Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Статьи" (17)

Труды АМГУ (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=электронные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-14

Лапенас, Андрей.
Знакомьтесь: четыре микроскопа в одной упаковке [Текст] / А. Лапенас, О. Шаповалюк // Инновации. - 2007. - N 12. - С. 118-120 : Рис. - Библиогр.: с. 120 (7 назв. )

УДК

^a608

ББК 30у
Рубрики: Техника
Изобретательство и рационализация. Патентное дело--Чехия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- настольные микроскопы -- электронные микроскопы -- просвечивающие микроскопы -- сканирующие микроскопы -- изобретения -- зарубежные страны
Аннотация: Чешские ученые изобрели настольный низковольтный электронный просвечивающий и сканирующий микроскоп LVEM5.

Доп.точки доступа:
Шаповалюк, Олег

Найти похожие

Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a537.533/.534

^a004.93

ББК 22.338 + 32.973-018.2
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
   Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ
Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений.

Доп.точки доступа:
Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В.

Найти похожие

Особенности морфологии радиационных модификаций композитных материалов на основе политетрафторэтилена [Текст] / Н. В. Садовская [и др. ] // Наукоемкие технологии. - 2011. - Т. 12, N 3. - С. 11-16. : ил. - Библиогр.: с. 16 (7 назв. )

УДК

^a544.54

ББК 24.553
Рубрики: Химия
Радиационная химия--Япония
Кл.слова (ненормированные):
радиационная модификация -- композитные материалы -- политетрафторэтилен -- нанокомпозиты -- ПТФЭ -- растровая микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- электронные микроскопы -- автоэмиссионные катоды -- JSM-7500 F -- физико-механические свойства -- тонкие структуры -- молекулярные образования -- поликристаллические структуры -- лентообразные структуры -- ламелярные структуры -- сферолитные структуры -- нанофибрилл -- морфология материалов
Аннотация: Исследована морфология композиционных материалов на основе ПТФЭ до и после радиационного модифицирования методом растровой электронной микроскопии высокого разрешения (использовался сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с автоэмиссионным катодом JSM-750 фирмы JEOL (Япония), а также установление связи морфологии с физико-механическими свойствами. На основе полученных данных проведен анализ пористости, тонкой структуры надмолекулярных образований (поликристаллических лентообразных, ламелярных и сферолитных структур, нанофибрилл), поверхностей раздела, особенностей упаковки элементов.

Доп.точки доступа:
Садовская, Н. В.; Козлова, Е. Е.; Конова, Е. М.; Серов, С. А.; Томашпольский, Ю. Я.; Хатипов, С. А.; JEOL, фирма
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Цыбикова, Г. Ц.
Электронная микроскопия для анализа влияния способа производства на микроструктуру мучных изделий [Текст] / Г. Ц. Цыбикова, Д. Н. Хамханова, Е. А. Жамбалова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - С. 42-44. . - Библиогр.: с. 44 (3 назв. )

УДК

^a539.21:535

^a664.6

ББК 22.374 + 36.83
Рубрики: Физика
   Оптические свойства твердых тел
   Пищевые производства
   Хлебопекарное производство
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- способы производства мучных изделий -- мучные изделия -- микроструктура мучных изделий -- пищевые системы -- растровые электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- микроскопы -- молочная сыворотка -- ржаная мука -- наночастицы
Аннотация: Описаны исследования взаимодействия и структурирования компонентов пищевых систем при производстве мучных изделий с использованием растрового электронного микроскопа.

Доп.точки доступа:
Хамханова, Д. Н.; Жамбалова, Е. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Хамшо, С. М.
Основы цифровых изображений нанотехнологии для решения графических задач [Текст] / Хамшо С. М. // Вестник Университета Российской Академии Образования. - 2012. - № 2. - С. 119-120. - Библиогр.: с. 120 (10 назв. ) . - ISSN 2072-5833

УДК

^a77.04

ББК 85.164
Рубрики: Изобразительное искусство и архитектура
Виды художественной фотографии
Кл.слова (ненормированные):
нано-арт -- Нано Арт -- художественные течения -- художники -- цифровые изображения -- фотографии -- молекулы -- атомы -- нанотехнологии -- электронные микроскопы -- микроскопы -- Нано Альфа-бит -- компьютерная графика
Аннотация: Рассматриваются вопросы нового художественного течения в мировом искусстве, которое получило название Нано Арт. Нано Альфа-бит - это изображения молекул и атомов, полученных при помощи электронных микроскопов и обработанных с использованием графических компьютерных программ.

Доп.точки доступа:
Орфеску, К. (румынский ученый); Державин, А. (российский художник)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Федоренко, Владимир Александрович (кандидат физико-математических наук; доцент).
Повышение эффективности работы баллистических идентификационных систем за счет применения растровой электронной микроскопии и цифровых технологий [Текст] / В. А. Федоренко, М. В. Корнилов , Е. В. Сидак // Судебная экспертиза. - 2012. - № 3 (31). - С. 70-79. - Библиогр.: с. 79 (3 назв.)

УДК

^a340.6

ББК 67.53
Рубрики: Право
Судебная экспертиза
Кл.слова (ненормированные):
след бойка -- следы на пулях -- баллистическая экспертиза -- автоматические баллистические идентификационные системы -- растровый электронный микроскоп -- электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- цифровые технологии -- оружие
Аннотация: Исследуются достоинства использования в автоматизированных баллистических идентификационных системах цифровых изображений, полученных с помощью растровой электронной микроскопии. Определены основные морфологические типы индивидуальных признаков оружия, отобразившихся на изображениях следов бойков.

Доп.точки доступа:
Корнилов, Максим Вячеславович; Сидак, Елена Владимировна
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Сравнение методов магнетронного и термического напыления защитного покрытия для ленточных высокотемпературных сверхпроводников второго поколения [Текст] = The comparison of magnetron sputter deposition and thermal deposition of protective coating for the HTSC 2nd generation tape / С. А. Першиков [и др.] // Альтернативная энергетика и экология. - 2012. - № 10 (114). - С. 69-71 : фот. - Библиогр.: с. 71 (3 назв.) . - ISSN 1608-8298

УДК

^a621.315.55/.58

^a621.7

ББК 31.232 + 30.68
Рубрики: Энергетика
   Проводниковые материалы и изделия
   Техника
   Обработка материалов
Кл.слова (ненормированные):
сверхпроводники -- ВТСП-2 -- методы покрытия сверхпроводников -- серебро -- метод магнетронного распыления -- метод термического распыления -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- программы
Аннотация: Применение методов напыления серебра для защиты сверхпроводящего слоя в ленточных высокотемпературных сверхпроводниках второго поколения.

Доп.точки доступа:
Першиков, С. А.; Акимов, И. И.; Краснобаев, Н. Н.; Титов, А. О.; Крюков, Д. А.; Смирницкий, В. Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; доцент).
Компьютерное моделирование методом Монте-Карло электронных траекторий в полярных диэлектриках при воздействии электронными пучками средних энергий [Текст] / А. Г. Масловская, А. В. Сивунов // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2012. - № 65. - С. 53-59 : ил. - Библиогр.: с. 59 (10 назв.) . - ISSN 1999-8341

УДК

^a621.38

^a004.94

ББК 32.85 + 32.973-018.2
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом
   Вычислительная техника
   Имитационное компьютерное моделирование
Кл.слова (ненормированные):
метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- диэлектрики -- полярные диэлектрики -- электронные траектории -- электронные пучки -- электронные микроскопы -- 3D-модели -- компьютерные модели -- Matlab -- твердые тела
Аннотация: Представлено имитационное моделирование транспорта электронов в полярных диэлектриках, облученных в растровом электронном микроскопе. Программная реализация компьютерной 3D-модели проведена методом Монте-Карло в ППП Matlab с учетом упругих и неупругих процессов взаимодействия электронов средних энергий с твердым телом.The article presents the simulation of electron transport in polar dielectrics un-der the electron irradiation in the scanning electron microscope. The 3D animation is based on random walk of electrons according to elastic and inelastic energy losses by the Monte-Carlo method. The simulation model is designed by means of Matlab program-ming.

Доп.точки доступа:
Сивунов, Антон Валерьевич (аспирант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; доцент).
Компьютерное моделирование методом Монте-Карло электронных траекторий в полярных диэлектриках при воздействии электронными пучками средних энергий [Текст] / А. Г. Масловская, А. В. Сивунов // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2012. - № 64. - С. 87-92 : ил. - Библиогр.: с. 92 (10 назв.) . - ISSN 1999-8341

УДК

^a681.2.08

^a004.94

ББК 34.97 + 32.973-018.2
Рубрики: Приборостроение
   Испытание и контроль приборов
   Вычислительная техника
   Имитационное компьютерное моделирование
Кл.слова (ненормированные):
метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- электронные траектории -- полярные диэлектрики -- электронные пучки -- средние энергии -- транспорт электронов -- облучение -- растры -- электронные микроскопы
Аннотация: Представлено имитационное моделирование транспорта электронов в полярных диэлектриках, облученных в растровом электронном микроскопе.The article presents the simulation of electron transport in polar dielectrics under the electron irradiation in the scanning electron microscope.

Доп.точки доступа:
Сивунов, Антон Валерьевич (аспирант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Сравнительный анализ перспектив применения в судебно-баллистической идентификации микроскопов различных систем [Текст] / П. В. Гиверц [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2014. - Вып. 1, Ч. 2. - С. 191-196 : рис. - Библиогр.: с. 195 (7 назв.). - Рез. и библиогр. на англ. в конце ст. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки elibrary.ru . - ISSN 1814-733X

УДК

^a343.98

ББК 67.52
Рубрики: Право
Криминалистика
Кл.слова (ненормированные):
судебно-баллистическая идентификация -- микроскопы -- сравнительные микроскопы -- электронные микроскопы -- сканирующие микроскопы -- растровые микроскопы -- конфокальные микроскопы -- виртуальные микроскопы -- эксперты-баллисты -- баллистические экспертизы
Аннотация: В настоящее время в судебно-баллистической идентификации находят применение новые образцы научного оборудования, предназначенного для микроскопических исследований. В связи с этим актуальным является прогнозирование дальнейшего применения в данной научной отрасли новой техники и положения оптических микроскопов сравнения, на применение которых ориентированы криминалистические методики. В статье рассматриваются три различных системы микроскопов: оптический, электронный сканирующий и конфокальный, их устройство и принципы работы. Для объективности оценки перспектив применения в экспертной практике нового оборудования и корректного его сравнения с традиционными оптическими системами авторы использовали рассматриваемую технику при производстве реальных экспертиз. Результаты применения трех различных систем микроскопов при проведении сложных идентификационных экспертиз по уголовным делам были проанализированы с целью определения их потенциала, достоинств и недостатков. В статье делаются выводы о целесообразности использования оптических микроскопов в большинстве случаев и о необходимых доработках виртуальных микроскопов, которые могут занять свое место в работе эксперта-баллиста.

Доп.точки доступа:
Гиверц, П. В. (инженер-механик); Охерман, Г. (заведующий лабораторией); Бокобза, Л. (эксперт); Шехтер, Б. (консультант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-14

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	18293
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)