Сошников, И. П.
    Особенности картин электронной дифракции нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных на подложках Si (100) и (111) методом молекулярно-пучковой эпитаксии [Текст] / И. П. Сошников [и др. ] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 8. - С. . 1373-1377. - Библиогр.: с. 1377 (23 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
двойникование кристаллов -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- нитевидные нанокристаллы -- фазовые переходы -- фазовые переходы вюрцит/сфалерит -- электронная дифракция
Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов на отражение проведено исследование кристаллической структуры нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках Si (111) и Si (100). Установлено, что дифракционные картины в обоих случаях содержат суперпозицию систем рефлексов, характерных для гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фаз GaAs. Показано, что при росте на Si (111) формируются нитевидные нанокристаллы с гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фазами с одной и двумя ориентациями соответственно. В случае роста на подложках Si (100) обнаружена система нитевидных нанокристаллов GaAs с кубической фазой и пятью различными ориентациями, а также гексагональной фазы с восемью ориентациями в плоскостях подложки типа (110). Проявление двойственной кристаллической структуры в нитевидных нанокристаллах объясняется фазовыми переходами вюрцит-сфалерит и/или двойникованием кристаллов.


Доп.точки доступа:
Цырлин, Г. Э.; Тонких, А. А.; Неведомский, В. Н.; Самсоненко, Ю. Б.; Устинов, В. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Юлаев, Александр Николаевич (студент).
    Особенности коллинеарного анизотропного акустооптического взаимодействия в Х-срезе ниобата лития [Текст] / А. Н. Юлаев, Ю. А. Зюрюкин // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 27. - С. 24-29. - Библиогр.: с. 29 (2 назв. )
УДК
ББК 22.34
Рубрики: Физика
   Оптика

Кл.слова (ненормированные):
дифракция света -- анизотропная дифракция -- акустооптические взаимодействия -- ультразвуковые колебания -- оптические волны -- акустические волны -- ниобат лития -- кристаллы ниобата лития
Аннотация: Исследованы характеристики коллинеарно анизотропной брэгговской дифракции света на ультразвуке вдоль x-направления в кристалле ниобата лития. Описано новое явление - невзаимность коллинеарной дифракции, заключающаяся в несовпадении оптимальных частот дифракции акустической либо оптической волн при изменении направления распространения ультразвука или света на противоположное.


Доп.точки доступа:
Зюрюкин, Юрий Анатольевич (д-р физ.-мат. наук, проф.)




   
    Влияние высокого давления и химического замещения на кристаллическую структуру и магнитное состояние R[\2]Fe[17-x]Si[x]\ (R = Lu, Y; x =0, 1. 7) [Текст] / Д. П. Козленко [и др. ] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 86, вып: вып. 9. - С. 675-680
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
высокое давление -- химическое замещение -- нейтронная дифракция -- интерметаллические соединения -- кристаллическая структура -- магнитное состояние
Аннотация: Методом нейтронной дифракции исследовано влияние высокого давления на кристаллическую структуру интерметаллических соединений R[2]Fe[17-x]Si[x] (R = Lu, Y; x =0, 1. 7). Проведен анализ взаимосвязи между изменениями структурных параметров и магнитных свойств при воздействии высокого давления, а также химического замещения атомов Fe на Si в рамках моделей локализованных моментов и спиновых флуктуаций. Установлено, что экспериментально наблюдаемое увеличение температуры Кюри при химическом замещении, а также ее уменьшение при воздействии высокого давления более адекватно описываются в модели спиновых флуктуаций. Обсуждаются возможные причины подавления коллинеарного ферромагнитного состояния и существования неколлинеарного антиферромагнитного состояния в R[2]Fe[17-x]Si[x] под давлением на основе оценок разницы минимумов полной энергии этих состояний.


Доп.точки доступа:
Козленко, Д. П.; Воронин, В. И.; Глазков, В. П.; Савенко, Б. Н.




    Столина, А. Е.
    Гранулометрический анализ порошка кремния [Текст] / А. Е. Столина, Н. В. Пименова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 31-34. - Библиогр.: с. 5 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.37 + 22.341 + 24.66
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Химия

   Грубодисперсные системы

Кл.слова (ненормированные):
гранулометрический анализ -- порошок кремния -- оптическая микроскопия -- микроскопия -- диспергирование порошка -- метод лазерной дифракции -- лазерная дифракция -- дифракция -- порошковые материалы -- металлографический метод -- фотоседиментационный анализ
Аннотация: Представлены результаты определения гранулометрического состава порошка кремния методом оптической микроскопии.


Доп.точки доступа:
Пименова, Н. В.




    Давыдов, Д. А.
    Моноклинный упорядоченный субоксид ванадия V[14]O[6] [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 1. - С. 147-154. - Библиогр.: с. 154 (22 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
моноклинный субоксид ванадия -- рентгеновская дифракция -- субоксид ванадия -- симметрийный анализ -- подрешетки
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и симметрийного анализа изучена моноклинная (пр. гр. C2/m) сверхструктура V[14]O[6], образующаяся при атомно-вакансионном упорядочении тетрагонального твердого раствора кислорода в ванадии. Моноклинный субоксид V[14]O[6] наблюдается в синтезированных при 1770К образцах оксида ванадия VO[0. 57], VO[0. 81] и VO[0. 86] и в образцах VO[y] (y больше или равно 0. 87, y меньше или равно 0. 98), после синтеза дополнительно отожженных при температуре 1470 К. Установлено, что канал фазового перехода беспорядок-порядок, связанный с образованием моноклинного субоксида V[14]O[6], включает шесть сверструктурных векторов, принадлежащих трем нелифшицевским звездам одного типа {k[i]}. Рассчитана функция распределения атомов кислорода в моноклинной сверхструктуре V[14]O[6]. Показано, что смещения атомов V искажают объемно центрированную тетрагональную металлическую подрешетку, подготавливая формирование гранецентрированной кубической подрешетки и преход от субоксида V[14]O[6] к кубическому монооксиду ванадия со структурой B1.


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.




    Давыдов, Д. А.
    Нейтронография дефектного монооксида ванадия, близкого к эквиатомному составу VO [Текст] / Д. А. Давыдов, А. И. Гусев, А. А. Ремпель // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 4. - С. 218-223
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
монооксид ванадия -- VO[y] -- структурные вакансии -- нейтронография -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Методами структурной нейтронографии и рентгеновской дифракции изучена дефектная структура закаленных от температуры синтеза и отожженных при низкой температуре монооксидов ванадия VO[y] (0. 90 меньше равно y меньше равно 0. 97), по составу близких к эквиатомному монооксиду VO[1. 0].


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.; Ремпель, А. А.




    Супрун, С. П.
    Формирование гетерограницы GaAs-Ge в присутствии окисла [Текст] / С. П. Супрун, Е. В. Федосенко // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 2. - С. 94-97
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
GaAs-Ge -- Ge -- Ga[2]O -- гетерограница -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- дифракция быстрых электронов
Аннотация: Приведены результаты исследования методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и дифракции быстрых электронов на отражение процесса формирования гетерограницы GaAs-Ge при условии неполного удаления всех окисных фаз с поверхности подложки GaAs. Показано, что совмещение процессов окончательной десорбции окисла Ga[2]O и осаждения Ge позволяет предотвратить испарение мышьяка и нарушение стехиометрии в области границы раздела.


Доп.точки доступа:
Федосенко, Е. В.




    Медведский, А. Л.
    Задача о дифракции нестационарных упругих волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере [Текст] = Non-steady elastic waves diffracion on non-homogeneous transversally isotropic spheres / Медведский А. Л. // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 3. - С. 473-489 : 9 ил., табл. - Библиогр.: с. 489 (6 назв. ) . - ISSN 1029-6670
УДК
ББК 30.121
Рубрики: Техника
   Сопротивление материалов

Кл.слова (ненормированные):
дифракция упругих волн -- нестационарные упругие волны -- задачи дифракции -- схема Куранта-Изаксона-Риса -- Куранта-Изаксона-Риса схема
Аннотация: Рассмотрена задача о дифракции упругих нестационарных волн на неоднородной трансверсально изотропной сфере.





   
    Кластеры палладия в образцах нанопористого углерода: структурные свойства [Текст] / А. М. Данишевский [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 604-608. - Библиогр.: с. 607-608 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
кластеры палладия -- нанопористый углерод -- рентгеновская дифракция -- электронная дифракция -- просвечивающий электронный микроскоп -- метод электронного спинового резонанса -- электронный спиновой резонанс
Аннотация: Проведены структурные исследования образцов нанопористого углерода, приготовленных из карбидов кремния и бора, с кластерами палладия, введенными в них. Рентгеновская и электронная дифракция показывает, что основная масса кластеров Pd имеет кубическую гранецентрированную решетку. Проведены измерения малоуглового рентгеновского рассеяния. При определенных допущениях анализ их позволил определить размеры кластеров металла. Размеры кластеров, полученных на снимках в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ), оказались не слишком близки к ним и находились в диапазоне 4-14 nm. По-видимому, различие связано с локальным характером измерений в ПЭМ. Помимо относительно крупных кластеров приведенного диапазона в образцах наблюдаются очень мелкие кластеры, меньшие размера одной микропоры. Их особенно много в C (SiC) B : Pd, где их размеры оказались в пределах 0. 5-0. 7 nm. В C (B[4]C) B : Pd малых кластеров существенно меньше, и их размеры несколько больше: 1. 2-1. 6 nm. Обсуждаются возможные причины ферромагнетизма, наблюдавшегося в указанных образцах. Высказано предположение, что магнетизм может быть связан с малыми кластерами, которые к тому же не имеют кубической симметрии.


Доп.точки доступа:
Данишевский, А. М.; Кютт, Р. Н.; Ситникова, А. А.; Шанина, Б. Д.; Курдюков, Д. А.; Гордеев, С. К.




   
    Фазовые соотношения и форма кривых рентгеновской дифракции от гетероструктур с квантовыми ямами [Текст] / М. А. Чуев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 3. - С. 204-209
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- гетероструктуры с квантовыми ямами -- дифракционное рассеяние -- фазовые соотношения
Аннотация: Проведен качественный анализ формирования интерференционной картины на кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от гетероструктур с квантовыми ямами. Показано, что помимо хорошо известного эффекта, связанного с дополнительным сдвигом фазы в амплитудах дифракционного рассеяния покрывающего слоя и подложки за счет небольшого смещения атомных слоев в квантовой яме, форма кривой отражения существенным образом зависит от толщины квантовой ямы, отражая специфические фазовые соотношения в интегральной амплитуде отражения. В рамках анализа были получены простые аналитические выражения, которые позволяют не только описать тонкие детали интерференционной картины на кривой отражения, но и приближенно оценить значения наиболее значимых параметров реально выращенной гетероструктуры, которые определяют наиболее адекватную стартовую модель для дальнейшего анализа на основе общих формул динамической дифракции.


Доп.точки доступа:
Чуев, М. А.; Пашаев, Э. М.; Ковальчук, М. В.; Квардаков, В. В.




   
    Определение реальной структуры искусственных и природных опалов на основе трехмерных реконструкций обратного пространства [Текст] / А. А. Елисеев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 4. - С. 297-303
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
дифракция рентгеновского излучения -- малоугловая дифракция -- дефектная структура -- опалы -- обратное пространство
Аннотация: По набору картин малоугловой дифракции рентгеновского излучения восстановлено распределение интенсивности рассеяния в обратном пространстве для природного и искусственного опалов. Полученные трехмерные карты интенсивности использовали для анализа дефектной структуры опалов. Структура синтетических опалов может быть удовлетворительно описана в рамках вероятностной модели Вильсона с преобладанием слоев в ГЦК окружении. Дифракционные картины, наблюдаемые для природного опала, подтверждают наличие неравнозаселенных доменов ГЦК достаточной протяженности.


Доп.точки доступа:
Елисеев, А. А.; Горожанкин, Д. Ф.; Напольский, К. С.; Петухов, А. В.; Саполетова, Н. А.; Васильева, А. В.; Григорьева, Н. А.; Мистонов, А. А.; Белов, Д. В.; Бауман, В. Г.; Квашнина, К. О.; Чернышов, Д. Ю.; Босак, А. А.; Григорьев, С. В.




    Карловец, Д. В.
    Дифракционное излучение от экрана конечной проводимости [Текст] / Д. В. Карловец, А. П. Потылицын // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 5. - С. 368-373
УДК
ББК 22.386
Рубрики: Физика
   Прохождение частиц через вещество

Кл.слова (ненормированные):
дифракционное излучение -- частотная дисперсия -- черенковский механизм -- дифракция -- заряженные частицы
Аннотация: Найдено точное решение задачи о дифракционном излучении, возникающем при пролете заряженной частицы перпендикулярно тонкому экрану конечных размеров, обладающему произвольной проводимостью и частотной дисперсией. Получены выражения для спектральной угловой плотности излучения "вперед" и "назад", описывающие дифракционный и черенковский механизмы излучения.


Доп.точки доступа:
Потылицын, А. П.




   
    Получение слоев нанокристаллического кремния плазмохимическим осаждением из газовой фазы тетрафторида кремния [Текст] / П. Г. Сенников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 7. - С. 1002-1006 : ил. - Библиогр.: с. 1006 (32 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
кремний -- нанокристаллический кремний (nc-Si) -- морфология поверхности -- рентгеновская дифракция -- масс-спектрометрия -- ионная масс-спектроскопия -- плазмохимическое осаждение -- тетрафторид кремния -- фотолюминесценция
Аннотация: Сообщается о результатах получения слоев кремния на различных подложках методом плазмохимического осаждения в системе тетрафторид кремния-водород. Сняты спектры излучения плазмы в этой системе. Образцы исследованы методами рентгеновской дифракции и вторичной ионной масс-спектрометрии. Проведено морфологическое изучение поверхности, получены спектры комбинационного рассеяния, спектры пропускания в инфракрасном диапазоне и спектры фотолюминесценции. По фазовому составу слои представляют собой нанокристаллический кремний с размером блоков когерентного рассеяния от 3 до 9 нм в зависимости от условий проведения процесса и обладают интенсивной фотолюминесценцией при комнатной температуре.


Доп.точки доступа:
Сенников, П. Г.; Голубев, С. В.; Шашкин, В. И.; Пряхин, Д. А.; Дроздов, М. Н.; Андреев, Б. А.; Дроздов, Ю. Н.; Кузнецов, А. С.; Поль, Х. - Й.




    Белашов, Василий Юрьевич (доктор физико-математических наук; профессор кафедры "Физика").
    Вычисление ЭМ поля, создаваемого линейным участком проводника с переменным током над полупроводящей плоскостью [Текст] / В. Ю. Белашов, И. А. Дмитриев, А. И. Килеев // Известия вузов. Проблемы энергетики. - 2009. - N 7/8. - С. 82-93 : схемы. - Библиогр.: с. 93 (6 назв. ). - Примеч.: с. 93 . - ISSN 1998-9903
УДК
ББК 31.232 + 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

   Полупроводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
электромагнитное поле -- проводники с переменным током -- метод зеркальных изображений -- дифракция электромагнитных полей -- горизонтально поляризованная волна -- вертикально поляризованная волна
Аннотация: Представлено решение задачи вычисления электромагнитного поля, создаваемого линейным участком проводника с переменным током над полупроводящей плоскостью с помощью специальной модификации метода зеркальных изображений.


Доп.точки доступа:
Дмитриев, Иван Алексеевич (начальник отдела 10); Килеев, Анвар Исмагилович (кандидат физико-математических наук; доцент кафедры "Физика")




    Засовин, Э. А.
    Фрактальные флуктуации в линиях поглощения водяного пара в диапазоне субмиллиметровых радиоволн [Текст] = Fractals of Fluctuations on Absorptions Lines of Water Vapors at Submillimeter Radio Waves / Э. А. Засовин, А. В. Соколов // Успехи современной радиоэлектроники. - 2009. - N 8. - С. 74-77 : 4 рис. - Библиогр.: с. 77 (6 назв. ). - Аннотация на англ. яз. в конце ст. . - ISSN 2070-0784
УДК
ББК 32.840/841 + 32.95
Рубрики: Радиоэлектроника
   Теоретические основы радиотехники

   Радиолокация

Кл.слова (ненормированные):
Гаусса закон -- дифракция -- закон самоподобия Гаусса -- замирание радиоволн -- радиоволны -- рассеяние радиоволн -- субмиллиметровые радиоволны -- флуктуация сигналов -- фрактальные ансамбли -- фрактальные флуктуации
Аннотация: Теоретически и экспериментально исследовано уменьшение амплитуды флуктуаций в линиях поглощения водяного пара на волне 921 мкм согласно закону самоподобия Гаусса.


Доп.точки доступа:
Соколов, А. В.




    Славов, В. И.
    Применение реперной дифрактометрии для исследования регулярных границ поликристаллов альфа-титана [Текст] / В. И. Славов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 9. - С. 30-37. - Библиогр.: с. 37 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
реперная дифрактометрия -- дифрактометрия -- регулярные границы поликристаллов -- границы зерен -- анизотропия -- зерна поликристаллов -- альфа-титан -- реперная дифракция -- поликристаллы -- метод реперной дифрактометрии
Аннотация: Описано применение реперной дифрактометрии для исследования регулярных границ поликристаллов альфа-титана.





   
    Влияние присоединения биомолекул на фотолюминесцентные и структурные характеристики квантовых точек CdSe-ZnS [Текст] / Л. В. Борковская [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 6. - С. 804-810 : ил. - Библиогр.: с. 809-810 (21 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
квантовые точки -- КТ -- фотолюминесценция -- ФЛ -- спектры фотолюминесценции -- фотолюминесцентные характеристики -- структурные характеристики -- биомолекулы -- биосопряжение -- экситоны -- рекомбинация экситонов -- рентгеновская дифракция -- дефекты -- спектры возбуждения -- СВ -- CdSe-ZnS
Аннотация: Исследовались спектры фотолюминесценции и ее возбуждения, а также кривые рентгеновской дифракции силанизированных квантовых точек CdSe-ZnS и влияние на них соединения с биомолекулами. В спектрах люминесценции помимо полосы, обусловленной рекомбинацией экситонов в квантовых точках, присутствовало излучение, связанное с дефектами. Установлено, что спектр излучения дефектов содержит, как минимум, две компоненты. Показано, что дефекты расположены преимущественно на точках малого размера, причем дефекты, ответственные за длинноволновую компоненту, расположены преимущественно на точках большего размера, чем дефекты ответственные за коротковолновую компоненту. Обнаружено, что соединение с биомолекулами приводит не только к голубому смещению экситонной полосы, но и к трансформации спектра излучения дефектов, а также к увеличению его вклада в спектр люминесценции. Наблюдающиеся изменения в спектре излучения дефектов объясняются образованием соответствующих центров свечения. Показано, что при присоединении биомолекул в квантовых точках возрастают механические напряжения сжатия. Этим объясняется голубое смещение полосы квантовых точек.


Доп.точки доступа:
Борковская, Л. В.; Корсунская, Н. Е.; Крыштаб, Т. Г.; Гермаш, Л. П.; Печерская, Е. Ю.; Остапенко, С.; Чернокур, А.




    Плеханов, А. И.
    Особенности проявления стоп-зоны в спектре дифрагированного на границе стекло - опал света [Текст] / А. И. Плеханов, А. С. Кучьянов, А. А. Заболотский // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 8. - С. 617-620
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
дифракция света -- стоп-зоны -- искусственный опал -- брэгговские волны -- фотонные кристаллы -- оптические химические сенсоры
Аннотация: Исследована дифракция света, возникающая при его прохождении через стеклянную пластинку с нанесенной на нее пленкой искусственного опала. Показано, что на фоне неизменного спектра брэгговских отраженных и преломленных волн проявляется стоп-зона фотонного кристалла, которая может изменять свое положение при незначительном изменении концентрации ряда веществ, заполняющих фотонный кристалл. Продемонстрировано применение такой оптической системы в качестве оптического химического сенсора.


Доп.точки доступа:
Кучьянов, А. С.; Заболотский, А. А.




   
    Полиэдральные наноразмерные частицы углерода при высоких давлениях [Текст] / В. А. Давыдов [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 12. - С. 861-865
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- рентгеновское рассеяние -- полиэдральные наночастицы -- углеродные наночастицы -- трансформация графеновых слоев -- онионоподобные структуры -- онионоподобная сердцевина
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, малоуглового рентгеновского рассеяния и просвечивающей электронной микроскопии изучены твердофазные превращения полиэдральных наночастиц углерода при давлении 8. 0 ГПа и различных температурах. Обнаружено, что при температурах выше ~1000 градусов C в системе наблюдается трансформация графеновых слоев внутренних полостей полиэдральных частиц в онионоподобные структуры, приводящая к образованию гибридного типа sp\{2\}-углеродных наночастиц, сочетающих внешнюю полиэдральную форму с квазисферической онионоподобной сердцевиной. При 1600 градусах С полиэдральные наночастицы с размерами менее ~40 нм полностью превращаются в онионоподобные частицы.


Доп.точки доступа:
Давыдов, В. А.; Ширяев, А. А.; Рахманина, А. В.; Филоненко, В. П.; Васильев, А. Л.; Отре, C.; Агафонов, В. Н.; Хабашеску, В. Н.




    Белашов, Василий Юрьевич (доктор физико-математических наук; профессор кафедры "Физика").
    Точное решение задачи вычисления ЭМ поля линейного переменного тока над полупроводящей плоскостью [Текст] / В. Ю. Белашов, И. А. Дмитриев, А. И. Килеев // Известия вузов. Проблемы энергетики. - 2009. - N 9/10. - С. 71-81 : схемы. - Библиогр.: с. 80-81 (5 назв. ). - Примеч.: с. 81 . - ISSN 1998-9903
УДК
ББК 31.222
Рубрики: Энергетика
   Магнитные измерения

Кл.слова (ненормированные):
электромагнитное поле -- линейный переменный ток -- дифракция -- граничные условия -- метод зеркальных изображений
Аннотация: На основе оригинальной расчетной схемы представлено точное решение задачи вычисления электромагнитного поля линейного переменного тока над полупроводящей плоскостью.


Доп.точки доступа:
Дмитриев, Иван Алексеевич (начальник отдела 10); Килеев, Анвар Исмагилович (кандидат физико-математических наук; доцент кафедры "Физика")