Башоров, М. Т. Полимеры как естественные нанокомпозиты: сравнительный анализ механизмов усиления [Текст] / М. Т. Башоров, Г. В. Козлов, А. К. Микитаев // Нанотехника. - 2009. - N 4 (20). - С. 43-45 : 2 рис. - Библиогр.: c. 45 (12 назв. ) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): полимеры -- естественные нанокомпозиты -- межфазная адгезия -- аморфное состояние -- коллоидные растворы Аннотация: Уровень межфазной адгезии оказывает сильное влияние на степень усиления полимеров. Доп.точки доступа: Козлов, Г. В.; Микитаев, А. К. |
Абзаев, Ю. А. Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного Аl[2]О[3] разных методов синтеза [Текст] / Ю. А. Абзаев, В. В. Сызранцев, С. П. Бардаханов // Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 3. - С. 129-135 : рис., табл. - Библиогр.: c. 135 (11 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): Ритвельда метод -- аморфное состояние -- аморфные структуры -- метод Ритвельда -- методы синтеза -- нанопорошки сплава оксид алюминия -- наночастицы оксида алюминия -- оксид алюминия -- параметр решетки -- структура нанопорошков сплава Аннотация: Проведено исследование структурного состояния нанопорошков сплава Аl[2]О[3], синтезированных различными методами: испарения электронным пучком, гидролиза и плазмохимическим. Рентгеноструктурный анализ показал, что нанопорошки Аl[2]О[3], синтезированные различными методами, находятся в рентгеноаморфном и полуаморфном состояниях. Эти методы синтеза стимулируют создание аморфных структур с разной удельной поверхностью. Структурное состояние сплава Аl[2]О[3] исследовалось методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования. С целью идентификации внутреннего строения проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы Аl[2]О[3] в рамках молекулярной динамики. В результате полнопрофильного уточнения параметров модельных фаз нанопорошков Аl[2]О[3] установлена полная структурная информация синтезированных сплавов Аl[2]О[3]. Из первых принципов показано, что ячейки рентгеноаморфного Аl[2]О[3] оказались высокостабильными. Определены параметры элементарных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов. Показано, что в нанопорошках сплава Аl[2]О[3] с ростом энергии связи атомов в ячейке возрастает удельная поверхность. Доп.точки доступа: Сызранцев, В. В.; Бардаханов, С. П. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Космачев, П. В. Количественный фазовый анализ высококремнеземистых материалов после плазменной обработки [Текст] / П. В. Космачев, Ю. А. Абзаев, В. А. Власов // Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 2. - С. 54-59 : рис. - Библиогр.: c. 58-59 (12 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Химическая технология Технология неорганических веществ Техника Материаловедение Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): Ритвельда метод -- аморфное состояние -- анализ высококремнеземистых материалов -- высококремнеземистые материалы -- диоксид кремния -- количественный фазовый анализ -- кристаллический диоксид кремния -- кристаллическое строение оксидов -- метод Ритвельда -- нанодисперсные материалы -- нанопорошок диоксида кремния -- плазменная обработка материалов -- структура кристаллических оксидов Аннотация: Методами рентгеноструктурного анализа исследовалась структура оксидов SiO[2] двух состояний (кварцит, кварцевый песок) до и после плазменной обработки. Под действием плазмы сырье плавилось и испарялось в газообразную фазу, после чего проходило стадию закалки с конденсацией в виде наночастиц. Идентификация и уточнение структурных параметров решеток фаз осуществлялась методом Ритвельда. Обнаружено, что после плазменной обработки оксиды SiO[2] находились в аморфизированном состоянии. Моделирование аморфного состояния SiO[2] осуществлялось в рамках микроканонического ансамбля. Было показано, что аморфные фазы оказываются стабильными и с высокой степенью сходимости модельные интенсивности отраженного излучения аппроксимируют экспериментальные дифрактограммы. В рамках моделирования для кристаллических и аморфных фаз оксидов SiO[2] установлена полная структурная информация: определены координаты атомов, параметры структуры и заселенность узлов атомами кремния и кислорода. Доп.точки доступа: Абзаев, Ю. А.; Власов, В. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |