полупроводниковые приборы -- интегральные схемы -- зарубежные компании -- fabless -- fablite
Аннотация: Данная статья посвящена схеме ускоренной индустриализации в полупроводниковой отрасли методов развития фаблесс-компаний. Актуальность данной статьи определяется необходимостью создания эффективного механизма развития полупроводниковой отрасли в России.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Микро- и наноэлектроника применительно к системам радиолокации и радиосвязи [Текст] = Micro- and Nanoelectronics Relating to Radar and Radio Communication Systems / Р. П. Быстров [и др. ] // Успехи современной радиоэлектроники. - 2010. - N 9. - С. 11-50. : 9 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 48-50 (61 назв. )
УДК
ББК 32.884 + 32.95 + 32.973-04 + 32.973-04
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиосвязь и радиовещание

   Радиолокация

   Вычислительная техника

   Блоки обработки данных

   Запоминающие устройства

Кл.слова (ненормированные):
зарубежные исследования -- интегральные схемы -- квантовые компьютеры -- классификация наноматериалов -- космические системы -- лазерная техника -- магнитосопротивление пленок -- микроэлектроника -- многослойные нанотрубки -- молекулярная электроника -- нанокомпозитные покрытия -- наноматериалы -- нанотехнологии -- нанотрубки -- нанофотоника -- наноэлектроника -- применение углеродных трубок -- радиолокация -- радиосвязь -- СВЧ-электроника -- системы связи -- спинтроника -- углеродные наноматериалы -- углеродные нанотрубки -- устройства для ЭВМ -- функциональные устройства -- ЭВМ
Аннотация: По материалам отечественных и зарубежных источников рассмотрены некоторые вопросы в области исследований микро- и наноэлектроники в части особенностей развития углеродных нанотрубок как структуры новых материалов в радиофизике применительно к системам радиолокации и радиосвязи.


Доп.точки доступа:
Быстров, Р. П.; Гуляев, Ю. В.; Никитов, С. А.; Соколов, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Технологический вариант реализации конструкции БИС преобразователя емкость-напряжение для микроэлектромеханических датчиков [Текст] / А. И. Белоус [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 8. - С. 2-6. . - Библиогр.: с. 6 (6 назв. )
УДК
ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектромеханические датчики -- преобразователь емкость-напряжение -- интегральные схемы -- микромеханические сенсоры -- дифференциальный конденсатор
Аннотация: Рассмотрен один из вариантов конструктивно-технологического построения и создания БИС преобразователя емкость-напряжение для электронной схемы миниатюрных микроэлектромеханических датчиков с емкостным выходом. Предлагаемая БИС может быть использована для построения широкой номенклатуры МЭМС с емкостным выходом от чувствительного элемента на основе анодного оксида алюминия.


Доп.точки доступа:
Белоус, А. И.; Гасенкова, И. В.; Дрозд, С. Е.; Коннов, Е. В.; Мухуров, Н. И.; Белоус, В. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Коломейцев, В. А.
    Корректировка параметров эквивалентной схемы СВЧ-полевого транзистора с затвором Шоттки для разработки усилителя мощности в Х-диапазоне [Текст] / В. А. Коломейцев, А. В. Езопов // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2010. - N 46. - С. 112-11 5. : ил. - Библиогр.: с. 115 (4 назв. )
УДК
ББК 32.87-5
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроакустическая аппаратура

Кл.слова (ненормированные):
эквивалентные схемы транзисторов -- транзисторы -- СВЧ-полевые транзисторы -- затворы Шоттки -- Шоттки затворы -- усилители мощности Х-диапазона -- Х-диапазоны -- схемы транзисторов -- проектирование монолитных интегральных схем -- монолитные интегральные схемы -- интегральные схемы
Аннотация: Описан цикл разработки усилителя мощности Х-диапазона. Проведена корректировка параметров эквивалентной схемы СВЧ-полевого транзистора. Приведены сравнительные графики теоретических и экспериментальных частотных зависимостей параметров усилителя до и после корректировки.


Доп.точки доступа:
Езопов, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Разработка нейрочипов на ПЛИС для обработки сигналов мультисенсорных систем для идентификации газов [Текст] / А. А. Мащенко [и др. ] // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2010. - N 51. - С. 164-167. : ил. - Библиогр.: с. 167 (3 назв. )
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
электронный нос -- ЭН -- экспресс-диагностика -- нейрочипы -- программируемые логические интегральные схемы -- ПЛИС -- нейронные сети -- логические интегральные схемы -- интегральные схемы -- мультисенсорные системы -- обработка сигналов мультисенсорных систем -- идентификация газов -- газы
Аннотация: Рассматривается возможный подход аппаратной реализации нейронных сетей на ПЛИС.


Доп.точки доступа:
Мащенко, Артем Андреевич (аспирант); Лашков, Андрей Владимирович (студент); Мусатов, Вячеслав Юрьевич (доцент); Сысоев, Виктор Владимирович (доцент)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    2 1/2-мерная технология и делитель каналов [Текст] = 2 1/2 dimensional technology and channel divider / С. Б. Клюев [и др. ] // Успехи современной радиоэлектроники. - 2011. - N 5. - С. 28-30. : 3 рис. - Библиогр.: с. 30 (9 назв. ). - (Ученые России: Александр Алексеевич Потапов)
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
двойные щелевые линии -- делители каналов -- интегральные схемы -- КВЧ диапазон -- модели -- объемные интегральные схемы -- поглощающие покрытия -- СВЧ диапазон -- щелевые линии -- эквивалентные схемы
Аннотация: Показано существенное преимущество 2 1/2-мерной технологии при построении одного из базовых элементов техники объемных интегральных схем СВЧ и КВЧ, а именно, делителя канала, построенного на сочетании двойной щелевой линии и двух нетрадиционных щелевых линий. Анализ проведен на основе численного метода сеток по программе Ansoft HFSS v. 10.


Доп.точки доступа:
Клюев, С. Б,; Нефедов, Е. И.; Черникова, Т. Ю.; Цзи, У.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)