Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (3)

БД "Статьи" (106)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=распыление<.>)

Общее количество найденных документов : 67
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Соколов, Ю. В.
Получение электродуговым методом большого количества сажи, содержащей фуллерены и нанотрубки [Текст] / Ю. В. Соколов // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 5. - С. 58-60 . - ISSN 0015-3214

УДК

^a620.1/.2

^a621.382

ББК 30.3 + 32.852
Рубрики: Техника
   Материаловедение
   Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
электродуговое получение сажи -- нанотрубки -- фуллерены -- электродуговые установки -- углеродные депозиты -- углеродные осадки на катодах -- распыление графита в электрической дуге
Аннотация: Предложен метод эффективного удаления углерода, осаждающегося на катоде при электродуговом получении сажи, содержащей фуллерены и нанотрубки, что позволяет повысить продуктивность процесса до 1 кг/ ч.

Найти похожие

Молекулярное распыление фуллерита низкоэнергетичными ионами висмута [Текст] / А. Н. Дроздов [и др. ] // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып. 5. - С. 1034-1038. - Библиогр.: с. 1038 (24 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
молекулярное распыление -- фуллериты -- низкоэнергетичные ионы висмута -- ионная бомбардировка -- пленочная мишень фуллерита
Аннотация: Экспериментально исследовано взаимодействие низкоэнергетичных ионов висмута с поверхностью фуллерита в интервалах энергии ионов 50-200 Oe и температуры мишени 100-200 градусов Цельсия. На основании изучения структуры конденсатов, сформированных из потока вещества эродирующей мишени, установлено, что испускаемый поток состоит из молекул C[60] и атомов висмута. Процесс эрозии фуллерита объясняется суперпозицией трех основных процессов, доминирующих в различных температурных интервалах: термического испарения, радиационно-ускоренной сублимации и физического молекулярного распыления.

Доп.точки доступа:
Дроздов, А. Н.; Вус, А. С.; Пуха, В. Е.; Зубарев, Е. Н.; Пугачев, А. Т.

Найти похожие

Витязь, П. А.
Фуллеренсодержащие материалы и функциональные элементы на их основе [Текст] / П. А. Витязь, Э. М. Шпилевский // Нанотехнологии. - 2009. - N 2. - С. 12-16. - Библиогр.: с. 15-16 (26 назв. )

УДК

^a620.1/.2

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
фуллерены -- функциональные элементы -- электродуговые технологии -- термическое распыление -- конструирование материалов -- гальванический метод -- метод пропитки
Аннотация: В данной работе проанализированы результаты исследований фуллеренов и способы их получения.

Доп.точки доступа:
Шпилевский, Э. М.

Найти похожие

Исследование оптических свойств аморфного углерода, модифицированного платиной [Текст] / А. Д. Ременюк [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 7. - С. 947-952 : ил. - Библиогр.: с. 951 (32 назв. ) . - ISSN 0015-3222

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Проводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
аморфный углерод -- магнетронное распыление -- оптические свойства -- эллипсометрия -- инфракрасное поглощение -- рамановское рассеяние -- кластеры платины
Аннотация: Исследованы пленки аморфного углерода (alpha) -C и пленки модифицированного платиной композита на его основе (alpha) -C-Pt, полученные методом магнетронного распыления в широком диапазоне толщин и концентраций модифицирующей платины, изготовленные при сохранении оптимального для каталитической активности (alpha) -C-Pt режима. Для исследования использованы методы эллипсометрии, инфракрасной и рамановской спектроскопии. На основании анализа спектров показано, что кластеры платины встраиваются в систему графеновых плоскостей аморфного углерода без существенной перестройки самой углеродной структуры, а увеличение количества модифицирующей платины в составе пленки (alpha) -C-Pt приводит к уменьшению размеров графеновых кластеров.

Доп.точки доступа:
Ременюк, А. Д.; Звонарева, Т. К.; Захарова, И. Б.; Толмачев, В. А.; Беляков, Л. В.; Перова, Т. С.

Найти похожие

Термо- и радиационно стабильные контакты к SiC на основе квазиаморфных пленок ZrB[2] [Текст] / А. Е. Беляев [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып. 6. - С. 755-758 : ил. - Библиогр.: с. 758 (15 назв. ) . - ISSN 0015-3222

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Проводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
контакты -- радиационная стабильность -- термическая стабильность -- вольт-яркостные характеристики -- ВЯХ -- барьеры Шоттки -- Шоттки барьеры -- вольт-фарадные характеристики -- ВФХ -- пленки -- магнетронное распыление -- монокристаллы -- термический отжиг -- оже-анализы -- ZrB[2]
Аннотация: Методами вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в сочетании с послойным оже-анализом исследовались радиационная и термическая стабильность структур с барьером Шоттки, изготовленных магнетронным распылением диборида циркония на поверхность (0001) монокристаллов n-6H (15R) SiC, выращенных методом Лели, с концентрацией нескомпенсированых доноров ~10{18}см{-3}. Показано, что использование квазиаморфных пленок ZrB[2] при изготовлении контактов на n-6H (15R) SiC не приводит к изменениям характеристик барьеров Шоттки при быстрых термических отжигах до 800oC в диапазоне доз облучения gamma-квантами {60}Co10{3}-10{7} Гр.

Доп.точки доступа:
Беляев, А. Е.; Болтовец, Н. С.; Иванов, В. Н.; Капитанчук, Л. М.; Конакова, Р. В.; Кудрик, Я. Я.; Миленин, В. В.

Найти похожие

Наноструктурные и морфологические свойства пленок SrTiO3 [Текст] / А. А. Агасиев [и др. ] // Нано- и микросистемная техника. - 2010. - N 4. - С. 36-38. - Библиогр.: с. 38 (11 назв. ) . - ISSN 1813-8586

УДК

^a548/549

ББК 26.303
Рубрики: Геология
Минералогия
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- магнетронное распыление -- морфология поверхности -- микроэлектроника -- сегнетоэлектрические пленки -- титанат стронция
Аннотация: Магнетронным распылением получены пленки титаната стронция. Рассмотрена морфология и структура пленок. Определены средние размеры (`1... 2 нм) псевдозерен, которые хорошо согласуются с размерами областей когерентного рассеяния. Оценены межатомные расстояния Ti-O, Sr-O, O-O в неупорядоченных и поликристаллических слоях. С помощью атомно-силового и сканирующего туннельного микроскопов исследована поверхность пленки.

Доп.точки доступа:
Агасиев, А. А.; Ахундов, Ч. Г.; Мамедов, М. З.; Сармасов, С. Н.; Мамедов, Г. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Особенности применения спектрометрии тлеющего разряда для проведения количественного послойного анализа тонких покрытий [Текст] / Г. С. Спрыгин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т.76, N 4. - С. 27-34. - Библиогр.: с. 34 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a543.63

ББК 24.45
Рубрики: Химия
Анализ органических веществ
Кл.слова (ненормированные):
спектрометрия тлеющего разряда -- количественный анализ -- послойный анализ -- тонкие покрытия -- тлеющий разряд -- атомно-эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда -- АЭСТР -- ионное распыление -- эффект кратера -- снижение шума -- фотометрический метод измерения -- метрологические характеристики -- измерение толщины покрытий
Аннотация: Рассмотрены особенности применения спектрометрии тлеющего разряда для проведения количественного послойного анализа тонких покрытий на сталях. Рассмотрены основные области применения спектрометрии тлеющего разряда.

Доп.точки доступа:
Спрыгин, Г. С.; Григорович, К. В.; Шитов, Б. А.; Власова, В. И.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Магнетронное осаждение тонких пленок твердого раствора (SiC) [1-x] (AlN) [x] [Текст] / М. К. Гусейнов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 6. - С. 841-844. : ил. - Библиогр.: с. 844 (5 назв. )

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
твердые растворы -- карбид кремния -- SiC -- нитрид алюминия -- AlN -- тонкие пленки -- магнетронное осаждение -- магнетронное распыление -- МР -- метод магнетронного распыления -- поликристаллические мишени -- подложки -- рентгенография -- метод рентгенографии -- электронная микроскопия -- метод электронной микроскопии -- монокристаллические пленки
Аннотация: Приведены результаты теоретической оценки таких важных параметров процесса магнетронного распыления, как протяженность зоны термализации атомов и расстояние от мишени до условного анода. Методом магнетронного распыления поликристаллических мишеней SiC-AlN на подложках SiC и Al[2]O[3] получены тонкие пленки твердого раствора (SiC) [1-x] (AlN) [x]. Методами рентгенографии и электронной микроскопии проведены исследования структуры, состава пленок. Установлены факторы, определяющие состав и структуру пленок, а также условия формирования монокристаллических пленок (SiC) [1-x] (AlN) [x] на подложках SiC.

Доп.точки доступа:
Гусейнов, М. К.; Курбанов, М. К.; Билалов, Б. А.; Сафаралиев, Г. К.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Барьеры на p-кремнии типа металл-диэлектрик-полупроводник с нанотолщинным диэлектриком из нитрида алюминия [Текст] / А. М. Иванов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып. 8. - С. 1064-1067. : ил. - Библиогр.: с. 1067 (5 назв. )

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
барьеры Шоттки -- Шоттки барьеры -- p-кремний -- металл-диэлектрик-полупроводник -- МДП -- диэлектрики -- нанотолщинные диэлектрики -- нитрид алюминия -- границы раздела -- ГР -- поверхностные состояния -- магнетронное распыление -- детекторы -- ядерные излучения
Аннотация: Анализируется состояние поверхности границы раздела p-кремний- (нанотолщинный диэлектрик). Исследуются спектры DLTS в режимах перезарядки глубоких центров в объеме структуры, а также ее поверхностных состояний. Определен характер шумов в функции величины обратного напряжения в плане применения структуры в качестве детектора ядерных излучений. Сделано заключение, что используемый в структуре барьер обладает более высоким качеством при нанесении нанотолщинных пленок нитрида алюминия путем магнетронного распыления на постоянном, а не переменном токе.

Доп.точки доступа:
Иванов, А. М.; Котина, И. М.; Ласаков, М. С.; Строкан, Н. Б.; Тухконен, Л. М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Кальцийфосфатные покрытия, созданные методом ВЧ-магнетронного распыления гидроксиапатита: остеогенный потенциал in vitro и in vivo [Текст] / М. А. Сурменева [и др. ] // Известия Томского политехнического университета. - 2010. - Т. 317, N 2 : Математика и механика : Физика. - С. 101-106. : ил. - Библиогр.: с. 106 (15 назв. )

УДК

^a533.9

ББК 22.333
Рубрики: Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
кальцийфосфатные покрытия -- гидроксиапатит -- остеогенные свойства покрытий -- остеоинтеграция -- ВЧ-магнетронное распыление -- морфология поверхности -- фазовый состав -- элементный состав -- электронная микроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- инфракрасная спектроскопия -- метод эктопического костеобразования -- биоактивность -- биосовместимость -- стволовые клетки -- костный мозг
Аннотация: Покрытия на основе стехиометрического гидроксиапатита были получены методом ВЧ-магнетронного распыления. Морфология поверхности, фазовый и элементный состав покрытий исследованы методами сканирующей электронной микроскопии, энергодисперсионного рентгеновского анализа, инфракрасной спектроскопии. Элементный состав покрытий определяется составом мишени для распыления. Распределение элементов по поверхности покрытия равномерное. Остеогенные свойства покрытий исследованы методом эктопического костеобразования. Полученные покрытия, обладают биосовместимостью без проявления остеоиндуцирующей активности. Структурирование поверхности значительно увеличивает in vivo влияние кальцийфосфатных магнетронных покрытий на остеогенную активность стромальных стволовых клеток костного мозга.

Доп.точки доступа:
Сурменева, М. А.; Сурменев, Р. А.; Хлусов, И. А.; Пичугин, В. Ф.; Конищев, М. Е.; Эппле, М.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	92481
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)