Овсянникова, Л. И.
    Электронная структура кристаллообразующих фуллеренов C[2n], фулсиценов Si[n]C[n] и кристаллов из них --- фулсиценитов [Текст] / Л. И. Овсянникова, В. В. Покропивный, В. Л. Бекенев // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 10. - С. 2070-2077. - Библиогр.: с. 2076-2077 (39 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
фулисцентиты -- кристаллообразование -- кластеры -- наноматериалы -- квантово-химические расчеты -- расчеты фуллеренов -- фуллерены -- электронные структуры -- кластеры карбида кремния -- дифрактограммы материалов -- фулсицениты
Аннотация: Предложен ряд кристаллообразующих полиэдрических кластеров X[n]Y[n], из которых кополимеризацией гранями могут быть построены и синтезированы цеолитоподобные ковалентные кристаллы. Построен ряд наименьших кристаллообразующих кластеров углерода --- C[2n], где n=10, 12, 14, 16, 18, 24, 36, 60, и карбида кремния --- Si[n]C[n], где n=12, 16, 18, 24, 36, 60. Методом Хартри-Фока, ограниченным по спину, в базисе 6-31G (d) рассчитаны их оптимизированная геометрия, электронная структура, величина переноса заряда, ширина запрещенной щели, энергия когезии и построены карты электронной плотности. Из кластеров Si[12]C[12] и Si[24]C[24], названных фулсиценами, построены возможные кристаллы с решетками каменной соли --- КСФ-Si[12]C[12], простой кубической --- ПКФ-Si[24]C[24], объемно центрированной кубической --- ОЦКФ-Si[12]C[12], гранецентрированной кубической --- ГЦКФ-Si[24]C[24] и гипералмазной --- ГАФ-Si[12]C[12], названные фулсиценитами. Рассчитаны их дифрактограммы.


Доп.точки доступа:
Покропивный, В. В.; Бекенев, В. Л.




    Андреев, Олег Валерьевич.
    Фазообразование, эволюция мезо-, нанозерен при получении оксисульфидов Ln[2]O[2]S (Ln=La, Nd, Gd, Dy) из сульфатов лантаноидов в потоке водорода [Текст] / Олег Валерьевич Андреев, Елена Ивановна Сальникова, Дмитрий Валерьевич Журавский // Вестник Тюменского государственного университета. - 2010. - N 3. - С. 215-220. : ил. - Библиогр.: с. 220 (4 назв. )
УДК
ББК 24.5 + 24.12
Рубрики: Химия
   Физическая химия в целом

   Химические элементы и их соединения

Кл.слова (ненормированные):
лазерные материалы -- сульфаты -- лантан -- Ln -- сульфаты лантана -- лантаноиды -- оксисульфиды лантаноидов -- Ln[2]O[2]S -- потоки водорода -- дифрактограммы -- фазообразование -- эволюция зерен -- наночастицы -- нанозерна -- фазообразование зерен
Аннотация: Приведены методы получения оксисульфидов из сульфатов лантаноидов.


Доп.точки доступа:
Сальникова, Елена Ивановна; Журавский, Дмитрий Валерьевич
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Модель расшифровки дифрактограмм продуктов горения СВС-систем на примере "19SI+17C+6NAN3+(NH4)2SIF6" [Текст] / С. И. Губанов [и др.] // Вестник Самарского государственного технического университета. Сер.: Технические науки. - 2017. - № 3 (55). - С. 149-153. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки https://elibrary.ru . - ISSN 1991-8542
УДК
ББК 34.39
Рубрики: Технология металлов
   Порошковая металлургия

Кл.слова (ненормированные):
самораспространяющийся высокотемпературный синтез -- азиды натрия -- нитриды кремния -- карбиды кремния -- рентгенофазовый анализ -- дифрактограммы -- автоматизированные дифрактометры -- реагенты -- синтезированные продукты
Аннотация: Метод азидного самораспространяющегося высокотемпературного синтеза (СВС-Аз), использующий азид натрия в качестве азотирующего реагента, применен для получения композиции нитрида и карбида кремния из смеси "19Si+17C+6NaN3+ (NH4) 2SiF6". Фазовый состав продуктов синтеза определяли на автоматизированном рентгеновском дифрактометре ARL X'TRA. Съемку рентгеновских спектров проводили с помощью Cu-излучения. С помощью баз данных МИНКРИСТ и COD определили межплоскостное расстояние и параметры ячеек синтезированных продуктов и сравнили с результатами рентгенофазового анализа.


Доп.точки доступа:
Губанов, С. И.; Болоцкая, А. В.; Амосов, Е. А.; Илларионов, А. Ю.; Титова, Ю. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




    Песков, А. В.
    Измерение показателей тонкой кристаллической структуры минералов [Текст] / А. В. Песков, Е. Ю. Тарасова // Вестник Самарского государственного технического университета. Сер.: Технические науки. - 2018. - № 1 (57). - С. 141-148. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки https://elibrary.ru . - ISSN 1991-8542
УДК
ББК 26.303 + 33.36
Рубрики: Геология
   Минералогия

   Горное дело

   Разработка нефтяных и газовых месторождений

Кл.слова (ненормированные):
микроискажения -- области когерентного рассеяния -- профили дифракционных линий -- рентгеновские методы -- аппроксимация -- минеральные фазы -- дифрактограммы -- функция Фойгта -- Фойгта функция -- экспрессные методы -- структуры минералов -- тонкие кристаллические структуры минералов
Аннотация: Приведены результаты расчетов размеров областей когерентного рассеяния и величин микроискажений методом аппроксимации для ряда минералов. Показано сопоставление двух методов анализа микроструктуры - экспрессного метода по полуширине профилей, аппроксимированных функцией Фойгта, и анализа формы профиля дифракционных линий с учетом асимметрии аппаратных искажений и физического профиля. Экспериментально обоснован выбор аналитических линий исследуемого минерала и стандарта для повышения точности определений. Методика определения параметров дефектности минералов апробирована в условиях работы аппаратуры с заданной экспрессностью и точностью.


Доп.точки доступа:
Тарасова, Е. Ю.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)