Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Статьи" (10)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=тонкие структуры<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Колодязный, О. А.
    О физическом смысле постоянной тонкой структуры [Текст] / Колодязный О. А. // Актуальные проблемы современной науки. - 2008. - N 4. - С. 52-54. - Библиогр.: с. 54 (2 назв. ) . - ISSN 1680-2721
УДК
^a530.1
^a53:51
ББК 22.31 + 22.311
Рубрики: Физика
   Теоретическая физика
   Математическая физика
Кл.слова (ненормированные):
тонкие структуры -- материя -- бесструктурная материя -- вибрационная компрессия -- плотность материи -- пульсация плотности -- структурированная материя -- Вселенная -- эволюция Вселенной
Аннотация: Определен физический смысл тонкой структуры, показывающей текущий уровень дискретизации изначально бесструктурной материи при ее вибрационной компрессии.


Найти похожие
2.


   
    Особенности морфологии радиационных модификаций композитных материалов на основе политетрафторэтилена [Текст] / Н. В. Садовская [и др. ] // Наукоемкие технологии. - 2011. - Т. 12, N 3. - С. 11-16. : ил. - Библиогр.: с. 16 (7 назв. )
УДК
^a544.54
ББК 24.553
Рубрики: Химия
   Радиационная химия--Япония
Кл.слова (ненормированные):
радиационная модификация -- композитные материалы -- политетрафторэтилен -- нанокомпозиты -- ПТФЭ -- растровая микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- электронные микроскопы -- автоэмиссионные катоды -- JSM-7500 F -- физико-механические свойства -- тонкие структуры -- молекулярные образования -- поликристаллические структуры -- лентообразные структуры -- ламелярные структуры -- сферолитные структуры -- нанофибрилл -- морфология материалов
Аннотация: Исследована морфология композиционных материалов на основе ПТФЭ до и после радиационного модифицирования методом растровой электронной микроскопии высокого разрешения (использовался сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с автоэмиссионным катодом JSM-750 фирмы JEOL (Япония), а также установление связи морфологии с физико-механическими свойствами. На основе полученных данных проведен анализ пористости, тонкой структуры надмолекулярных образований (поликристаллических лентообразных, ламелярных и сферолитных структур, нанофибрилл), поверхностей раздела, особенностей упаковки элементов.


Доп.точки доступа:
Садовская, Н. В.; Козлова, Е. Е.; Конова, Е. М.; Серов, С. А.; Томашпольский, Ю. Я.; Хатипов, С. А.; JEOL, фирма
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 07.09.2024
Число запросов 8767
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)