Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Статьи" (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрические измерения<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Особенности интерпретации результатов эллипсометрических измерений [Текст] / А. А. Тихий [и др.] // Оптика и спектроскопия. - 2012. - Т. 112, № 2. - С. 329-334 : граф. - Библиогр.: с. 333-334 (6 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/3

^a53.07

ББК 22.343 + 22.3с
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- обратные задачи -- методы решения обратных задач -- метод Малина-Ведама -- Малина-Ведама метод -- минимизационные методы -- эллипсометрические измерения -- алмазоподобные пленки -- тонкослойные покрытия
Аннотация: Предложены модификации распространенных методов решения обратной задачи эллипсометрии метода Малина-Ведама и минимизационного метода. Описаны области и особенности их применения.

Доп.точки доступа:
Тихий, А. А.; Грицких, В. А.; Кара-Мурза, С. В.; Николаенко, Ю. М.; Жихарев, И. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

539.21:535
Э 47

Эллипсометрическая in situ диагностика роста анодных пористых оксидных пленок на алюминии [Текст] / В. А. Швец [и др.]. // Оптика и спектроскопия. - 2015. - Т. 118, № 2. - С. 292-299 : диагр. - Библиогр.: с. 299 (15 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

539.21:535

ББК 22.374
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- пористые пленки -- алюминий -- эллипсометрический метод -- металлические наночастицы
Аннотация: Эллипсометрически in situ исследован рост пористых пленок анодного оксида алюминия на подложке алюминия. Для интерпретации экспериментальных зависимостей эллипсометрических параметров проведены теоретические расчеты, которые позволили идентифицировать наиболее характерные детали процесса анодирования. Показано, что эллипсометрический метод позволяет in situ в реальном времени контролировать ряд важных параметров, таких как скорость роста, пористость слоев и их однородность по толщине, состояние интерфейсной границы раздела. Кроме того, эллипсометрические измерения обнаружили высокую чувствительность к наличию металлических наночастиц как в объеме слоя, так и на его поверхности.

Доп.точки доступа:
Швец, В. А.; Кручинин, В. Н.; Рыхлицкий, С. В.; Прокопьев, В. Ю.; Уваров, Н. Ф.; Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск); Новосибирский государственный университет; Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск); Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск); Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирск)Новосибирский государственный университет; Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения РАН (Новосибирск)

Найти похожие

Хасанов, Т. Х.
Значения показателей преломления объемного кварца [Текст] / Т. Х. Хасанов // Оптика и спектроскопия. - 2015. - Т. 118, № 4. - С. 684-692 : граф., ил., табл., схема, диагр. - Библиогр.: с. 691-692 (40 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.31

ББК 22.342
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
диэлектрические пленки -- кварц -- металлические пленки -- объемный кварц -- оптические константы -- поверхностные слои -- показатели преломления -- полупроводниковые пленки -- преломление кварца -- эллипсометрические измерения
Аннотация: Рассмотрен метод определения показателя преломления с целью выявления степени влияния поверхностного слоя на результаты измерений. Этот метод позволяет более корректно определять значения показателей преломления объемного материала. Доказана эффективность использования кварца в качестве подложки при эллипсометрических измерениях для определения оптических констант металлических, полупроводниковых и диэлектрических пленок.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Оптические свойства и электронная структура соединений BiTeCl и BiTeBr [Текст] / А. А. Махнев [и др.] // Оптика и спектроскопия. - 2016. - Т. 121, № 3. - С. 395-401 : граф. - Библиогр.: с. 400-401 (20 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- оптические свойства -- электронные структуры -- эллипсометрические измерения -- взаимодействие Рашбы -- Рашбы взаимодействие -- диэлектрическая проницаемость -- межзонное поглощение -- электронные переходы -- спин-орбитальное взаимодействие -- спинтроника
Аннотация: Методом эллипсометрии исследованы оптические свойства соединений BiTeCl и BiTeBr с сильным спин-орбитальным взаимодействием Рашбы. Получены фундаментальные характеристики электронной структуры. В спектрах мнимой части диэлектрической проницаемости в интервале энергий между плазменным краем и порогом интенсивного межзонного поглощения обнаружена тонкая структура электронных переходов, подобная соединению BiTeI.

Доп.точки доступа:
Махнев, А. А.; Номерованная, Л. В.; Кузнецова, Т. В.; Терещенко, О. Е.; Кох, К. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 07.09.2024
Число запросов	8402
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)