Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=фазовые соотношения<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Елизаветин, И. В.
    Принципы и методы радиолокационной съемки для целей формирования цифровой модели местности [Текст] / И. В. Елизаветин, Р. И. Шувалов, В. А. Буш // Геодезия и картография. - 2009. - N 1. - С. 39-45 : 4 рис. - Библиогр.: с. 45 (6 назв. ) . - ISSN 0016-7126
УДК
ББК 26.12 + 26.104
Рубрики: Геодезия
   Топографические съемки

   Геодезические измерения и вычисления

Кл.слова (ненормированные):
ЦМР -- цифровые модели местности -- интерферометрические съемки -- радиолокационные съемки -- радиолокаторы -- интерферометрия -- РСА -- радиолокаторы с синтезированной апертурой антенны -- фазовые соотношения -- методы развертки фазы -- интерферограммы -- развертки фазы методы
Аннотация: Рассматриваются особенности построения цифровых моделей местности по материалам радиолокационной съемки.


Доп.точки доступа:
Шувалов, Р. И.; Буш, В. А.

Найти похожие

2.


   
    Фазовые соотношения и форма кривых рентгеновской дифракции от гетероструктур с квантовыми ямами [Текст] / М. А. Чуев [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып. 3. - С. 204-209
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- гетероструктуры с квантовыми ямами -- дифракционное рассеяние -- фазовые соотношения
Аннотация: Проведен качественный анализ формирования интерференционной картины на кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от гетероструктур с квантовыми ямами. Показано, что помимо хорошо известного эффекта, связанного с дополнительным сдвигом фазы в амплитудах дифракционного рассеяния покрывающего слоя и подложки за счет небольшого смещения атомных слоев в квантовой яме, форма кривой отражения существенным образом зависит от толщины квантовой ямы, отражая специфические фазовые соотношения в интегральной амплитуде отражения. В рамках анализа были получены простые аналитические выражения, которые позволяют не только описать тонкие детали интерференционной картины на кривой отражения, но и приближенно оценить значения наиболее значимых параметров реально выращенной гетероструктуры, которые определяют наиболее адекватную стартовую модель для дальнейшего анализа на основе общих формул динамической дифракции.


Доп.точки доступа:
Чуев, М. А.; Пашаев, Э. М.; Ковальчук, М. В.; Квардаков, В. В.

Найти похожие

 
Статистика
за 27.08.2024
Число запросов 80935
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)