Анизотропия упругих напряжений и особенности дефектной структуры a-ориентированных эпитаксиальных пленок GaN, выращенных на r-грани сапфира [Текст] / Р. Н. Кютт [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 9. - С. 1687-1692. - Библиогр.: с. 1692 (21 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): анизотропия напряжений в плоскостях -- упругие напряжения -- сапфир -- пленки -- эпитаксиальные пленки -- межплоскостные расстояния -- дифракционные пики -- дислокации краевого типа Аннотация: Проведено рентгенодифракционное исследование структурного состояния эпитаксиальных слоев GaN, выращенных методом MOVPE на r-грани сапфира. На двух- и трехкристальном дифрактометре измерялись межплоскостные расстояния в двух направлениях в плоскости интерфейса (11-20) и перпендикулярно ей, дифракционные пики theta- и theta-2theta-мод сканирования в геометрии Брэгга и Лауэ, а также строились карты распределения интенсивности для асимметричных брэгговских рефлексов в двух азимутальных положениях образца. Полученные данные демонстрируют анизотропию упругой деформации и уширения дифракционной картины параллельно плоскости интерфейса. Слои сжаты в направлении [1-100] и не деформированы в направлении [0001]. Уширение брэгговских рефлексов значительно больше в направлении [1-100] по сравнению с [0001]. На основе построения Вильямсона--Холла для брэгговских и лауэвских отражений показано, что эти уширения не связаны с различной степенью мозаичности, а обусловлены локальными дилатациями и разориентациями вокруг дефектов. На основе анализа полученных данных делаются выводы о дислокационной структуре образцов. Доп.точки доступа: Кютт, Р. Н.; Щеглов, М. П.; Ратников, В. В.; Николаев, А. Е. |
Микроструктура и деформации молекулярно-пучковых эпитаксиальных слоев ZnO на сапфире [Текст] / В. В. Ратников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 2. - С. 265-269 : ил. - Библиогр.: с. 268 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): эпитаксиальные слои -- ЭС -- двойные буферные слои -- ДБС -- деформации -- сапфир -- ZnO -- молекулярно-пучковая эпитаксия -- МПЭ -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- рентгеновская дифрактометрия -- дифракции -- дифракционные пики -- геометрия Брегга -- Брегга геометрия -- геометрия Лауэ -- Лауэ геометрия -- мод-сканирование -- коэффициент температурного расширения -- КТР -- дислокации Аннотация: Деформация и кристаллическое совершенство эпитаксиальных слоев ZnO на сапфире, полученных методом молекулярно-пучковой эпитаксии, изучались с помощью высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии. Деформационное состояние определялось по измерениям макроизгиба образцов. Структурное совершенство слоев анализировалось на основе измерения дифракции в геометриях Брегга и Лауэ с использованием theta- и (theta-2theta) -мод сканирования. Найдено, что полученные слои (Zn/O > 1) испытывают биаксиальные растягивающие напряжения, в то время как для Zn/O <1 напряжения отсутствуют. Из уширения дифракционных пиков рассчитывается плотность дислокаций различного типа и геометрии залегания. Доп.точки доступа: Ратников, В. В.; Кютт, Р. Н.; Иванов, С. В.; Щеглов, М. П.; Baar, A. |
Самойлов, А. И. Нестесненный мисфит в жаропрочных монокристаллических никелевых сплавах [Текст] / А. И. Самойлов, Р. М. Назаркин, Н. С. Моисеева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - С. 36-38. . - Библиогр.: с. 38 (8 назв. )
Рубрики: Химия Химия твердого тела Технология металлов Металловедение цветных металлов и сплавов Кл.слова (ненормированные): нестесненный мисфит -- мисфит -- жаропрочные никелевые сплавы -- никелевые сплавы -- сплавы -- монокристаллические никелевые сплавы -- дифракционные пики -- рентгеноструктурный анализ -- синглеты -- межфазные напряжения Аннотация: Описаны методики определения величин нестесненного мисфита, позволяющие получить его значение без вклада, вносимого межфазными напряжениями. Доп.точки доступа: Назаркин, Р. М.; Моисеева, Н. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Применение метода Ритвельда при фазовом анализе продуктов синтеза дикальцийфосфата для костных цементов [Текст] / В. П. Сиротинкин [и др.] // Материаловедение. - 2014. - № 11. - С. 47-50 . - ISSN 1684-579Х
Рубрики: Химическая технология Вяжущие вещества Кл.слова (ненормированные): дикальцийфосфат дигидрат -- рентгенофазовый анализ -- метод Ритвельда -- Ритвельда метод -- костные цементы -- рентгенодифракционные данные -- аморфные вещества -- кристаллиты -- дифракционные пики Аннотация: Целью настоящей работы является исследование возможностей полнопрофильного метода Ритвельда для определения содержания дикальцийфосфата в дикальцийфосфат дигидрат. Количественное содержание дикальцийфосфата в синтезированном дикальцийфосфате дигидрате может быть определено по рентгенодифракционным данным методом Ритвельда при условии разбавления исходной смеси аморфным веществом и введением поправок на предпочтительную ориентацию кристаллитов и асимметрию дифракционных пиков. Доп.точки доступа: Сиротинкин, В. П.; Федотов, А. Ю.; Шамрай, В. Ф.; Баринов, С. М.; Комлев, В. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |