Волкова, В. К.
    Рентгенографический анализ структуры композитов на основе политетрафторэтилена при тепловом воздействии [Текст] / В. К. Волкова, Л. Ф. Калистратова // Материаловедение. - 2015. - № 4. - С. 54 . - ISSN 1684-579Х
УДК
ББК 35.712
Рубрики: Химическая технология
   Карбоцепные полимеры и пластмассы на их основе

Кл.слова (ненормированные):
аморфно-кристаллические композиты -- высокотемпературное нагревание -- композиты -- матрицы -- матрицы композитов -- полимеры -- политетрафторэтилены -- рентгенографический анализ -- степень кристалличности
Аннотация: Проведены рентгенографические исследования структуры аморфно-кристаллических композитов на основе ПТФЭ при высокотемпературном нагревании. Определены границы устойчивости их структуры к тепловому воздействию. Изучены температурные зависимости параметров кристаллической и аморфной составляющих матрицы композитов.


Доп.точки доступа:
Калистратова, Л. Ф.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Применение лазерного дизайна аморфных сплавов на основе железа и кобальта для создания аморфно-кристаллических композитов [Текст] / И. Е. Пермякова [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2015. - Т. 58, № 9. - С. 115-122 : рис., табл. - Библиогр.: c. 122 (16 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.372 + 22.37
Рубрики: Физика
   Механические и акустические свойства монокристаллов

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
аморфно-кристаллические композиты -- аморфные сплавы -- лазерная обработка -- лазерное облучение -- магнитно-мягкие сплавы -- микротвердость сплавов -- оксидирование -- сплавы железа-кобальта -- термическая обработка
Аннотация: Проведено детальное изучение морфологических и фрактографических особенностей изменения поверхности аморфных сплавов на основе железа и кобальта после лазерного воздействия. Подобраны режимы лазерной обработки, позволяющие реализовать различную степень кристаллизации исследуемых сплавов: тонкие кристаллические слои (< 1 мкм) на поверхности аморфных сплавов, аморфно-кристаллические композиты, полностью кристаллические сплавы. Проведена оценка величин твердости по Виккерсу в зонах селективного лазерного облучения. Проанализирована структура исследуемых сплавов в сопоставлении с изменением их механических свойств.


Доп.точки доступа:
Пермякова, И. Е.; Глезер, А. М.; Иванов, А. А.; Шеляков, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)




   
    Роль границ раздела в многослойном TiN/SiN[x]-нанокомпозите при облучении [Текст] / В. В. Углов [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 9. - С. 127-137 : рис. - Библиогр.: c. 137 (29 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.311 + 22.38 + 22.37
Рубрики: Физика
   Математическая физика

   Ядерная физика в целом

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
аморфно-кристаллические композиты -- границы раздела -- дисклинации -- кинетика радиационных дефектов -- межфазные границы -- многослойные нанокомпозиты -- поля напряжений -- радиационная стойкость
Аннотация: Исследуется кинетика радиационных точечных дефектов с учетом процессов их генерации, диффузионной рекомбинации и действия стоков, которыми являются межфазные границы, в многослойном TiN/SiN[x]-нанокомпозите. Для описания кинетики в нанокристаллической TiN- и аморфной SiN[x]-фазах численно решались системы балансных кинетических уравнений для абсолютных концентраций дефектов, зависящих от пространственных координат и времени, методом конечных разностей. С использованием дисклинационно-дислокационной модели структуры межфазной границы рассмотрен процесс осаждения радиационных дефектов на границы в создаваемых ими полях напряжений. Показано, что межфазные границы эффективно поглощают радиационные дефекты в составляющих фазах TiN/SiN[x]-нанокомпозита, уменьшая их количество в пространстве между ними. Подобное поведение радиационных дефектов частично раскрывает механизм радиационной стойкости в рассматриваемом классе нанокомпозитов.


Доп.точки доступа:
Углов, В. В.; Сафронов, И. В.; Квасов, Н. Т.; Ремнев, Г. Е.; Шиманский, В. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)