Определение размеров нанообъектов в пористых системах, наноматериалах и некоторых дефектных материалах методом позитронной аннигиляционной спектроскопии (обзор) [Текст] / В. И. Графутин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 27-36. - Библиогр.: с. 36 (33 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Элементарные частицы Кл.слова (ненормированные): нанообъекты -- пористые системы -- наноматериалы -- дефектные материалы -- позитронная аннигиляционная спектроскопия -- спектроскопия -- аннигиляционная спектроскопия -- аннигиляция -- позитроны -- временное распределение аннигиляционных фотонов -- угловое распределение аннигиляционных фотонов -- аннигиляционные фотоны Аннотация: Показано, что одним из эффективных методов определения размеров нанообъектов, их концентраций в месте аннигиляции позитронов в пористых системах и вообще в большом числе технически важных материалов и наноматериалов является метод позитронной аннигиляционной спектроскопии. Доп.точки доступа: Графутин, В. И.; Прокопьев, Е. П.; Тимошенков, С. П.; Фунтиков, Ю. В. |