Петров, А. М. Анализ чистых цветных и редких металлов методом атомно-эмиссионной спектрометрии с фотодиодной регистрацией [Текст] / А. М. Петров, В. Б. Барановская, Ю. А. Карпов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 9. - С. 4-11. . - Библиогр.: с. 11 (6 назв. )
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): анализ металлов -- чистые металлы -- цветные металлы -- редкие металлы -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- спектрометрия -- фотодиодная регистрация -- определение примесей -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- ДАЭА -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- эмиссионные спектры -- программное обеспечение Аннотация: Исследованы аналитические возможности прямого определения примесей в чистых цветных и редких металлах дуговым атомно-эмиссионным методом с применением многоканального анализатора эмиссионных спектров. Доп.точки доступа: Барановская, В. Б.; Карпов, Ю. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Золотарева, Н. И. Использование химически активных добавок для повышения чувствительности определения редкоземельных элементов и тория дуговым атомно-эмиссионным методом анализа [Текст] / Н. И. Золотарева, С. С. Гражулене // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 9. - С. 11-15. . - Библиогр.: с. 15 (11 назв. )
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): химически активные добавки -- активные добавки -- пределы обнаружения -- редкоземельные элементы -- торий -- определение редкоземельных элементов -- определение тория -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- методы анализа -- фторид цинка -- атомно-эмиссионный анализ -- масс-спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- дуга постоянного тока Аннотация: Изучено влияние химически активных добавок на характер испарения ряда редкоземельных элементов и тория из кратера электрода дуги постоянного тока с целью снижения пределов их обнаружения. Доп.точки доступа: Гражулене, С. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Сорбционно-атомно-эмиссионное определение As, Bi, Sb, Se и Te в возвратном металлсодержащем сырье [Текст] / М. С. Доронина [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 11. - С. 3-7. - Библиогр.: с. 6-7 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Анализ неорганических веществ Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): сорбционное концентрирование -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- металлсодержащее сырье -- возвратное сырье -- вторичное металлсодержащее сырье -- мышьяк -- висмут -- сурьма -- селен -- теллур -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- азотсеросодержащие сорбенты -- токсичные элементы -- контроль токсичности -- методы анализа сырья -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров Аннотация: Разработан комбинированный метод анализа вторичного сырья, включающего сорбционное концентрирование As, Bi, Sb, Se, Te и их атомно-эмиссионное определение в фазе сорбента или в растворе концентрата, полученном при последующей десорбции. Доп.точки доступа: Доронина, М. С.; Ширяева, О. А.; Филатова, Д. Г.; Петров, А. М.; Дальнова, О. А.; Барановская, В. Б.; Карпов, Ю. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |