Байбурин, Вил Бариевич (д-р физ.-мат. наук, проф.). Алгоритмы обработки изображений, используемые сканирующей зондовой микроскопией [Текст] / В. Б. Байбурин, Н. В. Беспалова, Ю. П. Волков // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 27. - С. 61-64. - Библиогр.: с. 64 (4 назв. )
Рубрики: Вычислительная техника Другие отрасли радиоэлектроники Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- сканирующая техника -- микроскопия -- зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- преобразования Фурье -- Фурье преобразования -- вейвлет-преобразования -- обработка изображений Аннотация: Представлено описание различных способов изображения поверхностей, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены достоинства метода устранения различных искажений структуры исследуемых объектов на основе дискретного вейвлет-преобразования. Доп.точки доступа: Беспалова, Наталья Викторовна; Волков, Юрий Петрович (проф.) |
Синицына, О. Анализ и распознавание графической информации в наноскопии [Текст] / О. Синицына, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 3. - С. 14-20 : ил.: 7 рис. - Библиогр.: с. 20 (14 назв. )
Рубрики: Радиоэлектроника Радиоэлектроника в целом Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовые изображения -- программное обеспечение Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать поверхности твердых тел с разрешением вплоть до атомного. Доп.точки доступа: Филонов, А.; Яминский, И. |
Рехвиашвили, С. Ш. (канд. физ. -мат. наук). Акустическая эмиссия при взаимодействии зонда с поверхностью металлов [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили, З. В. Шомахов, А. М. Кармоков // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 4. - С. 19-22. - Библиогр.: с. 22 (14 назв. ) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: Физика Акустика в целом Кл.слова (ненормированные): акустическая эмиссия -- скорость звука -- металлы -- зондовая микроскопия Аннотация: Экспериментально исследована акустическая эмиссия, возникающая при ударе твердого зонда о поверхность металлов. Акустическая эмиссия при взаимодействии зонда с поверхностью может использоваться для диагностики вязкоупругих свойств материалов, а также в атомно-силовом микроскопе при построении изображенной поверхности. Доп.точки доступа: Шомахов, З. В.; Кармоков, А. М. (д-р физ. -мат. наук) |
Раткин, Л. С (канд. техн. наук). Проблемы применения микро- и наносистемной техники в бионаноскопии [Текст] / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - 1813-8586, N 5. - 011 . 38-41. - Библиогр.: с. 41 (36 назв. ) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): биообъекты -- бионаноскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопия -- микромеханические биосенсоры -- наноматериалы Аннотация: О новых достижениях в сфере сканирующей зондовой микроскопии, инновационных технологиях высокоразрешающей микроскопии и сопутствующих физико-химических методах исследования биообъектов. |
Потапов, А. А. (д-р хим. наук). Стратегия становления нанотехнологии [Текст] / А. А. Потапов // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 6. - С. 4-12. - Библиогр.: с. 12 (27 назв. ) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): электронное строение -- эволюция технологий -- нанотехнологии -- зондовая микроскопия Аннотация: Обсуждаются вопросы теоретического обеспечения нанотехнологии. Предлагается подход к решению данной проблемы на основе создания прогностической теории электронного строения. |
Поляков, В. В. Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии [Текст] / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - N 9. - С. 6-10. - Библиогр.: с. 10 (10 назв. ) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): емкостная микроскопия -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующий зондовый микроскоп -- концентрация носителей -- профиль легирования Аннотация: Предложен зондовый датчик специальной конструкции и оригинальный метод компенсации паразитной емкости для 2D-характеризации профилей легирования полупроводниковых структур с помощью методики сканирующей емкостной микроскопии (СЕМ). Разработано соответствующее устройство, реализирующее методику СЕМ. |
Поляков, Вячеслав Викторович. Оптимизация угловой апертуры лазерной системы датчика изгибов кантилевера атомно-силового микроскопа [Текст] / В. В. Поляков В. В. // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 4. - С. 87-88 : рис. - Библиогр.: с. 88 (3 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- регистрация изгибов -- лазеры -- уровень шума -- чувствительность -- оптические датчики Аннотация: Проанализировано влияние угловой апертуры лазерной системы на чувствительность и шумовые характеристики оптического датчика изгибов кантилевера атомно-силового микроскопа. Предложена методика выбора оптимального значения апертуры в зависимости от природы основной составляющей шума датчика. |
Карташев, В. А. Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа [Текст] / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 10. - С. 7-10. . - Библиогр.: с. 10 (6 назв. )
Рубрики: Математика Общие вопросы математики Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- тунельный микроскоп -- форма отрицания иглы -- пьезосканер -- калибровочные поверхности Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра. Доп.точки доступа: Карташев, В. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Яминский, И. Самое главное в нанотехнологиях - люди [Текст] / И. Яминский ; интервью брали В. Фокин, И. Шахнович // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 8-14. : ил.: 1 фото
Рубрики: Техника Организация промышленного производства Приборостроение--Россия--Москва Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующая резистивная микроскопия -- наноэлектроника -- интервью Аннотация: Рассказывает генеральный директор научно-производственного предприятия "Центр перспективных технологий", доктор физико-математических наук, профессор И. Яминский. Доп.точки доступа: Фокин, В. \.\; Шахнович, И. \.\; Центр перспективных технологий Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Формирование наночастиц магнетита в водной ионообменной реакции с избытком щелочи во внешнем постоянном магнитном поле средней величины [Текст] / Е. С. Бриков [и др. ] // Вестник Тюменского государственного университета. - 2011. - N 7. - С. 87-93. : ил., табл. - Библиогр.: с. 93 (7 назв. )
Рубрики: Физика Газы и жидкости Магнетизм Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): магнетиты -- наночастицы магнетита -- золи магнетита -- ионообменные реакции -- магнитные поля -- зондовая микроскопия -- ультразвуковое диспергирование Аннотация: Исследование форм, размеров, магнитных свойств наночастиц золей магнетита, полученных из порошка ультразвуковым диспергированием методами атомной и магнитной зондовой микроскопии. Доп.точки доступа: Бриков, Е. С.; Журавский, Д. В.; Михеев, В. А.; Новиков, В. Ф.; Смирнов, И. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Стрекаль, Наталья (доктор физико-математических наук). Штарковская спектроскопия для биологических систем [Текст] / Н. Стрекаль, С. Маскевич // Наука и инновации. - 2013. - № 11. - С. 62-65 : 2 фот. - Библиогр.: с. 65 (20 назв. ) . - ISSN 1818-9857
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): штарковская спектроскопия -- электрические поля -- белковые молекулы -- оптическая микроскопия -- макромолекулы -- молекулярная биология -- жизнедеятельность клеток -- нанотехнологии -- зондовая микроскопия -- наносистемы -- флуоресцентные зонды Аннотация: Использование флуоресцентных зондов в нанотехнологиях. Доп.точки доступа: Маскевич, Сергей (доктор физико-математических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Применение методики сканирующей силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика для исследования пленок полидифениленфталида [Текст] / Д. Д. Карамов [и др.] // Вестник Челябинского государственного университета. - 2015. - № 22. - С. 9-14. - Библиогр.: с. 12 (13 назв.). - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки http://elibrary.ru . - ISSN 1994-2796
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): зондовая микроскопия -- тонкие полимерные пленки -- поверхностные слои -- поляризация -- органические диэлектрики Аннотация: Рассмотрена проблема поверхностного дипольного упорядочения тонких полимерных слоев в нанометровой области толщин. Методами сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика исследованы процессы поляризации в полимерных пленках разной толщины. Обнаружено проявление спонтанной поляризации, свидетельствующее о наличии равномерно распределенных дипольных моментов в поверхностном слое. Наблюдается переключение поляризации, проявляющееся в смене контраста сигнала пьезоотклика при приложении поля различной полярности. Обнаруженные явления хорошо объясняют уникальные электронные свойства границ раздела полярного органического диэлектрика полидифениленфталида. Доп.точки доступа: Карамов, Д. Д. (младший научный сотрудник); Корнилов, В. М. (доктор физико-математических наук; профессор); Лачинов, А. Н. (доктор физико-математических наук); Киселев, Д. А. (кандидат физико-математических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Влияние числа импульсов лазерного излучения на физико-химическое строение и микротвердость аморфного сплава FeSi[6]B[16] [Текст] = The Influence of the number of laser pulses on physical chemical structure and microhardness amorphous alloy FeSi[6]B[16] / А. В. Жихарев [и др.] // Инженерная физика. - 2017. - № 1. - С. 35-42 : граф., табл., схемы. - Библиогр.: с. 41-42 (11 назв.) . - ISSN 2072-9995
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): лазерное излучение -- аморфные сплавы -- микротвердость -- зондовая микроскопия -- лазерные импульсы Аннотация: В статье рассматриваются результаты исследования влияния сфокусированного импульсного лазерного излучения на физико-химическое строение и микротвердость аморфного сплава FeSi[6]B[16]. Методами сканирующей зондовой микроскопии, рентгеноэлектронной спектроскопии, дифрактометрии а также измерениями микротвердости показано влияние числа импульсов лазера на перераспределение элементов системы, изменение топографии облученной поверхности, а также изменение структуры и микротвердости образцов. Рассмотрены возможные причины, позволяющие объяснить наблюдаемые изменения в образцах после лазерного воздействия.The article discusses the results of investigations of the influence of a focused pulsed laser radiation on the physical and chemical structure and micro-hardness amorphous alloy FeSi[6]B[16]. The methods of scanning probe microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, diffraction and micro-hardness measurements show the effect of the number of laser pulses on the redistribution of the elements of the system, changing the topography of the exposed surface, as well as changes in the structure and microhardness. Possible reasons to explain the observed changes in the samples after the laser exposure. Доп.точки доступа: Жихарев, Александр Владимирович; Баянкин, Владимир Яковлевич; Быстров, Сергей Геннадьевич; Климова, Ирина Николаевна; Колотов, Андрей Александрович; Орлова, Надежда Александровна Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Коновалов, Г. Г. (кандидат юридических наук; доцент). Основные вехи формирования и развития микроскопии и ее значение в криминалистике [Текст] / Г. Г. Коновалов, Е. В. Прокофьева // Вестник Воронежского государственного университета. Сер.: Право. - 2017. - № 3. - С. 280-287. - Библиогр. в сносках. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки https://elibrary.ru . - ISSN 0234-5439
Рубрики: Право Криминалистика Кл.слова (ненормированные): волновые явления света -- зондовая микроскопия -- инфракрасная микроскопия -- микроскопические исследования -- оптическая микроскопия -- ультрафиолетовая микроскопия -- экспертиза -- электронная микроскопия Аннотация: Рассматриваются основные этапы и направления микроскопических исследований в целом и в криминалистике в частности. Доп.точки доступа: Прокофьева, Е. В. (кандидат физико-математических наук; старший преподаватель) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Самканашвили, Давид Геннадьевич. Исследование поверхности микроканальных структур и заготовок на наноуровне [Текст] = Study of the surface of microchannel structures and preparations at the nano-level / Д. Г. Самканашвили // Инженерная физика. - 2019. - № 2. - С. 35-38 : ил. . - ISSN 2072-9995
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): микроканальные пластины -- оптические стекла -- зондовая микроскопия -- микроканальные структуры -- приборы ночного видения -- электронно-оптические преобразователи Аннотация: Приводятся результаты исследования поверхности заготовок исходных оптических стекол, используемых в производстве микроканальных пластин (МКП), а также внутренней поверхности канала с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Полученные результаты позволяют оценивать изменения топологии поверхности от факторов технологических операций. Результаты работы интересны тем, что оценка качества поверхности ранее в канале и на поверхности пластин не проводилась. Учет всех этих факторов позволяет наметить пути достижения атомно-гладкой поверхности каналов, что будет способствовать уменьшению уровня шумов и повышению усиления МКП, а, следовательно, увеличению дальности действия приборов ночного видения.The results of the study of the surface of the initial optical glass blanks used in the production of microchannel plates (MCP), as well as the inner surface of the channel using scanning probe microscopy. The obtained results allow us to evaluate changes in the surface topology from the factors of technological operations. The results of the work are interesting because the assessment of the surface quality in the channel and on the surface of the plates was not carried out earlier. Taking into account all these factors, it is possible to identify ways to achieve an atomic-smooth surface of the channels, which will help to reduce the noise level and increase the gain of the MCP, and, consequently, increase the range of night vision devices. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |