Шифрин, Е. И. Идентификация эллипсоидального дефекта в упругом теле по результатам одного испытания на одноосное растяжение (сжатие) [Текст] / Е. И. Шифрин // Известия РАН. Механика твердого тела. - 2010. - N 3: Май-июнь. - С. 131-142 : ил. - Библиогр.: с. 142 . - ISSN 1684-2634
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): линейная теория упругости -- обратные задачи -- принцип взаимности -- идентификация эллипсоидального дефекта -- упругость -- микроэлектроника -- наноэлектроника Аннотация: Рассматривается задача идентификации эллипсоидальной полости или эллипсоидального включения (жесткого или упругого) в изотропном, линейно упругом теле. Для решения задачи используется метод, основанный на применении функционала взаимности. Предложена конструктивная процедура, с помощью которой геометрические параметры дефекта выражаются через значения функционала взаимности. Эти значения могут быть вычислены, если в статическом испытании на одноосное растяжение (сжатие) на внешней поверхности тела измеряются перемещения. Предложенная процедура приводит к точному определению параметров эллипсоидального дефекта в случае, когда он расположен в безграничном пространстве. Для ограниченного упругого тела ее можно рассматривать в качестве приближенной. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |