Сорбционно-атомно-эмиссионное определение As, Bi, Sb, Se и Te в возвратном металлсодержащем сырье [Текст] / М. С. Доронина [и др.]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 11. - С. 3-7. - Библиогр.: с. 6-7 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Анализ неорганических веществ Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): сорбционное концентрирование -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- металлсодержащее сырье -- возвратное сырье -- вторичное металлсодержащее сырье -- мышьяк -- висмут -- сурьма -- селен -- теллур -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- азотсеросодержащие сорбенты -- токсичные элементы -- контроль токсичности -- методы анализа сырья -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров Аннотация: Разработан комбинированный метод анализа вторичного сырья, включающего сорбционное концентрирование As, Bi, Sb, Se, Te и их атомно-эмиссионное определение в фазе сорбента или в растворе концентрата, полученном при последующей десорбции. Доп.точки доступа: Доронина, М. С.; Ширяева, О. А.; Филатова, Д. Г.; Петров, А. М.; Дальнова, О. А.; Барановская, В. Б.; Карпов, Ю. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |