Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=нанокомпозитные пленки германия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Оценка качества однокомпонентных нанокомпозитных полупроводниковых пленок на примере Ge [Текст] / Д. В. Сурнин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 27-30. - Библиогр.: с. 30 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.37 + 24.46/48
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

   Химия

   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
однокомпонентные полупроводниковые пленки -- полупроводниковые пленки -- нанокомпозитные полупроводниковые пленки -- пленки -- гелий -- оценка качества полупроводниковых пленок -- рентгеноспектральный структурный анализ -- структурный анализ -- EXAFS-спектроскопия -- электронная спектроскопия -- спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- атомная силовая микроскопия -- микроскопия -- нанокомпозиты -- комплексные методы оценки качества -- нанокомпозитные пленки германия -- пленки германия
Аннотация: Предложен комплексный метод оценки качества однокомпонентных нанокомпозитных пленок.


Доп.точки доступа:
Сурнин, Д. В.; Валеев, Р. Г.; Ветошкин, В. М.; Карбань, О. В.; Гильмутдинов, Ф. З.; Деев, А. Н.

Найти похожие

 
Статистика
за 18.08.2024
Число запросов 18436
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)