Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (2)

БД "Статьи" (18)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая зондовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-17

Байбурин, Вил Бариевич (д-р физ.-мат. наук, проф.).
Алгоритмы обработки изображений, используемые сканирующей зондовой микроскопией [Текст] / В. Б. Байбурин, Н. В. Беспалова, Ю. П. Волков // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2007. - N 27. - С. 61-64. - Библиогр.: с. 64 (4 назв. )

УДК

^a621.37/.39

ББК 32.99
Рубрики: Вычислительная техника
Другие отрасли радиоэлектроники
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- сканирующая техника -- микроскопия -- зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- преобразования Фурье -- Фурье преобразования -- вейвлет-преобразования -- обработка изображений
Аннотация: Представлено описание различных способов изображения поверхностей, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены достоинства метода устранения различных искажений структуры исследуемых объектов на основе дискретного вейвлет-преобразования.

Доп.точки доступа:
Беспалова, Наталья Викторовна; Волков, Юрий Петрович (проф.)

Найти похожие

Исследование рельефа поверхности и доменной структуры монокристаллов R (Co, Cu) 5 методами атомно-силовой микроскопии [Текст] / Ю. В. Кузнецова [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2007. - N 6 (Физика). - С. 42-50. - Библиогр.: с. 50 (4 назв. )

УДК

^a537.6

ББК 22.334
Рубрики: Физика
Магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- редкоземельные интерметаллиды -- атомно-силовые микроскопы -- сплавы -- атомно-силовая микроскопия
Аннотация: Исследование рельефа поверхности и доменной структуры ряда редкоземельных интерметаллидов методами сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Кузнецова, Ю. В.; Супонев, Н. П.; Дегтева, О. Б.; Калинкина, Е. В.

Найти похожие

Мешков, Г.
Новые разработки в области зондовой литографии углеродных материалов [Текст] / Г. Мешков, О. Синицына, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 2. - С. 28-30 : ил.: 3 рис. - Библиогр.: с. 30 (6 назв. )

УДК

^a658

ББК 30.6
Рубрики: Техника
Организация промышленного производства
Кл.слова (ненормированные):
углеродные наноструктуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовая литография -- локальное анодное окисление -- ЛАО
Аннотация: Для успешного развития углеродной наноэлектроники требуется разработка прецизионных методов формирования углеродных наноструктур.

Доп.точки доступа:
Синицына, О.; Яминский, И.

Найти похожие

Синицына, О.
Анализ и распознавание графической информации в наноскопии [Текст] / О. Синицына, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - N 3. - С. 14-20 : ил.: 7 рис. - Библиогр.: с. 20 (14 назв. )

УДК

^a621.37/.39

ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
Радиоэлектроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- СЗМ -- зондовые изображения -- программное обеспечение
Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать поверхности твердых тел с разрешением вплоть до атомного.

Доп.точки доступа:
Филонов, А.; Яминский, И.

Найти похожие

Царик, Константин Анатольевич.
Формирование и исследование наногетероструктур AlGaN/GaN с применением атомно-силовой микроскопии [Текст] / К. А. Царик, В. К. Неволин // Известия вузов. Электроника. - 2009. - N 6. - С. 44-49 : рис. - Библиогр.: с. 49 (6 назв. )

УДК

^a621.7

ББК 30.68
Рубрики: Техника
Обработка материалов
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- двумерный электронный газ -- легирование -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Разработана методика получения слоев нитридов третьей группы с пониженным количеством дефектов, основанная на молекулярно-лучевой эпитаксии, при контроле поверхности с помощью сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Неволин, Владимир Кириллович

Найти похожие

Селезнев, В. А.
Чипы с полупроводниковыми трубками-зондами для сканирующей туннельной микроскопии [Текст] / В. А. Селезнев, В. Я. Принц, И. А. Корнеев // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 4. - С. 5-8. - Библиогр.: с. 8 (36 назв. ) . - ISSN 1813-8586

УДК

^a53.07

ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- полупроводниковые трубки-зонды -- самосворачивание напряженных гетеропленок -- нанотехнологии -- гетероструктуры -- туннельная микроскопия
Аннотация: Описан метод массового изготовления чипов с трубчатыми зондами для сканирующей туннельной микроскопии из гетероструктур InP/InxGa1-xAs/InyGa1-yAs. Созданные чипы с полупроводниковыми трубками-зондами перспективны для применений в высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, спиновой туннельной микроскопии и микроскопии ближнего поля.

Доп.точки доступа:
Принц, В. Я.; Корнеев, И. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Определение фрактальной размерности островковых пленок золота на слюде [Текст] / Н. Ю. Сдобняков [и др. ] // Вестник Тверского государственного университета. - 2009. - N 41 (Физика). - С. 112-118. - Библиогр.: с. 118-119 (12 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
островковые тонкие пленки -- сканирующая зондовая микроскопия -- фрактальная размерность
Аннотация: Исследование поверхности тонких пленок золота на диэлектрической подложке с помощью сканирующего зондового микроскопа.

Доп.точки доступа:
Сдобняков, Н. Ю.; Зыков, Т. Ю.; Базулев, А. Н.; Антонов, А. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Исследование процесса распада пересыщенного твердого раствора GaAs : Fe методом сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / С. С. Хлудков [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 8. - С. 1009-1011. : ил. - Библиогр.: с. 1011 (10 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- АСМ -- твердые растворы -- GaAs -- арсенид галлия -- легирование железом -- высокотемпературная диффузия -- отжиг -- комнатная температура -- распад твердых растворов -- ферромагнитные свойства -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: С помощью атомно-силового микроскопа проведено исследование процесса распада пересыщенного твердого раствора арсенида галлия, легированного железом (GaAs : Fe). Образцы GaAs : Fe получали в процессе высокотемпературной диффузии Fe в GaAs и последующего отжига при температуре на 200{o}C ниже температуры легирования. Измерения проведены на поперечных сколах по плоскости спайности пластин GaAs : Fe. Показано, что в процессе отжига GaAs : Fe происходит распад пересыщенного твердого раствора с образованием частиц второй фазы размером от ~50 нм до ~1 мкм. Частицы второй фазы обладают ферромагнитными свойствами при комнатной температуре.

Доп.точки доступа:
Хлудков, С. С.; Прудаев, И. А.; Новиков, В. А.; Толбанов, О. П.; Ивонин, И. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Быков, В. А.
Уменьшение влияния температурного дрейфа в сканирующих зондовых микроскопах [Текст] / В. А. Быков, Е. В. Кузнецов, Е. С. Пьянков // Известия вузов. Электроника. - 2010. - N 5. - С. 58-63. : рис. - Библиогр.: с. 62-63 (3 назв. )

УДК

^a004

ББК 32.97
Рубрики: Вычислительная техника
Вычислительная техника в целом
Кл.слова (ненормированные):
термодрейф -- термоконтроллер -- термостабилизация -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Исследованы особенности термостабилизации устройств сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Кузнецов, Е. В.; Пьянков, Е. С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Влияние внешних магнитных полей на информационную магнитную структуру современных жестких дисков [Текст] / С. В. Герус [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 11. - С. 10-14. . - Библиогр.: с. 14 (4 назв. )

УДК

^a621.318.1

ББК 31.235
Рубрики: Энергетика
Магнитные материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
электромагнитные поля -- сканирующая зондовая микроскопия -- уничтожитель информации -- магнитные поля -- магнитный диск -- жесткий магнитный диск
Аннотация: Рассмотрены экспериментальные исследования магнитной структуры фрагментов записи на накопителе на жестких магнитных дисках (НЖМД) различной емкости и изучена ее устойчивость к воздействию магнитного поля различной напряженности и ориентации.

Доп.точки доступа:
Герус, С. В.; Гуляев, Ю. В.; Лобанов, Б. С.; Митягин, А. Ю.; Соколовский, А. А.; Темирязева, М. П.; Фесенко, М. В.; Хлопов, Б. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-17

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	91474
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)