Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Книги" (1)

БД "Статьи" (9)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующие микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Лапенас, Андрей.
Знакомьтесь: четыре микроскопа в одной упаковке [Текст] / А. Лапенас, О. Шаповалюк // Инновации. - 2007. - N 12. - С. 118-120 : Рис. - Библиогр.: с. 120 (7 назв. )

УДК

^a608

ББК 30у
Рубрики: Техника
Изобретательство и рационализация. Патентное дело--Чехия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- настольные микроскопы -- электронные микроскопы -- просвечивающие микроскопы -- сканирующие микроскопы -- изобретения -- зарубежные страны
Аннотация: Чешские ученые изобрели настольный низковольтный электронный просвечивающий и сканирующий микроскоп LVEM5.

Доп.точки доступа:
Шаповалюк, Олег

Найти похожие

Особенности морфологии радиационных модификаций композитных материалов на основе политетрафторэтилена [Текст] / Н. В. Садовская [и др. ] // Наукоемкие технологии. - 2011. - Т. 12, N 3. - С. 11-16. : ил. - Библиогр.: с. 16 (7 назв. )

УДК

^a544.54

ББК 24.553
Рубрики: Химия
Радиационная химия--Япония
Кл.слова (ненормированные):
радиационная модификация -- композитные материалы -- политетрафторэтилен -- нанокомпозиты -- ПТФЭ -- растровая микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- электронные микроскопы -- автоэмиссионные катоды -- JSM-7500 F -- физико-механические свойства -- тонкие структуры -- молекулярные образования -- поликристаллические структуры -- лентообразные структуры -- ламелярные структуры -- сферолитные структуры -- нанофибрилл -- морфология материалов
Аннотация: Исследована морфология композиционных материалов на основе ПТФЭ до и после радиационного модифицирования методом растровой электронной микроскопии высокого разрешения (использовался сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с автоэмиссионным катодом JSM-750 фирмы JEOL (Япония), а также установление связи морфологии с физико-механическими свойствами. На основе полученных данных проведен анализ пористости, тонкой структуры надмолекулярных образований (поликристаллических лентообразных, ламелярных и сферолитных структур, нанофибрилл), поверхностей раздела, особенностей упаковки элементов.

Доп.точки доступа:
Садовская, Н. В.; Козлова, Е. Е.; Конова, Е. М.; Серов, С. А.; Томашпольский, Ю. Я.; Хатипов, С. А.; JEOL, фирма
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Сравнительный анализ перспектив применения в судебно-баллистической идентификации микроскопов различных систем [Текст] / П. В. Гиверц [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Экономика. Управление. Право. - 2014. - Вып. 1, Ч. 2. - С. 191-196 : рис. - Библиогр.: с. 195 (7 назв.). - Рез. и библиогр. на англ. в конце ст. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки elibrary.ru . - ISSN 1814-733X

УДК

^a343.98

ББК 67.52
Рубрики: Право
Криминалистика
Кл.слова (ненормированные):
судебно-баллистическая идентификация -- микроскопы -- сравнительные микроскопы -- электронные микроскопы -- сканирующие микроскопы -- растровые микроскопы -- конфокальные микроскопы -- виртуальные микроскопы -- эксперты-баллисты -- баллистические экспертизы
Аннотация: В настоящее время в судебно-баллистической идентификации находят применение новые образцы научного оборудования, предназначенного для микроскопических исследований. В связи с этим актуальным является прогнозирование дальнейшего применения в данной научной отрасли новой техники и положения оптических микроскопов сравнения, на применение которых ориентированы криминалистические методики. В статье рассматриваются три различных системы микроскопов: оптический, электронный сканирующий и конфокальный, их устройство и принципы работы. Для объективности оценки перспектив применения в экспертной практике нового оборудования и корректного его сравнения с традиционными оптическими системами авторы использовали рассматриваемую технику при производстве реальных экспертиз. Результаты применения трех различных систем микроскопов при проведении сложных идентификационных экспертиз по уголовным делам были проанализированы с целью определения их потенциала, достоинств и недостатков. В статье делаются выводы о целесообразности использования оптических микроскопов в большинстве случаев и о необходимых доработках виртуальных микроскопов, которые могут занять свое место в работе эксперта-баллиста.

Доп.точки доступа:
Гиверц, П. В. (инженер-механик); Охерман, Г. (заведующий лабораторией); Бокобза, Л. (эксперт); Шехтер, Б. (консультант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Ахмеджанов, И. М.
Анализ точности решения обратной задачи дифференциального гетеродинного микроскопа для прямоугольных плазмонных волноводов [Текст] / И. М. Ахмеджанов, Д. В. Баранов, Е. М. Золотов // Оптика и спектроскопия. - 2016. - Т. 120, № 6. - С. 1030-1037 : схемы, диагр., ил. - Библиогр.: с. 1037 (8 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.31

ББК 22.342
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- гетеродинные микроскопы -- дифференциальные микроскопы -- волноводы -- плазмонные волноводы -- прямоугольные волноводы -- обратные задачи -- решение обратных задач -- точность решения задач -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Рассмотрены существование, единственность и устойчивость решения обратной задачи сканирующего дифференциального гетеродинного микроскопа для прямоугольных плазмонных волноводов. Рассчитана величина ошибки решения обратной задачи в зависимости от значений исходных данных, с учетом погрешности их определения. Путем использования в качестве исходных данных двух фазовых откликов микроскопа на разных длинах волн продемонстрирована возможность ликвидации нестабильных зон и существенного повышения точности решения обратной задачи для всего диапазона исходных данных.

Доп.точки доступа:
Баранов, Д. В.; Золотов, Е. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	52112
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)