Иванов, С. Низковольтная растровая электронная микроскопия для исследования наноматериалов [Текст] / С. Иванов // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 66-70 : ил.: 9 рис.
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- РЭМ -- растровые электронные микроскопы -- вторичные электроны -- тестирование микроэлектронной технологии Аннотация: Низковольтная растровая микроскопия высокого разрешения является незаменимым методом исследования наноматериалов. |
Хасенов, М. У. Излучение смесей He-Ne-H2 (Ar, Kr) при слабой накачке жестким ионизатором [Текст] / М. У. Хасенов // Известия Томского политехнического университета. - 2010. - Т. 316, N 4. - С. 119-122 : ил. - Библиогр.: с. 122 (18 назв. ). . - ISSN 1684-8519
Рубрики: Физика Люминесценция Кл.слова (ненормированные): люминесцентные свойства -- смеси газов -- гелий -- неон -- тяжелые заряженные частицы -- лазеры -- ядерная накачка -- механизм заселения -- метастабильные атомы -- каскадные переходы -- ядерные частицы -- вторичные электроны Аннотация: Исследовано влияние тушащих добавок на люминесцентные свойства смесей гелия и неона при накачке альфа-частицами {210}Po. Сделан вывод о том, что заселение 3p' (1/2) [0]-уровня NeI при возбуждении тяжелой заряженной частицей происходит не в процессе диссоциативной рекомбинации молекулярных ионов. Наиболее вероятным каналом заселения Ne (3p) предполагается передача возбуждения атомам неона от метастабильных атомов гелия He (2{3}S[1]) и прямое возбуждение неона ядерными частицами и вторичными электронами. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Изготовление и исследования свойств наноструктур для прямого преобразования ядерной энергии в электрическую с использованием эмиссии вторичных электронов [Текст] / В. А. Чернов [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 11. - С. 2-9. . - Библиогр.: с. 9 (18 назв. )
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): преобразование ядерной энергии -- вторичные электроны -- структуры металл-диэлектрик-металл -- метод магнетронного распыления -- метод электронно-лучевого распыления -- ядерная энергия Аннотация: Обоснованы требования к наноструктурам металл-диэлектрик-металл (МДМ-структуры), применяемым для прямого преобразования ядерной энергии в электрическую с использованием эмиссии вторичных электронов. Описаны методы изготовления МДМ-структур - метод магнетронного ионно-плазменного распыления и метод электронно-лучевого распыления. Доп.точки доступа: Чернов, В. А.; Палагушкин, А. Н.; Прудников, Н. В.; Сергеев, А. П.; Сигейкин, Г. И.; Леонова, Е. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Бакиева, О. Р. Процессы многократного рассеяния в формировании M EELFS - спектров 3d-металлов [Текст] / О. Р. Бакиева, Д. Е. Гай // Физика твердого тела. - 2010. - Т. 52, вып. 10. - С. 2040-2045. . - Библиогр.: с. 2041-2045 (12 назв. )
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): процессы многократного рассеяния -- локальные атомные структуры -- вторичные электроны -- рассеяние Аннотация: Рассмотрены процессы многократного рассеяния вторичного электрона на локальной атомной структуре и их вклады в EELFS-спектры. Для M EELFS-спектров 3d-металлов (т. е. EELFS-спектров за M-краями энергетических потерь) рассмотрены вклады процессов, обусловленных многократными процессами возбуждения 3d-валентных электронов электронным ударом. Доп.точки доступа: Гай, Д. Е. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |