Соколов, В. Н. Исследование микроструктуры грунтов с помощью компьютерного анализа РЭМ-изображений [Текст] / В. Н. Соколов, Д. И. Юрковец, О. В. Разгулина // Геоэкология. Инженерная геология. Гидрогеология. Геокриология. - 2008. - N 4. - С. 377-382. - Библиогр.: с. 382 (13 назв. ) . - ISSN 0869-7803
Рубрики: Геология Инженерная геология Кл.слова (ненормированные): компьютерный анализ -- растровый электронный микроскоп -- РЭМ-изображения -- стереометрический анализ -- электронная микроскопия -- исследование грунтов Аннотация: В статье рассмотрено развитие методов компьютерного анализа микроструктуры грунтов по изображениям, полученным с помощью растрового электронного микроскопа (РЭМ). Доп.точки доступа: Юрковец, Д. И.; Разгулина, О. В. |
Сиенгчин, С. Взаимосвязь между структурой и релаксацией напряжений в микро- и нанокомпозитах на основе полистирола и фтористого гекторита [Текст] = Structure-stress relaxation relationship in polystyrene/fluorohectorite micro- and nanocomposites / С. Сиенгчин, Т. Н. Абрахам, И. Каргер-Кочиш // Механика композитных материалов. - 2008. - Т. 44, N 5. - С. 709-722 : 8 ил., 2 табл. - Библиогр.: с. 721-722 (22 назв. ) . - ISSN 0203-1272
Рубрики: Химическая технология Карбоцепные полимеры и пластмассы на их основе Кл.слова (ненормированные): полистирол -- ПС -- фтористый гекторит -- микрокомпозиты -- нанокомпозиты -- соотношение Вильямса-Ландела-Ферри -- Вильямса-Ландела-Ферри соотношение -- степенная модель Максвелла-Финдли -- Максвелла-Финдли степенная модель -- релаксация напряжений -- дисперсия фтористого гекторита -- закон Финдли -- Финдли закон -- модель Максвелла -- Максвелла модель -- просвечивающая растровая электронная микроскопия -- ПРЭМ -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- атомная силовая микроскопия -- АСИ -- динамический механический термический анализ -- ДМТА Аннотация: Исследовали дисперсию фтористого гекторита в полистироле методами просвечивающей растровой электронной, растровой электронной и атомной силовой микроскопии. Релаксацию напряжений в композитах на основе полистирола определяли в кратковременных изотермических испытаниях, проведенных при разных температурах в диапазоне от 25 до 75 С. Доп.точки доступа: Абрахам, Т. Н.; Каргер-Кочиш, И. |
Реализация наношкалы в России [Текст] / В. Гавриленко [и др. ] // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 36-42 : ил.: 10 рис. - Библиогр.: с. 42 (6 назв. )
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): метрология -- нанометрология линейных измерений -- наношкала -- РЭМ -- растровые электронные микроскопы Аннотация: Развитие нанотехнологии требует решения проблемы обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапозоне. Доп.точки доступа: Гавриленко, В.; Новиков, Ю.; Раков, А.; Тодуа, П. |
Иванов, С. Низковольтная растровая электронная микроскопия для исследования наноматериалов [Текст] / С. Иванов // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 66-70 : ил.: 9 рис.
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- РЭМ -- растровые электронные микроскопы -- вторичные электроны -- тестирование микроэлектронной технологии Аннотация: Низковольтная растровая микроскопия высокого разрешения является незаменимым методом исследования наноматериалов. |
Молекулярно-пучковая эпитаксия термодинамически метастабильных твердых растворов GaInAsSb для фотодетекторов среднего ИК-диапазона [Текст] / А. Н. Семенов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - С. 699-705 : ил. - Библиогр.: с. 704 (21 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): молекулярно-пучковая эпитаксия -- МПЭ -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- твердые растворы -- GaInAsSb -- кристаллические решетки -- фотодетекторы -- жидкофазная эпитаксия -- ЖФЭ -- метод жидкофазной эпитаксии -- инфракрасный диапазон -- ИК-диапазон -- рентгеновская дифрактометрия -- РД -- метод рентгеновской дифрактометрии -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- метод растровой электронной микроскопии -- фотолюминесценция -- ФЛ -- кривая дифракционного отражения -- КДО -- дифракция быстрых электронов -- ДБЭ -- оптические свойства -- спинодальный распад -- термодинамические расчеты Аннотация: Изучены особенности роста методом молекулярно-пучковой эпитаксии твердых растворов GaInAsSb с содержанием индия до 25 мол%, согласованных по периоду кристаллической решетки с GaSb. Данные растворы являются перспективными для использования в качестве активной области фотодетекторных структур среднего инфракрасного диапазона. Представлены результаты исследования этих твердых растворов методами двухкристальной рентгеновской дифрактометрии, растровой электронной микроскопии и фотолюминесценции. Показано, что твердые растворы Ga[x]In[1-x]As[y]Sb[1-y] с x<0. 8, выращенные при температуре 500{o}C, демонстрируют деградацию структурных и оптических свойств по мере увеличения толщины слоя. В слоях с толщинами выше критической наблюдается спинодальный распад в полном соответствии с термодинамическими расчетами положения границ областей несмешиваемости. Обсуждаются возможности оптимизации молекулярно-пучкового роста твердых растворов Ga[x]In[1-x]As[y]Sb[1-y] (x<0. 75) с высоким оптическим и структурным совершенством, а также характеристики фотодетекторов на основе гетероструктур GaInAsSb/AlGaAsSb. Доп.точки доступа: Семенов, А. Н.; Терентьев, Я. В.; Мельцер, Б. Я.; Соловьев, В. А.; Попова, Т. В.; Нащекин, А. В.; Андреев, И. А.; Куницына, Е. В.; Усикова, А. А.; Яковлев, Ю. П.; Иванов, С. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Исследование продуктов дальнего выстрела с помощью растрового электронного микроскопа [Текст] / В. А. Федоренко [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2012. - Вып. 3. - С. 72-76 : 3 рис. . - ISSN 1814-733X
Рубрики: Право Криминалистика Кл.слова (ненормированные): выстрелы -- дальние выстрелы -- растровые электронные микроскопы -- РЭМ -- продукты дальнего выстрела -- патроны -- капсюльный состав Аннотация: Представлены результаты исследований с помощью РЭМ продуктов выстрелов, произведенных различными патронами. Доп.точки доступа: Федоренко, Владимир Александрович; Захаревич, Андрей Михайлович; Биленко, Давид Исаевич; Вениг, Сергей Борисович; Гвоздкова, Людмила Сергеевна Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Попова, Татьяна Вадимовна. О проблеме выбора методов собирания и исследования продуктов выстрела [Текст] / Т. В. Попова // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2012. - Вып. 3. - С. 76-77 : рис. . - ISSN 1814-733X
Рубрики: Право Криминалистика Кл.слова (ненормированные): выстрелы -- продукты выстрела -- растровые электронные микроскопы -- РЭМ -- растровая электронная микроскопия -- спектрограммы -- элементный состав частиц Аннотация: Показана перспективность исследования продуктов выстрела методами растровой электронной микроскопии. Представлена спектрограмма элементного состава частиц продуктов выстрела. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Применение методов РЭМ и СЗМ для исследования наноструктур, формирующихся в процессе анодирования алюминиевых фольг [Текст] / К. Н. Нищев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2019. - Т. 83, № 11. - С. 1478-1482. - Библиогр.: c. 1482 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Астрономия Астрономия в целом Кл.слова (ненормированные): анодирование алюминиевых фольг -- атомно-слоевое осаждение -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Методами растровой электронной микроскопии и сканирующей зондовой микроскопии исследована морфология поверхности алюминиевых фольг, подвергнутых анодному окислению (анодированию) в кислотном растворе. Показано, что в результате анодирования в потенциостатическом режиме на поверхности исследуемых фольг формируется однородная сотовая наноструктура, в которой среднее расстояние между центрами соседних ячеек и высота ячеек прямо пропорциональны напряжению анодирования. Исследована удельная электрическая емкость наноструктурированных анодных алюминиевых фольг с оксидным слоем, нанесенным на их поверхность методом атомно-слоевого осаждения (АСО). Установлена линейная зависимость удельной электрической емкости наноструктурированных фольг от напряжения анодирования, а также обратно пропорциональная зависимость удельной электрической емкости от количества циклов АСО. Доп.точки доступа: Нищев, К. Н.; Мишкин, В. П.; Горбунов, Д. С.; Лютова, Е. Н.; Долганов, А. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |