Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Книги" (2)БД "Статьи" (17)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=электронная дифракция<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


    Сошников, И. П.
    Особенности картин электронной дифракции нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных на подложках Si (100) и (111) методом молекулярно-пучковой эпитаксии [Текст] / И. П. Сошников [и др. ] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, N 8. - С. . 1373-1377. - Библиогр.: с. 1377 (23 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
двойникование кристаллов -- метод молекулярно-пучковой эпитаксии -- нитевидные нанокристаллы -- фазовые переходы -- фазовые переходы вюрцит/сфалерит -- электронная дифракция
Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов на отражение проведено исследование кристаллической структуры нитевидных нанокристаллов GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках Si (111) и Si (100). Установлено, что дифракционные картины в обоих случаях содержат суперпозицию систем рефлексов, характерных для гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фаз GaAs. Показано, что при росте на Si (111) формируются нитевидные нанокристаллы с гексагональной (вюрцит и/или 4H) и кубической (сфалерит) фазами с одной и двумя ориентациями соответственно. В случае роста на подложках Si (100) обнаружена система нитевидных нанокристаллов GaAs с кубической фазой и пятью различными ориентациями, а также гексагональной фазы с восемью ориентациями в плоскостях подложки типа (110). Проявление двойственной кристаллической структуры в нитевидных нанокристаллах объясняется фазовыми переходами вюрцит-сфалерит и/или двойникованием кристаллов.


Доп.точки доступа:
Цырлин, Г. Э.; Тонких, А. А.; Неведомский, В. Н.; Самсоненко, Ю. Б.; Устинов, В. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

2.


   
    Кластеры палладия в образцах нанопористого углерода: структурные свойства [Текст] / А. М. Данишевский [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 3. - С. 604-608. - Библиогр.: с. 607-608 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
кластеры палладия -- нанопористый углерод -- рентгеновская дифракция -- электронная дифракция -- просвечивающий электронный микроскоп -- метод электронного спинового резонанса -- электронный спиновой резонанс
Аннотация: Проведены структурные исследования образцов нанопористого углерода, приготовленных из карбидов кремния и бора, с кластерами палладия, введенными в них. Рентгеновская и электронная дифракция показывает, что основная масса кластеров Pd имеет кубическую гранецентрированную решетку. Проведены измерения малоуглового рентгеновского рассеяния. При определенных допущениях анализ их позволил определить размеры кластеров металла. Размеры кластеров, полученных на снимках в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ), оказались не слишком близки к ним и находились в диапазоне 4-14 nm. По-видимому, различие связано с локальным характером измерений в ПЭМ. Помимо относительно крупных кластеров приведенного диапазона в образцах наблюдаются очень мелкие кластеры, меньшие размера одной микропоры. Их особенно много в C (SiC) B : Pd, где их размеры оказались в пределах 0. 5-0. 7 nm. В C (B[4]C) B : Pd малых кластеров существенно меньше, и их размеры несколько больше: 1. 2-1. 6 nm. Обсуждаются возможные причины ферромагнетизма, наблюдавшегося в указанных образцах. Высказано предположение, что магнетизм может быть связан с малыми кластерами, которые к тому же не имеют кубической симметрии.


Доп.точки доступа:
Данишевский, А. М.; Кютт, Р. Н.; Ситникова, А. А.; Шанина, Б. Д.; Курдюков, Д. А.; Гордеев, С. К.

Найти похожие

3.


    Николайчик, В. И.
    Электронно-дифракционное исследование тисонитовых фаз La[1-y]Sr[y]F[3-y] (0 или равно y или равно 0.15) [Текст] / В. И. Николайчик, Б. П. Соболев, А. С. Авилов // Известия РАН. Серия физическая. - 2016. - Т. 80, № 12. - С. 1606-1608 : рис. - Библиогр.: c. 1608 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 22.338 + 26.303
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

   Геология

   Минералогия

Кл.слова (ненормированные):
пластинчатые фазы -- просвечивающая электронная микроскопия -- сфалерит -- тисонитовые структуры -- электронная дифракция
Аннотация: Впервые для исследования фаз La[1-y]Sr[y]F[3-y] (0 < или равно y < или равно 0. 15) с тисонитовой структурой (LaF[3]) применен метод электронной дифракции в сочетании с одновременным анализом элементного состава в просвечивающем электронном микроскопе. Выявлена двухфазная природа образцов с y=0. 10, 0. 15, состоящих из тисонитовой матрицы и тонких прослоек фазы со структурой, наследующей структуру сфалерита. Предположительно двухфазное состояние присутствует и в образце с y=0. 075, однако содержание пластинчатой фазы в нем слишком мало для обнаружения методом электронной дифракции. Присутствие пластинчатой фазы в образцах с y=0. 075, 0. 10 и 0. 15 объясняет падение фтор-ионной проводимости от ее максимума, имеющего место при y=0. 05.


Доп.точки доступа:
Соболев, Б. П.; Авилов, А. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 92355
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)