Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (2)БД "Статьи" (60)Труды АМГУ (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=Экспериментальные методы и аппаратура оптики<.>)
Общее количество найденных документов : 54
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
1.


    Столина, А. Е.
    Гранулометрический анализ порошка кремния [Текст] / А. Е. Столина, Н. В. Пименова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 31-34. - Библиогр.: с. 5 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.37 + 22.341 + 24.66
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Химия

   Грубодисперсные системы

Кл.слова (ненормированные):
гранулометрический анализ -- порошок кремния -- оптическая микроскопия -- микроскопия -- диспергирование порошка -- метод лазерной дифракции -- лазерная дифракция -- дифракция -- порошковые материалы -- металлографический метод -- фотоседиментационный анализ
Аннотация: Представлены результаты определения гранулометрического состава порошка кремния методом оптической микроскопии.


Доп.точки доступа:
Пименова, Н. В.

Найти похожие

2.


    Максимов, Кирилл Сергеевич.
    Закономерности дефокусированных изображений в растровой электронной микроскопии и измерения размеров в нанообласти [Текст] / К. С. Максимов // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 2 (76). - С. 69-73 . - ISSN 1561-5405
УДК
ББК 22.341 + 22.3с + 32.851
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Физические приборы и методы физического эксперимента

   Радиоэлектроника

   Электровакуумные приборы

Кл.слова (ненормированные):
изображения -- микроскопия -- электронная микроскопия -- наноструктурированные объекты -- нанотехнологии
Аннотация: Рассмотрены проблемы измерения размеров в нанообласти.


Найти похожие

3.


    Скляренко, М. С.
    Идентификация вынужденных механических колебаний по данным скоростной цифровой фотосъемки [Текст] / М. С. Скляренко, М. А. Марценюк, В. Г. Сивков // Вестник Пермского университета. - 2009. - Вып. 9 (35). - С. 111-119. - Библиогр.: с. 119. - Назв. вып.: Информационные системы и технологии . - ISSN 2076-8141
УДК
ББК 33.341
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
цифровая фотосъемка -- механические колебания -- метод прецизионных измерений -- компьютерная обработка данных
Аннотация: В работе рассматривается метод прецизионных измерений координат и скоростей движущихся объектов по данным скоростной цифровой фотосъемки. Исследуются вынужденные механические колебания маятника и системы двух связанных маятников. С помощью компьютерной обработки данных фотосъемки проведена идентификация параметров моделей, использованных для описания исследуемых систем.


Доп.точки доступа:
Марценюк, М. А.; Сивков, В. Г.

Найти похожие

4.


    Балашов, А. А.
    Оптоволоконная фурье-спектроскопия [Текст] = Fourier fiber-optic spectroscopy / А. А. Балашов, А. А. Вагин, О. В. Хитров // Успехи современной радиоэлектроники. - 2009. - N 10. - С. 52-58 : 10 рис. - Библиогр.: с. 58 (2 назв. ). - Аннотация на англ. яз. в конце ст. . - ISSN 2070-0784
УДК
ББК 22.341 + 22.344
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Спектроскопия

Кл.слова (ненормированные):
ИК-диапазон -- молекулярная спектроскопия -- оптоволоконная фурье-спектроскопия -- оптоволоконные зонды -- спектрометры -- спектроскопия -- фурье-спектрометры -- фурье-спектроскопия
Аннотация: Рассмотрено новое направление спектроскопии - оптоволоконная фурье-спектроскопия, ее особенности и преимущества. Описан разработанный и изготовленный в НТЦ УП РАН оптоволоконный фурье-спектрометр. Он позволяет проводить измерения внутри исследуемого образца (с помощью оптоволоконного зонда), имеет малые размеры и высокие эксплуатационные характеристики. Показаны основные типы оптоволоконных зондов, используемых в среднем ИК-диапазоне.


Доп.точки доступа:
Вагин, А. А.; Хитров, О. В.

Найти похожие

5.


    Балагур, А. А.
    Контроль рассинхронизации TDMA-сигнала в контрольных точках мультиплексированных цифровых каналов связи методом преобразования Гильберта [Текст] / А. А. Балагур, А. А. Хрусталев, О. А. Михалин // Наукоемкие технологии. - 2009. - Т. 10, N 8. - С. 23-27 : ил. - Библиогр.: с. 27 (4 назв. ) . - ISSN 1999-8465
УДК
ББК 22.341
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
TDM-сигналы -- рассинхронизация сигналов -- мультиплексированные цифровые каналы -- цифровые каналы связи -- преобразования Гильберта -- Гильберта преобразования -- разделение каналов -- Time Division Mutiplexing -- TDM -- мультиплексирование -- синхронизация тайм-слотов -- импульсные сигналы -- LabVIEW -- зашумленные сигналы -- телекоммуникационные сети -- анализ цифровых сигналов -- цифровые сигналы -- измерения шумов -- рассинхронизация сигналов -- каналы связи -- волоконно-оптические линии связи -- ВОЛС -- тайм-слоты
Аннотация: Рассмотрена схема мультиплексирования с временным разделением каналов (Time Division Multiplexing, TDM). Важно, чтобы коммутаторы на передающей и приемной сторонах работали синхронно и временные слоты совпадали. На практике для синхронности коммутаторов используется сигнал синхронизации, представляющий собой известную приемнику последовательность импульсов. Для обнаружения рассогласования синхронизации временных слотов и измерения шумов и наводок, возникающих в канале связи, необходим непрерывный контроль параметров TDMA-сигнала в контрольных точках. Предложен метод контроля рассинхронизации TDMA-сигнала в контрольных точках мультиплексированных цифровых каналов связи методом преобразования Гильберта.


Доп.точки доступа:
Хрусталев, А. А.; Михалин, О. А.

Найти похожие

6.


    Никифоров, С. Г.
    Фотометрический метод исследования полупроводниковых гетероструктур [Текст] / С. Г. Никифоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - С. 28-33. - Библиогр.: с. 33 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 31.233 + 22.341
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

   Физика

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
фотометрический метод -- полупроводниковые гетероструктуры -- гетероструктуры -- светоизлучающие диоды -- деградация структур -- излучающие гетероструктуры -- деградация гетероструктур -- пространственное распределение силы света -- гониофотометрический метод -- термоультразвуковая приварка -- контактные полупроводники -- светодиоды -- сила света -- измерение светового потока
Аннотация: Рассмотрены проблемы диагностики параметров светоизлучающих диодов.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

7.


    Шакиров, И. В.
    Алгоритм реконструкции сферических изображений, полученных при работе с широкоугольной оптикой [Текст] / И. В. Шакиров, А. М. Самойлов, В. В. Гренке // Известия Томского политехнического университета. - 2007. - Т. 310, N 2. - С. 116-120. : ил. - Библиогр.: с. 120 (2 назв. ).
УДК
ББК 22.341 + 22.19
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Математика

   Вычислительная математика

Кл.слова (ненормированные):
сферические изображения -- широкоугольная оптика -- реконструкция изображений -- попиксельная реконструкция -- пиксельные изображения
Аннотация: Рассматривается задача реконструкции сферических изображений, полученных при работе с широкоугольной оптикой. Предложен быстрый алгоритм попиксельной реконструкции. Получены соотношения, связывающие пиксели сферического и реконструируемого изображений. Приведены результаты работы алгоритма.


Доп.точки доступа:
Самойлов, А. М.; Гренке, В. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

8.


    Мкртчян, В. П.
    Исследование рентгенооптической анизотропии материалов рентгеноинтерферометрическим методом [Текст] / В. П. Мкртчян, Л. Г. Гаспарян, М. К. Балян // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76, N 11. - С. 27-31. . - Библиогр.: с. 31 (9 назв. )
УДК
ББК 22.341
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
методы измерений -- рентгенооптическая анизотропия -- рентгеноинтерферометрический метод -- интерферирующие пучки -- муаровые полосы -- муаровые картины
Аннотация: Описан новый метод исследования рентгенооптической анизотропии материалов, в основе которой лежит рентгеноинтерферометрический метод измерений.


Доп.точки доступа:
Гаспарян, Л. Г.; Балян, М. К.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

9.


    Расковская, И. Л.
    Диагностика конвективных процессов в пограничном слое жидкости методом лазерной рефрактографии [Текст] / И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс, А. В. Толкачев // Инженерно-физический журнал. - 2010. - Т. 83, N 6. - С. 1149-1156. : Рис. 6. - Библиогр.: с. 1156 (19 назв. )
УДК
ББК 22.342 + 22.341
Рубрики: Физика
   Геометрическая оптика. Оптические приборы

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
лазерная рефрактография -- структурированное лазерное излучение -- дифракционные оптические элементы -- конвективные течения -- микротечения
Аннотация: Для экспериментального исследования конвективных микротечений применен новый метод невозмущающей дистанционной диагностики - лазерная рефрактография. Изложены теоретические основы метода и принципы построения измерительной системы. Проведена количественная диагностика динамики распределения температуры в пограничном слое у охлажденного или нагретого шара в воде при наличии свободной конвекции.


Доп.точки доступа:
Ринкевичюс, Б. С.; Толкачев, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.


   
    Особенности методики трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии [Текст] / А. М. Алексеев [и др. ] // Известия вузов. Электроника. - 2010. - N 6. - С. 63-66. : рис. - Библиогр.: с. 65 (4 назв. )
УДК
ББК 22.341 + 34.9
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Приборостроение

   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- электростатические силы -- магнитное изображение -- сканирующая зондовая микроскопия -- магнитная силовая микроскопия
Аннотация: Рассмотренная методика трехпроходных измерений микропровода позволяет получить уточненные магнитные изображения нано-и микрообъектов и учитывает возможное наличие и паразитное действие дальнодействующих электростатических сил.


Доп.точки доступа:
Алексеев, А. М.; Комков, В. Н.; Краснобородько, С. Ю.; Шубин, А. Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
 
Статистика
за 27.08.2024
Число запросов 81943
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)