Устинов, К. Б. Об уточнении граничных условий для балочной модели кантилевера атомно-силового микроскопа и их влиянии на интерпретацию результатов измерений [Текст] / К. Б. Устинов // Известия РАН. Механика твердого тела. - 2008. - N 3. - С. 182-188. - Библиогр.: с. 188 (6 назв. )
Рубрики: Механика Механика твердых тел Кл.слова (ненормированные): балочные модели -- атомно-силовые микроскопы -- кантилеверы -- модуль Юнга -- Юнга модуль -- численное определение -- методы конечные элементы -- коэффициенты Пуассона -- Пуассона коэффициенты Аннотация: Исследовано влияние граничных условий балочной модели кантилевера атомно-силовые микроскопа на результаты вычислений. |
Исследование рельефа поверхности и доменной структуры монокристаллов R (Co, Cu) 5 методами атомно-силовой микроскопии [Текст] / Ю. В. Кузнецова [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2007. - N 6 (Физика). - С. 42-50. - Библиогр.: с. 50 (4 назв. )
Рубрики: Физика Магнетизм Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- редкоземельные интерметаллиды -- атомно-силовые микроскопы -- сплавы -- атомно-силовая микроскопия Аннотация: Исследование рельефа поверхности и доменной структуры ряда редкоземельных интерметаллидов методами сканирующей зондовой микроскопии. Доп.точки доступа: Кузнецова, Ю. В.; Супонев, Н. П.; Дегтева, О. Б.; Калинкина, Е. В. |
Экспериментальное и численное моделирование эластомерных композитов путем исследования нанослоев полиизопрена на углеродной поверхности [Текст] / Морозов И. А. [и др. ] // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2008. - Т. 14, N 1. - С. 3-15 : 10 ил. - Библиогр.: с. 14-15 (28 назв. ) . - ISSN 1029-6670
Рубрики: Химическая технология Полимеры по видам структуры Математика Исследование операций Кл.слова (ненормированные): эластомерные композиты -- нанопленки -- атомно-силовые микроскопы -- сила Ван-дер-Ваальса -- Ван-дер-Ваальса сила -- полимеры -- полиизопрен на углеродной поверхности -- полиизопрен -- наполненные эластомеры -- эластомеры -- композиционные материалы -- моделирование эластомерных композитов -- нанослои полиизопрена Аннотация: Представлена методика изготовления, экспериментального исследования и численного моделирования нанопленок полимера на углеродистой поверхности с помощью атомно-силового микроскопа. Доп.точки доступа: Морозов, И. А. (Институт механики сплошных сред УрО РАН); Гаришин, О. К.; Володин, Ф. В.; Кондюрин, А. В.; Лебедев, С. Н. |
Гольдштейн, Р. В. О некоторых особенностях механического поведения кантилеверов атомно-силовых микроскопов [Текст] / Р. В. Гольдштейн, В. А. Городцов, К. Б. Устинов // Инженерная физика. - 2009. - N 4. - С. 19-23
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): консоль -- кантилеверы -- атомно-силовые микроскопы -- упругость -- механические элементы Аннотация: Представления о структуре и работе АСМ опираются обычно на идеализированные модели составляющих элементов. Например, в качестве главного механического элемента рабочего органа АСМ - кантилевера рассматривается однородная консоль прямоугольного сечения с жесткой заделкой. В настоящей работе рассматриваются два уточнения механической модели работы кантилевера. Одно уточнение упрощенных представлений касается учета изменений в распределении массы и жесткости кантилеверов по их длине. Подобные изменения из-за покрытий, несовершенства технологии изготовления и т. п. играют большую роль, прежде всего, при динамическом режиме работы АСМ [1, 2]. Другое уточнение затрагивает учет подвижности заделки кантилеверов, упругость консоли и держателя консоли. В обоих случаях рассматривается вклад соответствующих параметров в изменение статических и динамических характеристик АСМ. Доп.точки доступа: Городцов, В. А.; Устинов, К. Б. |
Кантилеверные наносенсоры: возможности и применения [Текст] / Т. Ким [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 34-37 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 37 (10 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): кантилеверные наносенсоры -- атомные весы -- атомно-силовые микроскопы -- АСМ -- наночастицы Аннотация: В весах для измерения массы хорошо работает геометрический принцип. Чем миниатюрнее весы, тем меньше массы можно взвешивать. Доп.точки доступа: Ким, Т.; Ванг, К.; Киселев, Г.; Яминский, И. |
Атомно-силовая микроскопия вирусов [Текст] / М. Архипенко [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 5. - С. 38 : ил.: 2 рис. - Библиогр.: с. 38 (3 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- силовая спектроскопия -- методы изучения вирусов -- вирусные частицы Аннотация: Атомно-силовая микроскопия является основным методом изучения механических свойств вирусных частиц - жесткости, прочности и устойчивости к внешним воздействиям. Доп.точки доступа: Архипенко, М.; Дубровин, Е.; Карпова, О.; Сушко, А.; Яминский, И.; Атабеков, И. |
Крапивин, В. Ф. (доктор физико-математических наук; профессор). Нанотехнологии и их применение [Текст] = Nanotechnologies and their application / В. Ф. Крапивин, Ж. И. Потапов, В. Ю. Солдатов // Экономика природопользования. - 2010. - N 4. - С. 10-34. . - Библиогр.: с. 29-34 (51 назв. )
Рубрики: Наука. Науковедение Общие вопросы науки--Россия--США--Швеция; Япония; Германия, 21 в. нач. Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- нанотехнологии в электронике -- электроника -- наноэлектроника -- нанотехнологии в медицине -- наномедицина -- бионанотехнологии -- нанотехнологии в энергетике -- энергетика -- ядерная энергетика -- нанотехнологии в лесном хозяйстве -- лесное хозяйство -- нанотехнологии в охране окружающей среды -- охрана окружающей среды -- информационно-измерительные системы -- спектральные измерения -- оптика -- оптические приборы -- популяризационно-оптические приборы -- хроматография -- водная среда -- водные растворы -- спектроэллипсометрия -- спектрометрия -- эллипсометрия -- спектральные образы -- природные иерархические структуры -- иерархические структуры -- природно-антропогенные системы -- антропогенные системы -- экологический мониторинг -- адаптивные идентификаторы -- идентификаторы -- экспертные системы -- спектрополяриметры -- микроэлектромеханические системы -- электромеханические системы -- зондовая нанотехнология -- зондовые микроскопы -- микроскопы -- туннельные микроскопы -- углеродные нанотрубки -- нанотрубки -- атомно-силовые микроскопы -- углеродная электроника -- магнитная память -- нанороботы -- молекулярные материалы -- зарубежный опыт Аннотация: Дается обзор отечественных и зарубежных исследований в области нанотехнологий и их применения в различных областях науки, техники и хозяйственной деятельности. Рассмотрены достижения по применению нанотехнологий в электронике, медицине, лесном хозяйстве, спектроэллипсометрии, энергетике и других областях. Отмечены успехи и недостатки проведенных исследований. Обсуждены перспективы применения нанотехнологий в решении многих антропогенных проблем. Доп.точки доступа: Потапов, И. И. (кандидат технических наук); Солдатов, В. Ю.; Институт радиотехники и электроники РАН; РАНРоссийская корпорация нанотехнологий РОСНАНО; РОСНАНО; NT-MDT, компания; Компания "NT-MDT"; Нанотехнологии в электронике, центр; Центр "Нанотехнологии в электронике"; Нанотехнология и молекулярные материалы, центр; Центр "Нанотехнология и молекулярные материалы" Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Физическая модель поведения полимерных наноструктурированных композитов при наноиндентировании [Текст] = Physical model of polymer nanostructural composites behavior in nanoindentation experiments / Яновский Ю. Г. [и др. ] // Механика композиционных материалов и конструкций. - 2010. - Т. 16, N 3. - С. 445-453. : ил. - Библиогр.: с. 452-453 (16 назв. )
Рубрики: Химическая технология Высокомолекулярные соединения в целом Получение синтетических полимеров Каучук и резина Кл.слова (ненормированные): наноструктурированные материалы -- композиты -- композиционные материалы -- композитные материалы -- нанонаполнители -- наноиндентирование -- микроиндентирование -- индентирование -- масштабные эффекты -- механические свойства -- нанотехнологии -- наполнители композиционных материалов -- наполнители композитных материалов -- наполнители композитов -- эластомеры -- эластомерные композиционные материалы -- эластомерные композиты -- эластомерные композитные материалы -- нанодеформирование -- микродеформирование -- деформирование -- эксперименты -- атомно-силовые микроскопы -- инденторы -- индентор Берковича -- Берковича индентор -- коэффициент Пуассона -- Пуассона коэффициент Аннотация: Обсуждаются возможные причины проявления масштабного эффекта при испытании наноструктурированных эластомерных композиционных материалов методом наноиндентирования в рамках физических концепций ангармонизма и флуктуаций плотности. Анализируется масштабный эффект по изменению зависимости модуля упругости от величины деформации. В частности показано, что переход от нанодеформирования к микродеформированию (или от наноиндентирования к микроиндентированию) наблюдается тогда, когда объем деформированного в процессе эксперимента материала превысит совокупный объем двух агрегатов нанонаполнителя в среде. Доп.точки доступа: Яновский, Юрий Григорьевич (доктор технических наук); Козлов, Георгий Владимирович (научный сотрудник); Корнев, Юрий Витальевич (кандидат технических наук); Бойко, Олег Владимирович (старший лаборант); Карнет, Юлия Николаевна (кандидат физико-математических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Швец, В. Создание структур из оксида на поверхности графита [Текст] / В. Швец // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 36-38. : ил.: 6 рис. - Библиогр.: с. 38 (5 назв. )
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): графит -- литография -- ЛАО -- локальное анодное окисление -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы Аннотация: Суть метода - к зонду прикладывается напряжение, отрицательное, относительно подложки. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Дистанционное управление нанотехнологическим оборудование [Текст] / Г. Мешков [и др. ] // Наноиндустрия. - 2011. - N 2. - С. 46-49. : ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 49 (3 назв. )
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Кл.слова (ненормированные): СТМ -- сканирующие туннельные микроскопы -- СЗМ -- сканирующие зондовые микроскопы -- АСМ -- атомно-силовые микроскопы -- зондовая интернет-микроскопия Аннотация: Сканирующий туннельный микроскоп стал родоначальником большого семейства сканирующих зондовых микроскопов. Доп.точки доступа: Мешков, Г.; Рахимова, А.; Филонов, А.; Яминский, Д.; Яминский, И. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Рехвиашвили, С. Ш. Исследование вязкоупругих свойств стекол для микроканальных пластин зондовым акустическим методом [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили, З. В. Шомахов, А. М. Кармоков // Инженерная физика. - 2010. - N 11. - С. 31-36.
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): акустическая эмиссия -- скорость звука -- стекла -- микроканальные пластины -- атомно-силовые микроскопы -- поперечная скорость звука -- модуль упругости стекол Аннотация: Экспериментально исследована акустическая эмиссия, возникающая при ударе твердого микрозонда (корунд) о поверхность стекол микроканальных пластин (свинцово-силикатное и боратно-бариевое стекла). Эксперименты показали, что интенсивность звука возрастает прямо пропорционально амплитуде колебаний микрозонда, что согласуется с теоретическими представлениями. Акустическая эмиссия при взаимодействии зонда с поверхностью может использоваться для диагностики вязкоупругих свойств неорганических стекол, а также имеет перспективы применения в атомно-силовом микроскопе для построения изображений поверхности. Произведены оценки поперечной скорости звука и модуля упругости стекол. Доп.точки доступа: Шомахов, З. В.; Кармоков, А. М. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Андреева, Наталья Владимировна. Исследование поверхностного пьезоотклика керамики титаната стронция методами силовой микроскопии пьезоотклика при низких температурах [Текст] / Н. В. Андреева, С. А. Плясцов, А. В. Филимонов // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. - 2012. - № 1 (141). - С. 7-12 : ил., схема. - Библиогр.: с. 12 (10 назв.) . - ISSN 1994-2354
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Физические приборы и методы физического эксперимента Кл.слова (ненормированные): пьезоотклик -- поверхностный пьезоотклик -- керамика -- титанат стронция -- микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- силовая микроскопия -- сегнетоэластические свойства -- квантовые состояния -- когерентные квантовые состояния -- состояние Мюллера -- Мюллера состояние Аннотация: Представлены результаты исследований динамики сегнетоэластических свойств поверхности керамики титаната стронция при низких температурах, полученной по методике силовой микроскопии пьезоотклика. Выявлено повышение уровня амплитуды сигнала пьезоотклика с поверхности образца и увеличение латеральных размеров полярных областей при температурах, соответствующих возникновению когерентного квантового состояния - "состояния Мюллера" в титанате стронция. Доп.точки доступа: Плясцов, Семен Алексеевич; Филимонов, Алексей Владимирович Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Морфология железосодержащих стекол при различных концентрациях гематита [Текст] / Н. И. Поречная [и др.] // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. - 2012. - № 4 (158). - С. 22-28 : ил., табл. - Библиогр.: с. 27-28 (9 назв.) . - ISSN 1994-2354
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): железосодержащие стекла -- атомно-силовая микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- гематиты -- нанокомпозитные материалы -- щелочноборосиликатные стекла -- пористые магнитные матрицы -- микропористые стекла -- атомно-силовые микроскопы Аннотация: При помощи атомно-силовой и просвечивающей электронной микроскопии были проведены исследования структуры двухфазных железосодержащих щелочноборосиликатных стекол с различными составами: 15, 20 и 25% гематита (Fe[2]O[3]) и пористых магнитных матриц с двумя диаметрами пор. На поверхности и в объеме двухфазных образцов обнаружена капельная железосодержащая фаза; размер и плотность капель зависит от концентрации Fe[2]O[3]. В пористых железосодержащих стеклах наблюдается формирование областей с различными размерами пор и частичное «вытравливание» железосодержащих агломератов.The morphology of ferriferous glasses with different iron oxide (III) concentration: 15, 20 and 25% and two types of the magnetic porous glasses have been studied using atomic-force and transmission electron microscopy. The droplet iron bearing phase was detected both on the surface and in the volume of ferriferous glasses. The drops size and their density depended on the iron oxide concentration (Fe[2]O[3]). The regions with different pore sizes and the effect of the partial etching of the iron bearing drops have been observed in porous magnetic matrices. Доп.точки доступа: Поречная, Надежда Ивановна (1986-); Набережнов, Александр Алексеевич (1951-); Дроздова, Ирина Аркадьевна; Анфимова, Ирина Николаевна; Пшенко, Ольга Андреевна Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Магнитоэлектрические свойства и локально-индуцированные состояния в манганитах [Текст] / Р. Ф. Мамин [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 9. - С. 1196-1199. - Библиогр.: c. 1199 (15 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электростатика Кл.слова (ненормированные): атомно-силовые микроскопы -- зонд АСМ -- манганиты -- метод приложения внешнего электрического поля -- модель индуцированных состояний -- поляризационные состояния Аннотация: Исследована динамика роста локальных состояний, индуцированных внешним электрическим полем от зонда атомного силового микроскопа. Доп.точки доступа: Мамин, Р. Ф.; Бизяев, Д. А.; Юсупов, Р. В.; Бухараев, А. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Индуцированное осаждение металлических наномассивов на базе АСМ для устройств фотоники [Текст] / А. Ю. Шагурина [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2017. - Т. 81, № 12. - С. 1647-1651 : рис. - Библиогр.: c. 1651 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Машиностроение Соединения деталей машин Энергетика Электротехника в целом Кл.слова (ненормированные): анодно-окислительная литография -- атомно-силовые микроскопы -- кластеры серебра -- кремниевые пластины p-типа -- силовая литография -- способ индуцированного осаждения металлических наномассивов Аннотация: Проведены эксперименты по формированию периодических наноструктур с рельефом, повторяющим траекторию движения зонда атомно-силового микроскопа (АСМ) и исследованы параметры, влияющие на геометрические размеры литографического рисунка: высоту, ширину, форму профиля и т. д. Впервые разработан способ индуцированного осаждения кластеров серебра на поверхность кремниевой пластины p-типа в присутствии внешнего электрического поля. Обсуждается возможность использования подобных структур в качестве фотоэлектронных преобразователей, активных элементов систем усиления излучения, в лазерных и оптоэлектронных устройствах волоконной оптики, а также фотонных кристаллов. Доп.точки доступа: Шагурина, А. Ю.; Скрябин, И. О.; Ногтев, Д. С.; Седова, И. Е.; Новикова, О. А.; Масолов, А. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Дерябин, А. С. Зависимость формы дислокационных ямок травления в эпитаксиальных пленках GeSi (001) на Si от толщины пленки [Текст] / А. С. Дерябин, Л. В. Соколов, Е. М. Труханов // Известия РАН. Серия физическая. - 2019. - Т. 83, № 6. - С. 747-749. - Библиогр.: c. 749 (6 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): атомно-силовые микроскопы -- дислокационные ямки травления -- структурно-чувствительное травление -- эпитаксиальные пленки Аннотация: С помощью атомно-силового микроскопа и структурно-чувствительного травления эпитаксиальных пленок GeSi на Si (001) исследована кристаллография четырехугольного контура, ограничивающего дислокационную ямку травления в плоскости поверхности пленки. В зависимости от таких характеристик пленки как ее толщина и наличие дислокационных полос скольжения стороны контура могут быть параллельными как направлениям типа <110>, так и направлениям <010>. Ямки травления ограничены низкоиндексными фасетками {111} и {110}, и согласно электрохимической гипотезе их формирование обусловлено распределением напряжений вблизи полос скольжения. Доп.точки доступа: Соколов, Л. В.; Труханов, Е. М. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |