Стабильность электрических характеристик МОП-структур на основе оксида галлия [Текст] / В. М. Калыгина [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2016. - Т. 59, № 6. - С. 3-6 : рис., табл. - Библиогр.: c. 6 (8 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): МОП-структура -- арсенид галлия -- вольт-сименсные характеристики -- вольт-фарадные характеристики -- оксид галлия -- полупроводниковые материалы -- электрические характеристики Аннотация: Представлены результаты исследования вольт-фарадных и вольт-сименсных характеристик структур металл - оксид - полупроводник на основе Ga_x/O_y /GaAs, полученных методом термического испарения. Установлено влияние температуры отжига на характеристики структур. Обнаружено, что при длительном хранении в комнатной атмосфере структуры не меняют своих свойств, что проявляется в стабильности электрических характеристик. Доп.точки доступа: Калыгина, В. М.; Петрова, Ю. С.; Прудаев, И. А.; Толбанов, О. П. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |