Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=твердость поверхностей<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Шпилев, Василий Владимирович.
Влияние факторов гидроабразивной резки на шероховатость обработанной поверхности, ее твердость, овальность и конусообразность [Текст] / В. В. Шпилев, М. К. Решетников // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2011. - N 56. - С. 159-163. : ил. - Библиогр.: с. 163 (1 назв. )

УДК

^a621.9

ББК 34.63
Рубрики: Машиностроение
Обработка металлов резанием
Кл.слова (ненормированные):
гидроабразивная резка -- абразивы -- резка -- шероховатость поверхностей -- поверхности -- твердость поверхностей -- овальность поверхностей -- конусообразность поверхностей -- экспериментальные исследования -- материалы -- режущая головка -- абразивы
Аннотация: Проанализированы экспериментальные исследования в области гидроабразивной резки, описано влияние подачи режущей головки, твердости обрабатываемого материала и расхода абразива на шероховатость обработанной поверхности, ее твердость, конусообразность и овальность.

Доп.точки доступа:
Решетников, Михаил Константинович
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Влияние термических отжигов на структуру и свойства поверхности вольфрама, облученного низкоэнергетическими a-частицами до высоких флюенсов [Текст] / Т. М. Алдабергенова [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 8. - С. 117-123 : рис., табл. - Библиогр.: с. 122-123 (15 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

^a539.2

^a536.42

ББК 22.37 + 22.375
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Термодинамика твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- блистеринг -- вольфрам -- гелий -- измерение твердости поверхности -- облучение a-частицами -- радиационные повреждения -- твердость вольфрама -- твердость поверхностей -- термодесорбция вольфрама -- электронная микроскопия
Аннотация: Методами сканирующей электронной и атомно-силовой микроскопии, измерения твердости и термодесорбции исследованы изменения морфологии поверхности, накопление гелия и механические свойства высокочистого вольфрама после облучения низкоэнергетическими a-частицами до высоких флюенсов и последующих отжигах. Показано, что за счет действия напряжений в области торможения a-частиц гелий мигрирует на расстояния, значительно превышающие проективный пробег a-частиц, накапливается в кластерах из атомов гелия и гелий-вакансионных комплексах. В области страгглинга с высокой степенью пересыщения гелием формируются наполненные гелием пузырьки, проявляющиеся во вспучиваниях поверхности. Локальные поля напряжений, создаваемые гелиевыми и гелий-вакансионными кластерами в области за пробегом, приводят к упрочнению материала (увеличению твердости). Последующий отжиг до температуры 600 °С ведет к росту размеров блистеров на облученной поверхности и интенсивной десорбции гелия вследствие миграции подвижных комплексов из атомов гелия. С увеличением температуры отжигов от 600 до 1000 °С за счет испускания междоузельных атомов Не из неподвижных гелий-вакансионных комплексов полностью разрушается слой, соответствующий проективному пробегу a-частиц. При этом твердость вольфрама после отжига при 1000 °С восстанавливается до исходного значения.

Доп.точки доступа:
Алдабергенова, Т. М.; Кислицин, С. Б.; Ганеев, Г. З.; Виелеба, В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 07.09.2024
Число запросов	9081
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)