Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Статьи" (21)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

Лебедев, А. И.
Параметры потенциальной ямы нецентрального атома Ge в твердом растворе GeTe - SnTe [Текст] / А. И. Лебедев, И. А. Случинская // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 6. - С. 1077-1085. - Библиогр.: с. 1085 (22 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
метод EXAFS-спектроскопии -- потенциальная яма атома -- потенциальные ямы -- сегнетоэлектрики -- твердые растворы -- трехмерный многоямный потенциал -- фазовые переходы
Аннотация: Предложен подход, позволяющий определить форму трехмерного многоямного потенциала нецентрального атома из данных EXAFS. Параметры потенциальной ямы атома Ge в GeTe и Sn[1-x]Ge[x]Te (x больше или равен 0. 4) определялись в классическом и квантово-механическом приближениях. Глубина потенциальных ям изменялась в пределах 20-40 meV в зависимости от содержания Ge, что указывает на промежуточный характер фазового перехода (между переходами типа смещения и порядок-беспорядок) в этих кристаллах.

Доп.точки доступа:
Случинская, И. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Оценка качества однокомпонентных нанокомпозитных полупроводниковых пленок на примере Ge [Текст] / Д. В. Сурнин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 27-30. - Библиогр.: с. 30 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a539.2

^a543.4/.5

ББК 22.37 + 24.46/48
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
однокомпонентные полупроводниковые пленки -- полупроводниковые пленки -- нанокомпозитные полупроводниковые пленки -- пленки -- гелий -- оценка качества полупроводниковых пленок -- рентгеноспектральный структурный анализ -- структурный анализ -- EXAFS-спектроскопия -- электронная спектроскопия -- спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- атомная силовая микроскопия -- микроскопия -- нанокомпозиты -- комплексные методы оценки качества -- нанокомпозитные пленки германия -- пленки германия
Аннотация: Предложен комплексный метод оценки качества однокомпонентных нанокомпозитных пленок.

Доп.точки доступа:
Сурнин, Д. В.; Валеев, Р. Г.; Ветошкин, В. М.; Карбань, О. В.; Гильмутдинов, Ф. З.; Деев, А. Н.

Найти похожие

Бабанов, Ю. А.
Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультислойных металлических наноструктурах [Текст] / Ю. А. Бабанов, Ю. А. Саламатов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 1. - С. 35-41. . - Библиогр.: с. 41 (11 назв. )

УДК

^a539.26

ББК 22.361
Рубрики: Физика
Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Кл.слова (ненормированные):
высокоразрешающие методы -- спектроскопия -- EXAFS-диагностика -- искажения кристаллической решетки -- мультислойные металлические наноструктуры -- металлические наноструктуры -- наноструктуры -- многокомпонентные системы -- метод регуляризации Тихонова -- Тихонова метод регуляризации -- EXAFS-спектроскопия
Аннотация: Описан метод EXAFS-спектроскопии, позволяющий получать величины парциальных межатомных расстояний в многокомпонентных системах с высокой точностью.

Доп.точки доступа:
Саламатов, Ю. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Корреляция магнитных свойств интерметаллида Ce[2]Fe[17-x]Mn[x] с локальными особенностями электронной и кристаллической структур: анализ данных XAFS-спектроскопии [Текст] / А. П. Менушенков [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2011. - Т. 94, вып. 3. - С. 204-209.

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
XAFS-спектроскопия -- спектроскопия рентгеновского поглощения -- EXAFS -- XANES -- интерметаллиды -- магнитные свойства -- электронная структура -- кристаллическая структура
Аннотация: C помощью спектроскопии протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (EXAFS) выше K- края поглощения Ce исследована перестройка локального окружения церия в зависимости от содержания марганца и температуры в интерметаллидах Ce[2]Fe[17-x]Mn[x] (x=0, 1, 2). Одновременно при тех же условиях методом спектроскопии околопороговой структуры рентгеновского поглощения (XANES) выше L[3]- края поглощения Ce изучено валентное состояние церия. Установлена корреляция между наблюдаемыми изменениями локальной электронной и кристаллической структур соединений Ce[2]Fe[17- x]Mn[x] и реализующимися в них типами магнитных состояний.

Доп.точки доступа:
Менушенков, А. П.; Ярославцев, А. А.; Гришина, О. В.; Черников, Р. В.; Кучин, А. Г.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Валеев, Ришат Галеевич.
EXAFS- и рентгеноэлектронная спектроскопия наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия [Текст] = EXAFS- and X-Ray electron spectroscopy of semiconductor's nanostructures in porous alumina matrices / Р. Г. Валеев, А. Н. Бельтюков, В. В. Кривенцов // Инженерная физика. - 2016. - № 12. - С. 4-12 : граф., табл. - Библиогр.: с. 11-12 (15 назв.) . - ISSN 2072-9995

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
рентгеноэлектронная спектроскопия -- спектроскопия -- наноструктуры -- полупроводники -- пористые матрицы -- оксид алюминия -- локальные атомные структуры -- подложки поликора -- EXAFS-спектроскопия -- германий -- химические связи
Аннотация: Представлены результаты исследований локальной атомной структуры и характера химических связей полупроводников изоэлектронного ряда германия (Ge, GaAs, ZnSe, ZnS), полученных методом термического испарения порошка материала на пористые матрицы анодного оксида алюминия и подложки поликора. Показано, что механизм формирования локальной атомной структуры Ge, GaAs, ZnSe и ZnS в целом одинаков. Также наблюдаются изменения в локальной атомной структуре материала, полученного в пористых матрицах, по сравнению с пленками на поверхности поликора, связанные с различием механизма конденсации. Установлено, что с ростом степени ионности химической связи в соединениях изоэлектронного ряда Ge, к которым относятся GaAs и ZnSe, по сравнению с чистыми элементами, составляющими соединение, увеличивается разница энергий связи между однотипными электронными оболочками.The results of studies of the local atomic structure and the nature of chemical bonding semiconductor isoelectronic series of germanium (Ge, GaAs, ZnSe, ZnS), obtained by thermal evaporation of the powder material on the porous anodic alumina matrix and polycor substrate. It is shown that the mechanism of formation of a local atomic structure Ge, GaAs, ZnSe and ZnS generally identical. Also there are changes in the local atomic structure of the material, resulting in porous matrices, as compared to films polycor surface associated with the difference condensation mechanism. It was found that with increasing degree of ionic character of the chemical bond in the compounds of the isoelectronic series Ge, which include GaAs and on ZnSe, compared to the pure elements that make up the compound increases the difference between the binding energies of the electron shells of the same type.

Доп.точки доступа:
Бельтюков, Артемий Николаевич; Кривенцов, Владимир Владимирович
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Фазы и амплитуды рассеяния электронов в многоатомных системах для структурного анализа неупорядоченных, аморфных и наноматериалов с помощью EXAFS-спектроскопии [Текст] / Л. А. Авакян [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 11. - С. 1522-1524. - Библиогр.: c. 1524 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a538.958

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-спектроскопия -- muffin-fin-приближение -- многоатомные системы -- обменное взаимодействие Хартри-Фока -- Хартри-Фока обменное взаимодействие
Аннотация: Представлены результаты разработки и тестирования программного комплекса, предназначенного для расчета фаз и амплитуд рассеяния электронов в многоатомных системах.

Доп.точки доступа:
Авакян, Л. А.; Булат, Н. В.; Яблуновский, К. А.; Бугаев, Л. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Континуальная модель биметаллической наночастицы для расчета парциальных координационных чисел [Текст] / Д. Б. Шемет [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 11. - С. 1529-1532. - Библиогр.: c. 1532 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a510

ББК 22.1
Рубрики: Математика
Общие вопросы математики
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-спектроскопия -- атомные кластеры -- континуальные модели -- методика вычисления парциальных координационных чисел
Аннотация: Предложена методика вычисления парциальных координационных чисел в биметаллических наночастицах с различным характером радиального распределения атомов относительно выделенного центра.

Доп.точки доступа:
Шемет, Д. Б.; Прядченко, В. В.; Срабионян, В. В.; Бдоян, К. Э.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Изучение структуры и свойств сегнетоэлектрических материалов после механоактивации [Текст] / Г. Б. Сухарина [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2018. - Т. 82, № 7. - С. 1000-1004. - Библиогр.: c. 1004 (12 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
компьютерное моделирование -- механоактивация -- перовскиты -- рентгеновская дифракция XRD -- сегнетоэлектрические материалы -- спектроскопия рентгеновского поглощения XANES/EXAFS
Аннотация: Выполнен синтез и механоактивация сегнетоэлектрических материалов со структурой перовскита, образцов PbSc[0. 5]Ta[0. 5]O[3]. На основе комплекса взаимодополняющих рентгеновских методов, включая рентгеновскую дифракцию XRD, спектроскопию рентгеновского поглощения XANES/EXAFS и компьютерное моделирование, были изучены изменения локальной атомной структуры синтезированных материалов после механоактивации. Проведена оценка влияния структурных изменений на электрофизические свойства PbSc[0. 5]Ta[0. 5]O[3] после механоактивации в широком диапазоне частот и температур.

Доп.точки доступа:
Сухарина, Г. Б.; Смоленцев, Н. Ю.; Авакян, Л. А.; Срабионян, В. В.; Храмов, Е. В.; Сташенко, В. В.; Кубрин, С. П.; Ситало, Е. И.; Гуда, А. А.; Абдулвахидов, Б. К.; Бугаев, Л. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Спектроскопические исследования нанопленок ZnS:Cu(Mn);Cl на поверхности пористого оксида алюминия [Текст] / Р. Г. Валеев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2019. - Т. 83, № 2. - С. 217-222. - Библиогр.: c. 222 (12 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a535.37

ББК 22.345
Рубрики: Физика
Люминесценция
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-исследования -- XANES-исследования -- метод вакуумно-термического осаждения -- нанопленки -- оксид алюминия -- рентгеноэлектронные исследования
Аннотация: Представлены рентгеноэлектронные, XANES- и EXAFS-исследования электронной и локальной атомной структуры нанопленок ZnS: Cu (Mn) ; Cl, полученных методом вакуумно-термического осаждения на поверхность пористого анодного оксида алюминия. Выявлено отсутствие влияния диаметра пор подложки на локальную атомную структуру и фазовый состав полученных покрытий.

Доп.точки доступа:
Валеев, Р. Г.; Бельтюков, А. Н.; Чукавин, А. И.; Ветошкин, В. М.; Тригуб, А. Л.; Алалыкин, А. С.; Кривенцов, В. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 28.08.2024
Число запросов	3018
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)