Никифоров, С. Г. Фотометрический метод исследования полупроводниковых гетероструктур [Текст] / С. Г. Никифоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 28-33. - Библиогр.: с. 33 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Физика Экспериментальные методы и аппаратура оптики Кл.слова (ненормированные): фотометрический метод -- полупроводниковые гетероструктуры -- гетероструктуры -- светоизлучающие диоды -- деградация структур -- излучающие гетероструктуры -- деградация гетероструктур -- пространственное распределение силы света -- гониофотометрический метод -- термоультразвуковая приварка -- контактные полупроводники -- светодиоды -- сила света -- измерение светового потока Аннотация: Рассмотрены проблемы диагностики параметров светоизлучающих диодов. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Ильющенко, А. Ф. Исследование влияния отрицательных температур на деградацию структуры и свойств регенератора жидкого азота [Текст] / А. Ф. Ильющенко, И. В. Фомихина, Ю. О. Лисовская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76. N 3. - С. 52-55. - Библиогр.: с. 55 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Материаловедение Химическая технология Общие вопросы химической технологии Кл.слова (ненормированные): влияние температур -- отрицательные температуры -- деградация структур -- регенераторы азота -- жидкий азот -- металлографический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеновская дифракция -- гармонический анализ -- старение металла -- предел текучести -- ударная вязкость Аннотация: Исследовано влияние отрицательных температур эксплуатации в условиях длительного нагружения на структуру, фазовый состав, параметры тонкой структуры, прочностные характеристики металлических конструкций методами металлографического, рентгеноструктурного анализов, а также механических испытаний. Доп.точки доступа: Фомихина, И. В.; Лисовская, Ю. О. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |