Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Статьи" (47)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-14

Строшков, В. П.
Изучение методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изменения химического состава поверхностных слоев титанового сплава до и после электрохимической размерной обработки [Текст] / В. П. Строшков, М. В. Кузнецов // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 6. - С. 57-61 . - ISSN 0015-3214

УДК

^a621.9

^a669

ББК 34.63 + 34.1
Рубрики: Машиностроение
   Обработка металлов резанием
   Технология металлов
   Общая технология металлов
Кл.слова (ненормированные):
электрохимическая размерная обработка -- титановые сплавы -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- поверхностные слои -- поверхностные слои титановых сплавов
Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучено изменение элементного состава поверхностных слоев титанового сплава ВТ18у после механической и электрохимической обработки.

Доп.точки доступа:
Кузнецов, М. В.

Найти похожие

Супрун, С. П.
Формирование гетерограницы GaAs-Ge в присутствии окисла [Текст] / С. П. Супрун, Е. В. Федосенко // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып. 2. - С. 94-97

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
GaAs-Ge -- Ge -- Ga[2]O -- гетерограница -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- дифракция быстрых электронов
Аннотация: Приведены результаты исследования методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и дифракции быстрых электронов на отражение процесса формирования гетерограницы GaAs-Ge при условии неполного удаления всех окисных фаз с поверхности подложки GaAs. Показано, что совмещение процессов окончательной десорбции окисла Ga[2]O и осаждения Ge позволяет предотвратить испарение мышьяка и нарушение стехиометрии в области границы раздела.

Доп.точки доступа:
Федосенко, Е. В.

Найти похожие

Шафоростов, А.
K-Alpha: РФЭС-система нового поколения [Текст] / А. Шафоростов // Наноиндустрия. - 2009. - N 4. - С. 60-64 : ил.: 11 рис.

УДК

^a535.33

ББК 22.344
Рубрики: Физика
Спектроскопия
Кл.слова (ненормированные):
K-Alpha -- РФЭС -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- лаборатории поверхностного анализа -- Avantage
Аннотация: Система РФЭС создана для обеспечения максимальной пропускной способности и эффективности лабораторий поверхностного анализа.

Найти похожие

Формирование и "белая" фотолюминесценция нанокластеров в пленках SiO[x], имплантированных ионами углерода [Текст] / А. И. Белов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 46, вып. 11. - С. 1498-1503. : ил. - Библиогр.: с. 1503 (31 назв. )

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
фотолюминесценция -- ФЛ -- нанокластеры -- ионы углерода -- кластеры -- нанокристаллы -- высокотемпературный отжиг -- отжиг -- оксид кремния -- SiOx -- имплантация ионов -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- РФЭС -- метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Аннотация: Приведены экспериментальные данные по ионному синтезу нанокомпозитных слоев с углеродсодержащими кластерами и нанокристаллами Si при облучении пленок нестехиометрического оксида кремния SiO[x] ионами углерода с последующим высокотемпературным отжигом. Показано, что при достаточно больших дозах C{+} пленки обладают фотолюминесценцией в области спектра, охватывающей весь видимый диапазон и ближнюю инфракрасную область. Формирование указанных кластеров и нанокристаллов подтверждается методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, причем распределение углерода практически воспроизводит расчетный профиль пробегов ионов, т. е. отсутствует заметное диффузионное перераспределение этого элемента. Предложена качественная модель слоистого строения ионно-синтезированных структур.

Доп.точки доступа:
Белов, А. И.; Михайлов, А. Н.; Николичев, Д. Е.; Боряков, А. В.; Сидорин, А. П.; Грачев, А. П.; Ершов, А. В.; Тетельбаум, Д. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Диффузия нерастворимого углерода в оксидах циркония [Текст] / В. Б. Выходец [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2011. - Т. 93, вып. 1. - С. 8-12.

УДК

^a538.9

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
оксиды циркония -- нерастворимый углерод -- диффузия -- нерастворимые примеси -- ионная имплантация -- ядерный микроанализ -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Для интервала температур 900-1000 градусов С получены значения коэффициентов диффузии нерастворимого углерода в оксидах циркония. Данные по диффузии нерастворимых примесей отсутствуют в литературе, они актуальны для теории диффузии и ядерных технологий. Меченые атомы \{13\}С вводились в оксиды с помощью ионной имплантации, и исследовалась кинетика их выхода из образцов при отжиге на воздухе. Измерения выполнены с помощью методик ядерного микроанализа и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Энергия активации диффузии составила 2. 7 эВ, а значения коэффициентов диффузии углерода оказались примерно на шесть порядков ниже, чем для самодиффузии кислорода в этих же системах. Полученный результат является показателем сильной аномалии диффузионных свойств углерода в оксидах. Как следствие, оксиды циркония противопоказаны для их использования в некоторых ядерных технологиях, в частности, в качестве материала источников для ускорителей короткоживущих изотопов углерода.

Доп.точки доступа:
Выходец, В. Б.; Куренных, T. E.; Кесарев, A. Г.; Кузнецов, M. В.; Кондратьев, В. В.; Хулсен, К.; Кестер, У.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Подлесная, Ольга Андреевна.
Модифицирование поверхности хитозана методами ионно-плазменной технологии [Текст] / О. А. Подлесная, Р. А. Нежметдинова // Вестник Саратовского государственного технического университета. - 2011. - N 53. - С. 78-84. : ил. - Библиогр.: с. 84 (5 назв. )

УДК

^a621:620.22

ББК 34.43
Рубрики: Машиностроение
Машиностроительные материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
модифицирование поверхности -- хитозан -- ионно-плазменная технология -- геометрические свойства поверхности -- химические свойства поверхности -- антимикробные свойства поверхности -- метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- спектроскопия
Аннотация: Рассматривается возможность управления геометрическими, химическими и антимикробными свойствами поверхности хитозана путем модификациии различными методами ионно-плазменной технологии. Приводятся результаты исследования химического состава поверхности хитозана, который определялся методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Доп.точки доступа:
Нежметдинова, Рамиля Амировна
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Троян, Виктор Иванович (доктор физико-математических наук ; профессор кафедры 78).
Система удаленного доступа к комплексу по формированию нанокластеров и исследованию их электронных свойств [Текст] = The Remote Access to the System for the Formation of Nanoclusters and the Investigation of Their Electronic Properties / В. И. Троян, М. А. Пушкин, П. В. Борисюк // Качество. Инновации. Образование. - 2011. - N 7. - С. 55-57. : 4 рис. - Библиогр.: с. 57 (2 назв. )

УДК

^a004.9

^a53

ББК 32.973-018.2 + 22.3
Рубрики: Вычислительная техника
   Прикладные информационные (компьютерные) технологии в целом
   Физика
   Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
нанокластеры -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Аннотация: Дано описание системы удаленного доступа студентов, исследователей, разработчиков к научным установкам и оборудованию. Система включает мультимедийный учебно-научный комплекс с симулятором и набором методических материалов и может быть использована для обеспечения процесса дистанционного обучения и работы на уникальном оборудовании.

Доп.точки доступа:
Пушкин, Михаил Александрович (кандидат физико-математических наук ; доцент кафедры 78); Борисюк, Петр Викторович (кандидат физико-математических наук ; ассистент кафедры 78)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

От атомных к ядерным оптическим стандартам частоты [Текст] = From Atomic to NuclearOptical Frequency Standards / В. И. Троян [и др.] // Качество. Инновации. Образование. - 2013. - № 9. - С. 74-77 : 2 рис. - Библиогр.: с. 76 (6 назв.)

УДК

^a539.1

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
оптические стандарты частоты -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- спектрохимия -- стандарты частоты -- торий-229 -- фотоэлектронная спектроскопия -- электромагнитные ловушки -- ядерные оптические стандарты -- ядерные стандарты -- ядерный переход
Аннотация: О перспективах повышения точности стандартов времени и частоты путем разработки "ядерных часов" - стандарта частоты нового поколения на основе ядерного перехода в долгоживущее изомерное состояние ядра изотопа тория-229. Использование ядерного перехода, согласно теоретическим оценкам, позволит достичь относительной точности, что откроет широкие возможности использования нового стандарта частоты, начиная от спутниковых систем навигации и заканчивая проверкой основ теории относительности.

Доп.точки доступа:
Троян, Виктор Иванович (доктор физико-математических наук; профессор); Борисюк, Петр Викторович (кандидат физико-математических наук; доцент); Красавин, Андрей Валерьевич (кандидат физико-математических наук; доцент); Пальчиков, Виталий Геннадьевич (доктор физико-математических наук; профессор; заместитель начальника); Потешин, Сергей Станиславович (кандидат технических наук; доцент); Сысоев, Алексей Александрович (кандидат физико-математических наук; доцент); Яковлев, Валерий Петрович (доктор физико-математических наук; профессор)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Влияние температуры спекания на химическое состояние ионов в системе Ba[1-x]Sr[x]TiO[3] (x = 0.2) по данным рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии [Текст] / А. Т. Козаков [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 8. - С. 909-913. - Библиогр.: c. 913 (14 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a535.33

ББК 22.344
Рубрики: Физика
Спектроскопия
Кл.слова (ненормированные):
керамика -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгеноэлектронные спектры -- температура спекания -- химические связи
Аннотация: Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии исследовано химическое состояние ионов в образцах керамик системы Ba[1-x]Sr[x]TiO[3] (x = 0. 2), при изготовлении которых изменяли лишь один технологический параметр - температуру спекания Т[СП]. Рентгеноэлектронные спектры Ba4d, Sr3d, O1s и Ti2p обнаруживают заметную тонкую структуру уровней; энергетическое положение и интенсивность особенностей тонкой структуры закономерным образом меняются в зависимости от Т[СП].

Доп.точки доступа:
Козаков, А. Т.; Гуглев, К. А.; Никольский, А. В.; Садыков, Х. А.; Вербенко, И. А.; Павленко, А. В.; Резниченко, Л. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

РФЭС-исследование Ni-, Cu-содержащих оксидных покрытий на алюминии [Текст] / Е. А. Коблова [и др.] // Вестник Дальневосточного отделения РАН. - 2015. - № 4. - С. 39-44 : 1 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 44 (9 назв.). - Примеч. в сносках. - полный текст статьи см. на сайте Научной электронной библиотеки http://elibrary.ru

УДК

^a544.47

ББК 24.544
Рубрики: Химия
Катализ
Кл.слова (ненормированные):
никель -- медь -- плазменное электролитическое оксидирование -- ПЭО -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- РФЭС -- металлооксидные катализаторы -- атомный состав -- химическое состояние -- строение поверхности
Аннотация: С использованием метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучены металлооксидные покрытия, сформированные методом плазменно-электролитического оксидирования на алюминии марки А7.

Доп.точки доступа:
Коблова, Елена Александровна (аспирант); Устинов, Александр Юрьевич (доктор физико-математических наук); Руднев, Владимир Сергеевич (доктор химических наук); Черных, Ирина Валерьевна (младший научный сотрудник); Лукиянчук, Ирина Викторовна (кандидат химических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-14

Тематический навигатор

Статистика за 27.08.2024
Число запросов	86620
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)